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公开(公告)号：CN112422122B
公开(公告)日：2022-01-14
申请号：CN202011219344.3
申请日：2020-11-04
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国网浙江省电力有限公司 , 国家电网有限公司
IPC: H03L7/099
Abstract: 本发明提供一种反馈调节型振荡器，属于集成电路技术领域。所述振荡器包括：电流源电路，用于输出三路偏置电流；充放电电路，用于根据所述第一路偏置电流进行充放电，并将对应产生的频率信号转变为电压信号并输出；运放电路，用于响应于所述第二路偏置电流开始工作，以将所述电压信号进行放大并输出；电流控制振荡器，用于根据所述第三路偏置电流，将放大后的电压信号转变成电流信号，再将该电流信号转变为频率形式的时钟信号并输出；以及数字逻辑电路，用于将所述时钟信号转变成时钟控制信号并输出以及将所述时钟控制信号反馈给所述充放电电路及电流源电路。本发明可以满足低压、低功耗、高精度特性中的任意一者或多者的要求。
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公开(公告)号：CN110289891B
公开(公告)日：2021-07-20
申请号：CN201910602610.1
申请日：2019-07-05
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司
Abstract: 本发明公开了一种身份识别标签芯片时钟频率的无线测试方法，包括：读写器通过读写天线向待测标签发送TRcal连续变化的query命令进行测试；读写器通过读写天线收集待测标签返回的多个信号，计算多个信号的频率均值BLF_test，并记录每次测试得到的DR、TRcal及BLF_test三个数组的值，且每个数组的长度等于测试的次数count；列函数关系式一：BLF_test＝f(TRcal，DR，CLK1，CLK2，…CLKi…，CLKn)，且次数count＞n，其中CLK1‑CLKn为时钟内部的时钟频率。借此，本发明的身份识别标签芯片时钟频率的无线测试方法，成本低，测试结果更加准确。
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公开(公告)号：CN111736911B
公开(公告)日：2021-01-22
申请号：CN202010775733.8
申请日：2020-08-05
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司 , 国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院
IPC: G06F9/4401
Abstract: 本发明涉及集成电路芯片领域，公开一种嵌入式芯片的验证方法与引导加载方法。该嵌入式芯片被配置有：用于存储第一流程标识的第一一次性可编程存储器、用于存储第二流程标识及与用于验证该嵌入式芯片的验证流程相关的配置数据的第二一次性可编程存储器。该验证方法包括：判断所述第一一次性可编程存储器内的流程标识的类型；在所述第一一次性可编程存储器内的流程标识为快速分支标识的情况下，对所述第二一次性可编程存储器执行初始化；将所述嵌入式芯片切换到测试下载模式；及基于所述第二一次性可编程存储器内的配置数据与验证流程，对所述嵌入式芯片执行验证过程。本发明可跳过芯片的安全自检阶段并快速进入验证过程，从而增加芯片的可测试性。
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公开(公告)号：CN111736911A
公开(公告)日：2020-10-02
申请号：CN202010775733.8
申请日：2020-08-05
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司 , 国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院
IPC: G06F9/4401
Abstract: 本发明涉及集成电路芯片领域，公开一种嵌入式芯片的验证方法与引导加载方法。该嵌入式芯片被配置有：用于存储第一流程标识的第一一次性可编程存储器、用于存储第二流程标识及与用于验证该嵌入式芯片的验证流程相关的配置数据的第二一次性可编程存储器。该验证方法包括：判断所述第一一次性可编程存储器内的流程标识的类型；在所述第一一次性可编程存储器内的流程标识为快速分支标识的情况下，对所述第二一次性可编程存储器执行初始化；将所述嵌入式芯片切换到测试下载模式；及基于所述第二一次性可编程存储器内的配置数据与验证流程，对所述嵌入式芯片执行验证过程。本发明可跳过芯片的安全自检阶段并快速进入验证过程，从而增加芯片的可测试性。
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公开(公告)号：CN111196532A
公开(公告)日：2020-05-26
申请号：CN202010044052.4
申请日：2020-01-15
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司 , 国网宁夏电力有限公司电力科学研究院
IPC: B65H75/02
Abstract: 本发明涉及电子设备测试领域，公开了一种导线收纳装置，其中，所述导线收纳装置包括：能够在支撑面上移动的底盘部(10)；连接于所述底盘部(10)并向上延伸的支撑杆部(20)；连接于所述支撑杆部(20)上端的收纳架(30)，所述收纳架(30)设置有具有开口的、用于卡装和悬挂测试导线的卡槽(35)。通过上述技术方案，导线收纳装置便于灵活地移动，随时随地地为用户提供导线收纳服务，并且可以将导线悬挂起来，防止导线彼此缠绕在一起，实现测试导线的快速收取，并可实现测试导线的规整存放，极易查找和使用，减少了不必要时间的浪费，提高了在测试和研究工作中的效率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110119640A
