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公开(公告)号：CN113985131A
公开(公告)日：2022-01-28
申请号：CN202111080770.8
申请日：2021-09-15
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R27/02
Abstract: 本申请公开了一种用于石英晶体谐振器绝缘电阻测试方法及装置，方法包括将石英晶体谐振器绝缘电阻测试装置通过接口同绝缘电阻测试仪、直流稳压电源和计算机连接好，将测试适配器安装在石英晶体谐振器绝缘电阻测试装置中的测试适配座上，然后将待测试石英晶体谐振器引线安放在测试适配器的定位孔里；启动绝缘电阻测试软件中的开始测试命令，绝缘电阻测试软件的测试程序控制石英晶体谐振器绝缘电阻测试装置切换选择，将待测试石英晶体谐振器的测试引线分别电性接入绝缘电阻测试仪，然后计算机从绝缘电阻测试仪读取绝缘电阻阻值，直到将产品测试完成。本申请具有测试无损伤、操作快捷方便、测试效率高等特点和优势。
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公开(公告)号：CN107991561B
公开(公告)日：2021-08-17
申请号：CN201711226436.2
申请日：2017-11-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开了一种用于石英晶体谐振器的老化性能测试装置及方法；所述用于石英晶体谐振器的老化性能测试装置包括底端开口的壳体；位于所述壳体底端的输出转接基座；位于所述壳体内且与所述输出转接基座结合固定的信号处理及调试功能通用底板；及位于所述壳体内且位于所述信号处理及调试功能通用底板上方的振荡及加热控温功能适配插板。所述老化性能测试方法包括将石英晶体谐振器插接在振荡及加热控温功能适配插板上；将振荡及加热控温功能适配插板插接在信号处理及调试功能通用底板上；将插装完成的老化性能测试装置装入老化测试系统中并加电调试；进行老化性能测试；卸载石英晶体谐振器。本发明解决了现有方法破坏产品形貌、产品适配性差等问题。
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公开(公告)号：CN112787617A
公开(公告)日：2021-05-11
申请号：CN202011588805.4
申请日：2020-12-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: H03H9/05
Abstract: 本申请实施例提供一种用于超小型表贴晶体振荡器的基座夹持承载夹具。该夹具可以对散料基座实现可靠紧固夹持及承载并形成适配的加工阵列，从而实现对其内部安装的集成电路芯片进行高效、良好的批量自动引线键合加工。键合工程中，基座可良好的固定在该载盘上，无脱位现象，焊盘定位精度高误差小，批量自动加工速度快，键合加工合格率和效率高。解决了原有技术存在的散料基座安装的芯片只能采用手工拾取、单只逐个进行引线键合加工的方式，从而导致的工艺稳定性和重复性较差，芯片键合质量一致性较差，键合强度散差较大，合格率较低等问题。
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公开(公告)号：CN112698172A
公开(公告)日：2021-04-23
申请号：CN202011359773.0
申请日：2020-11-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明公开一种电老炼实现装置和方法，解决现有装置和方法对产品进行间歇式电信号激励及电老炼批量不足的问题。一种电老炼实现装置，用于分立式晶体滤波器，包含：晶振加电模块和滤波器测试模块；所述晶振加电模块，用于产生与待测分立式晶体滤波器中心频率相同的正弦波激励信号；所述滤波器测试模块，用于接收所述正弦波激励信号，输出滤波信号，所述滤波信号用于高温电老炼测试。所述方法使用所述装置。本发明可实现分立式晶体滤波器批量化高温电老炼测试。
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公开(公告)号：CN108857689B
公开(公告)日：2019-08-30
申请号：CN201810738698.5
申请日：2018-07-06
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: B24B9/06
Abstract: 本发明实施例提供一种精密石英晶体谐振器的倒边倒弧加工的装置，包括：加工平台；设于所述加工平台上的承载晶片的研磨盘；驱动所述研磨盘转动的驱动机构；扣压固定在所述晶片上的晶片扣，所述晶片扣包括沉孔；以及按压在所述晶片扣上的按压机构；其中，所述按压机构包括可插入所述沉孔与所述晶片扣插接固定的顶针以及驱动所述顶针转动的第一转动机构。本发明提供一种精密石英晶体谐振器的倒边倒弧加工的装置，能够保证晶片研磨曲面稳定，保证设计符合性及外形对称性。并且可调节控制支撑杆、顶针以及晶片水平面等三者之间的相互垂直及固定关系，实现了晶片在研磨过程中始终保持研磨重心不变。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109647783A
