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公开(公告)号：CN109253867A
公开(公告)日：2019-01-22
申请号：CN201811130587.2
申请日：2018-09-27
Applicant: 北京空间机电研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种光学系统焦距测量系统及方法，包括激光点照明定位模块、分光镜、点探测定位模块、标准平面镜、测角设备，激光点照明定位模块，在被测光学系统的焦点上发射激光光源，激光透过分光镜进入被测光学系统，继而形成平行光出射，平行光经标准平面镜反射回到被测光学系统汇聚形成准直光，准直光经分光镜反射形成反射自准直焦点，测角设备测量标准平面镜与被测光学系统光轴的夹角，探测定位模块对反射自准直焦点进行定位；测量标准平面镜与测光学系统光轴的夹角变化Δθ对应的反射自准直焦点的位置变化Δy，根据像高与焦距关系，计算得到被测光学系统的焦距。该方法焦点定位准确，适用于空间光学遥感器的大口径长焦距光学镜头的装调、检测。
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公开(公告)号：CN108426701A
公开(公告)日：2018-08-21
申请号：CN201711445482.1
申请日：2017-12-27
Applicant: 北京空间机电研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 一种CCD器件不连续的星相机内方位元素测试方法及系统，能够给出采用焦面CCD器件不连续拼接方式的星相机内方位元素结果，同时给出焦面处两片CCD器件之间的距离和倾斜量相对于设计值的偏差。将被测相机和内方位元素测试仪光轴对齐，测试仪焦面处用光源照明，被测星相机采集图像。选用焦距、视场角大于被测星相机的平行光管及相应网格板组成测试设备，网格板放置在平行光管的焦面位置处，网格板上均匀分布标记点。对采集的网格板图像利用解算算法进行解算，得到星相机内方位元素和两CCD器件的偏移量和倾斜量。
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公开(公告)号：CN108132042A
公开(公告)日：2018-06-08
申请号：CN201711311554.3
申请日：2017-12-11
Applicant: 北京空间机电研究所
IPC: G01C1/02
Abstract: 本发明公开了一种共轴反射式系统装调过程中高精度测角方法，用于检测空间遥感器次镜相对于空间遥感器主镜的角度变化，包括如下步骤：在待测空间遥感器的主镜和次镜上分别安装平面反射镜；将待测空间遥感器置于干涉仪前，启动干涉仪进行调试；调节待测空间遥感器的角度；架设经纬仪；利用经纬仪进行测量并记录数据；根据数据计算次镜法线与主镜法线的夹角。本发明通过引入干涉仪辅助进行角度测量，实现了在提升角度测量精度的前提下同时确保测量范围，弥补了传统高精度角度测量方法测量精度不够或者精度提升后角度测量范围不够的缺陷。
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公开(公告)号：CN107843949B
公开(公告)日：2020-08-14
申请号：CN201711156409.2
申请日：2017-11-20
Applicant: 北京空间机电研究所
IPC: G02B5/20
Abstract: 一种高精度定位带有误差补偿的超精密滤光片，涉及航天光学遥感器技术领域；包括B1谱段带通膜区、B2谱段带通膜区、B3谱段带通膜区、B4谱段带通膜区、P谱段带通膜区、基板和十字方框标识；其中，基板为矩形板状结构；B1谱段带通膜区、B2谱段带通膜区、B3谱段带通膜区、B4谱段带通膜区和P谱段带通膜区水平安装在基板的中部；且B1谱段带通膜区、B2谱段带通膜区、B3谱段带通膜区、B4谱段带通膜区和P谱段带通膜区从上至下依次排列；每个膜区的两端均对称设置有十字方框标识；本发明实现将用户不断变化的多光谱谱段转化到现有可获得的探测器谱段实现总体指标要求，具有精度高、装调简单、通用性强等优点。
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公开(公告)号：CN108426701B
公开(公告)日：2020-02-14
申请号：CN201711445482.1
申请日：2017-12-27
Applicant: 北京空间机电研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 一种CCD器件不连续的星相机内方位元素测试方法及系统，能够给出采用焦面CCD器件不连续拼接方式的星相机内方位元素结果，同时给出焦面处两片CCD器件之间的距离和倾斜量相对于设计值的偏差。将被测相机和内方位元素测试仪光轴对齐，测试仪焦面处用光源照明，被测星相机采集图像。选用焦距、视场角大于被测星相机的平行光管及相应网格板组成测试设备，网格板放置在平行光管的焦面位置处，网格板上均匀分布标记点。对采集的网格板图像利用解算算法进行解算，得到星相机内方位元素和两CCD器件的偏移量和倾斜量。
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公开(公告)号：CN107884763B
公开(公告)日：2019-11-12
申请号：CN201710940186.2
申请日：2017-10-11
Applicant: 北京空间机电研究所
IPC: G01S7/497
Abstract: 本发明公开了一种基于角镜和电动双光楔的光轴标校方法及装置，使用同侧横向迁移角镜将激光测距仪发射的激光束折转至与入射方向相反，利用电动双光楔接收折转后的激光束并用其扫描激光测距仪内部接收系统的探测器，根据电动双光楔转动角度和接收系统内的单像元探测器测得的能量值拟合得出激光发射机光轴和接收系统视轴的偏差，该光轴标校装置包括衰减装置，同侧横向迁移角镜，电动双光楔，数据采集系统及遮光筒，可实现热真空等特殊环境下光轴的高精度标校。
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公开(公告)号：CN109186759A
公开(公告)日：2019-01-11
申请号：CN201811091899.7
申请日：2018-09-19
Applicant: 北京空间机电研究所
IPC: G01J3/02
Abstract: 本发明公开了一种高精度光栅光谱仪像质测量方法和装置，其中所述装置包括：一个经过积分球匀化的单色光源，一个带有狭缝靶标的平行光管，一个被测成像光谱仪和一个数据处理系统。狭缝靶标由微动位移台控制可沿垂直于被测光谱仪狭缝方向平移，被测光谱仪可接收该单色光源经过狭缝靶标的信号。通过分析计算光谱仪上某一组像元光强变化和狭缝移动量的关系得到光谱仪的线扩散函数，去除狭缝靶标宽度对测试结果的影响，经过傅里叶变换解算出系统光谱方向的MTF。通过将物狭缝旋转90度扫描，可以测试空间方向的MTF。此种方法解决了成像光谱仪光谱方向的传递函数无法测试的问题，实现了成像光谱仪像质的精确测试。
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