公开(公告)日：2019-08-13
申请号：CN201910427488.9
申请日：2019-05-22
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院 , 国家电网有限公司
IPC: G06F21/75
Abstract: 本发明公开了一种双轨预充电逻辑单元及其预充电方法，该双轨预充电逻辑单元对现有的双轨预充电逻辑单元中的单轨LBDL逻辑与门以及单轨LBDL逻辑非门分别进行了改进，改进后的该双轨预充电逻辑单元共包括N1～N12，P1～P12，I1～I2共28个晶体管，相比于现有的双轨预充电逻辑单元本发明采用了更少的晶体管、占用更少的版图面积，同时保证了逻辑单元的抗DPA攻击能力。
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公开(公告)号：CN114244397B
公开(公告)日：2022-05-10
申请号：CN202210174181.4
申请日：2022-02-25
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国家电网有限公司
Abstract: 本发明公开了一种跳频通信装置、方法、芯片、发射机及存储介质，其中装置包括：伪随机序列发生模块，用于生成伪随机跳频序列，伪随机跳频序列在发射机与接收机之间保持同步；真实随机序列发生模块，用于生成真实随机跳频序列；序列选择决策模块，用于在伪随机跳频序列中插入真实随机跳频序列以生成目标跳频序列；发射模块，用于根据目标跳频序列发射数据。由此，通过在伪随机跳频序列中插入真实随机跳频序列能够有效提高数据通信的安全性，适用于对安全性和可靠性要求较高的通信场合。
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公开(公告)号：CN114301449A
公开(公告)日：2022-04-08
申请号：CN202111407381.1
申请日：2021-11-24
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国网浙江省电力有限公司 , 国家电网有限公司
IPC: H03K23/64
Abstract: 本发明实施例提供一种小数分频方法、系统及芯片，属于分频技术领域，解决了现有技术中分频时钟的间隔分布不够均匀以及无效功耗的问题。所述系统包括：整数分频计数器用于向小数分频计数器提供整数计数溢出信号；小数分频计数器用于当接收到整数计数溢出信号时，开始进行计数，并向分频调节器提供小数计数值；分频配置模块用于向分频调节器提供小数分频模式与小数分频配置值；分频调节器用于根据小数分频模式、小数分频配置值以及小数计数值，得到调节位指示信号，并将其提供至整数分频计数器；整数分频计数器用于根据调节位指示信号，确定下一次的分频值，并输出分频后的时钟。本发明实施例适用于纯数字电路的小数分频过程中。
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公开(公告)号：CN108737073B
公开(公告)日：2021-09-28
申请号：CN201810653301.2
申请日：2018-06-22
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司 , 国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院
Abstract: 本发明公开了一种分组加密运算中抵抗能量分析攻击的方法和装置，所述方法包括生成伪加密运算，所述伪加密运算采用伪密钥进行加密；将真实加密运算与伪加密运算组合，构成基本加密运算单元；生成伪加密运算单元，所述伪加密运算单元中仅包括伪加密运算；将基本加密运算单元与伪加密运算单元组合，执行加密运算。与现有技术相比，本发明所公开的分组加密运算在每轮运算间均随机插入了伪加密运算，以保证敏感信息被噪声掩盖，同时基于每轮运算间插入伪运算后的基本运算单元，循环调用这样的运算单元且输入数据为随机数，可以进一步增加噪声，有效抵抗侧信道能量分析攻击。
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公开(公告)号：CN111222182A
公开(公告)日：2020-06-02
申请号：CN202010060606.X
申请日：2020-01-19
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司 , 国网宁夏电力有限公司电力科学研究院
IPC: G06F21/71
Abstract: 本发明提供一种芯片测试转接装置及芯片测试设备，属于芯片测试领域，芯片测试转接装置包括：转接板，与芯片测试设备通信连接；以及测试板，与转接板通信连接，且包括若干个芯片连接部，每一芯片连接部用于对不同封装形式的待测芯片进行芯片正面固定和芯片背面固定；并且，测试板与转接板之间的通信连接使得芯片测试设备能够对待测芯片分别进行正面攻击测试和背面攻击测试。本发明将分别适用于多种封装形式的多个芯片连接部集成至一个测试板上，芯片连接部能够对芯片进行正面固定和背面固定，以实现芯片测试设备对待测芯片分别进行正面攻击测试和背面攻击测试，缩短了芯片测试过程中故障注入攻击测试的测试平台搭建时间，有效提升了工作效率。
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