半导体用密封材料
    21.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109415493B

    公开(公告)日:2021-12-14

    申请号:CN201780040156.4

    申请日:2017-08-04

    Abstract: 提供一种半导体用密封材料,其能够降低半导体晶片及半导体封装、尤其是扇出型的晶片级封装(FO‑WLP)中的晶片或封装的翘曲。一种半导体用密封材料,其为至少包含热固性成分(A)和活性能量射线固化性成分(B)的半导体用密封材料,其特征在于,对于在不暴露于活性能量射线的环境下于150℃进行了10分钟加热处理后的半导体用密封材料,在25℃、以1J/cm2照射包含351nm波长的紫外线,此时的发热量α(J/g)满足1≤α(J/g)。

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