公开(公告)日：2019-04-19
申请号：CN201811589934.8
申请日：2018-12-25
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种石英晶片的清洗方法和自动清洗装置。清洗方法包括：将待清洗的所述晶片置于NPB清洗液、预热后恒温的Micro-90清洗液、去离子水、预热后恒温的双氧水、去离子水、预热后恒温的无水乙醇中分别进行第一次超声清洗、第二次超声清洗、第一次溢流、浸泡腐蚀、第二次溢流、脱水。所述自动清洗装置包括至少6个可隔离清洗槽，夹具，连接部件，夹持部件，控制系统，所述夹持部件通过所述连接部件与所述夹具可拆卸固定连接,所述夹持部件游离在所述清洗槽外部，用于带动所述夹具浸入或移出所述每个清洗槽。本申请可实现对所述晶片进行多水段洗液自动清洗，且对每个清洗步骤的时长和温度参数实现精准控制。
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公开(公告)号：CN118174675A
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202311828695.8
申请日：2023-12-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: H03H3/04
Abstract: 本发明提供一种降低表贴温补晶振老化率的方法、装置和存储介质，该方法包括：对产品进行真空离子溅射镀金电极得到镀膜产品，将预选出的导电胶均匀点至所述镀膜产品上并对点胶后的产品进行烘烤得到点胶产品，其中，所述导电胶为硅酮，离子刻蚀所述点胶产品后对其真空高温退火得到第一退火产品，对所述第一退火产品进行真空平行焊封口处理后高温退火得到第二退火产品，所述真空平行焊封口为烘焙和高真空封装，预设固定时间对所述第二退火产品高温加电得到预制产品，对所述预制产品温度补偿调试处理得到目标产品，从而逐步对产品应力释放，能够降低老化率，从而提升了老化率的要求，能够满足现代工艺要求。
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公开(公告)号：CN117097292A
公开(公告)日：2023-11-21
申请号：CN202311139496.6
申请日：2023-09-05
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明提供一种具有电性能参数测试数据存储功能的晶体振荡器，包括基座；配置于基座上的石英晶体谐振器；配置于基座上的存储芯片，用以存储电性能参数测试数据；以及与基座结合固定的盖体；所述盖体与基座形成用以容纳石英晶体谐振器和存储芯片的密闭腔体。该晶体振荡器在具有传统晶体振荡器的优良特性的同时还具有电性能参数测试数据及生产加工信息存储功能。
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公开(公告)号：CN115808551A
公开(公告)日：2023-03-17
申请号：CN202211491339.7
申请日：2022-11-25
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种谐振器电性能测试的工装夹具及对准方法，解决了现有技术中内部裸石英谐振器需事先封装试制来进行性能测试的问题。包含所述水平移位座设置在底座上表面。产品固定座，设置在水平移位座上表面。水平移位座，在底座上表面向任意方向水平移动。垂直移位组件，一端垂直设置在底座上。另一端为向水平方向弯曲自由端。垂直移位组件的自由端悬臂在垂直于底座上表面方向上下移动。探测针板，安装在垂直移位组件自由端，探测针板上的测试探针向下伸出。本申请设计精巧，实现对内部谐振器电性能进行直接测试，操作方便。同时也避免了内部石英谐振器的电联接输出点被探针按压过度受力造成损伤，实现了对产品的无损检测，保证了产品质量。
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公开(公告)号：CN112787617B
公开(公告)日：2022-08-23
申请号：CN202011588805.4
申请日：2020-12-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: H03H9/05
Abstract: 本申请实施例提供一种用于超小型表贴晶体振荡器的基座夹持承载夹具。该夹具可以对散料基座实现可靠紧固夹持及承载并形成适配的加工阵列，从而实现对其内部安装的集成电路芯片进行高效、良好的批量自动引线键合加工。键合工程中，基座可良好的固定在该载盘上，无脱位现象，焊盘定位精度高误差小，批量自动加工速度快，键合加工合格率和效率高。解决了原有技术存在的散料基座安装的芯片只能采用手工拾取、单只逐个进行引线键合加工的方式，从而导致的工艺稳定性和重复性较差，芯片键合质量一致性较差，键合强度散差较大，合格率较低等问题。
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