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公开(公告)号:CN114442974B
公开(公告)日:2025-04-15
申请号:CN202111008081.6
申请日:2021-08-31
Applicant: 株式会社东芝
Abstract: 本发明涉及参数最优化装置、方法及系统。本发明要解决的课题是提供能够高效地搜索最优参数值的参数最优化装置、方法及系统。参数最优化装置具有存储部、搜索空间决定部、第1获取部及参数搜索部。存储部存储包含第1维数的第1参数值和与第1参数值对应的目标函数的观测值的多个数据集。搜索空间决定部决定包含预定的第1参数值的比第1维数小的第2维数的搜索空间。第1获取部基于多个数据集获取具有从搜索空间起的预定距离中包含的第1参数值的一个以上的数据集或具有与该数据集对应的第2参数值的数据集。参数搜索部使用基于获取到的一个以上的数据集的目标函数的代理模型,在搜索空间内搜索能够最优化目标函数的第1参数值或第2参数值。
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公开(公告)号:CN101388977B
公开(公告)日:2011-06-15
申请号:CN200810212352.8
申请日:2008-09-09
Applicant: 株式会社东芝
CPC classification number: G06T3/4007
Abstract: 本发明提供的图像处理设备,根据参考帧中的像素值通过插值计算假定高分辨率图像的各像素的估算的像素值,根据各像素的像素值将参考帧的内部分割成边缘区域,纹理区域,或平坦区域及其他,根据包含目标像素的分割区域的信息,在参考帧中逐个按序设置各像素作为目标像素,并以小数的像素精度计算假定高分辨率图像上对应的位置,修正各估计的像素值,使得在目标像素的像素值与目标像素的像素值和由目标像素的对应位置周围的像素的假定高分辨率图像的估计的像素值获得的目标像素的假定估计的像素值之间的差分变得更小,并获得修正的像素值。
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公开(公告)号:CN101388977A
公开(公告)日:2009-03-18
申请号:CN200810212352.8
申请日:2008-09-09
Applicant: 株式会社东芝
CPC classification number: G06T3/4007
Abstract: 本发明提供的图像处理设备,根据参考帧中的像素值通过插值计算假定高分辨率图像的各像素的估算的像素值,根据各像素的像素值将参考帧的内部分割成边缘区域,纹理区域,或平坦区域及其他,根据包含目标像素的分割区域的信息,在参考帧中逐个按序设置各像素作为目标像素,并以小数的像素精度计算假定高分辨率图像上对应的位置,修正各估计的像素值,使得在目标像素的像素值与目标像素的像素值和由目标像素的对应位置周围的像素的假定高分辨率图像的估计的像素值获得的目标像素的假定估计的像素值之间的差分变得更小,并获得修正的像素值。
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公开(公告)号:CN101163224A
公开(公告)日:2008-04-16
申请号:CN200710181901.5
申请日:2007-10-10
Applicant: 株式会社东芝
CPC classification number: H04N7/0125 , G06T3/4069
Abstract: 一种超分辨率装置和方法,包括:将图像数据中包含的多个像素中的至少一个像素设定为目标像素,该图像数据包括分布在屏幕中的多个像素和代表像素亮度的像素值,设定包括目标像素及其周边像素的区域作为目标区域,设定用于在目标像素区域中搜索像素值变化样式的区域;计算第一变化样式和第二变化样式之间的差值;比较第一和第二变化样式之间的差值;根据十进制精度向量、外插向量以及从图像数据获得的像素值,计算像素数目大于图像数据中所包括像素数目的超分辨率图像的像素值。
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公开(公告)号:CN1735206A
公开(公告)日:2006-02-15
申请号:CN200510088486.X
申请日:2005-08-02
Applicant: 株式会社东芝
CPC classification number: G06F17/30014 , G06F17/30855
Abstract: 在元数据引用网络上的相关内容的情况下,由于网络上的相关内容不一定能被永久地保留,因此,最好应该设置进行引用的时间限制。此外,为了提供可以只在有限时段内引用以便进行促销的相关内容,或者为了提供可以只在有限时段内引用(例如,每年的圣诞节)以便提高元数据的趣味性的相关内容,最好可以设置相关内容的参考时间限制。然后,为了设置访问单元的有效时间限制,在每一个访问单元中描述了指定有效时间限制的标志和有效时间限制。
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公开(公告)号:CN115411094A
公开(公告)日:2022-11-29
申请号:CN202210137348.X
申请日:2022-02-15
Applicant: 株式会社东芝
Abstract: 实施方式的半导体装置具有:第一电极;第二电极;包含第一半导体区域、第二半导体区域以及第三半导体区域在内的半导体层;第三电极;第一绝缘区域;第二绝缘区域;第四电极,具有包含第一部分、第二部分以及第三部分在内的在第一方向上连续的多个部分,第一部分的第二方向上的宽度为第一宽度,第二部分在第一方向上位于比所述第一部分靠所述第二电极侧,所述第二方向上的宽度为比所述第一宽度小的第二宽度,第三部分与所述第二部分邻接,在所述第一方向上位于比所述第二部分靠所述第二电极侧,所述第二方向上的宽度为比所述第二宽度大的第三宽度;以及第三绝缘区域。
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公开(公告)号:CN114595653A
公开(公告)日:2022-06-07
申请号:CN202110985646.X
申请日:2021-08-26
Applicant: 株式会社东芝
IPC: G06F30/36
Abstract: 本发明提供一种能够支援半导体元件的设计的设计支援方法、设计支援系统、程序以及存储介质。在实施方式的设计方法中,向模拟器输入包括与半导体元件相关的多个设计值的设计值组。在设计方法中,获取对应于设计值组的输入而从模拟器输出的特性值组。特性值组包括半导体元件的多个特性值。多个特性值包括表示导通电阻的第1特性值和表示耐压的第2特性值。在设计方法中,根据包括1个以上的数据集合的历史数据计算基于贝叶斯估计的获取函数,所述数据集合是所述设计值组和通过向第1函数输入所述特性值组的一部分而计算出的评分的数据集合。特性值组的一部分包括第1特性值和第2特性值。在设计方法中,基于获取函数生成新的设计值组。
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公开(公告)号:CN113017669A
公开(公告)日:2021-06-25
申请号:CN202110218631.0
申请日:2017-11-21
Applicant: 株式会社东芝 , 东芝能源系统株式会社
Abstract: 一种医学图像处理装置,包括:第一输入接口,其被配置为采集被提供有至少一个标记物的对象的三维体积图像,所述三维体积图像是通过使用医学检查装置对所述对象进行成像而生成的;第二输入接口,其被配置为采集用于对所述对象进行成像以生成所述对象的荧光透视图像的成像装置的几何信息;以及特定设定信息生成器,其被配置为基于所述三维体积图像和所述几何信息来生成特定设定信息,所述特定设定信息用于对用于生成描绘所述至少一个标记物的图像的成像的设定或对描绘所述至少一个标记物的所述图像的图像处理的设定。
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