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公开(公告)号：CN114421920A
公开(公告)日：2022-04-29
申请号：CN202111531350.7
申请日：2021-12-15
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开一种低抖动差分晶体振荡器，包括：底座、金属盖板、石英振子和低抖动差分芯片；底座具有开口向上的凹槽；低抖动差分芯片与凹槽底部的焊盘进行电气连接，用于配合石英振子产生振荡回路，并对石英振子产生的基频振荡频率进行锁相倍频，最终输出高频差分信号；石英振子设置于低抖动差分芯片的上方，用于配合低抖动差分芯片产生振荡回路；金属盖板通过平行焊封装技术焊接到底座的顶部。本发明解决了传统差分晶振中无法满足低抖动及宽温度范围工作的问题，通过优化产品的结构和调试方法，实现差分晶振周期抖动优于30ps且在‑55℃～+125℃宽温度范围频率稳定度≤±65ppm的指标，通过小型化和集成化的设计，实现了产品的SMD5032外形尺寸。
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公开(公告)号：CN114414221A
公开(公告)日：2022-04-29
申请号：CN202111455891.6
申请日：2021-12-01
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01M13/00
Abstract: 本申请公开了一种表贴元器件加速度试验装置，包括底座、上盖，所述底座与离心试验机传动连接，上盖与底座上表面可拆卸的固定连接，还包括可移动载盘，所述可移动载盘的盘面用于放置表贴元器件，所述底座上表面开有长条形槽，用于容纳可移动载盘。使用该装置的方法为，将表贴元器件放置在可移动载盘上；将多个承载表贴元器件的可移动载盘叠在一起，最上层为未放置表贴元器件的可移动载盘；用橡皮筋固定叠在一起的可移动载盘；放入底座的长条形槽中，盘面一侧面朝底座中心。本申请能够一次对数量比现有装置增加几十倍的表贴元器件进行加速度实验。且能够保证试验过程中装置的稳定性。提高表贴元器件加速度试验的工作效率和安全性。
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公开(公告)号：CN113985131A
公开(公告)日：2022-01-28
申请号：CN202111080770.8
申请日：2021-09-15
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R27/02
Abstract: 本申请公开了一种用于石英晶体谐振器绝缘电阻测试方法及装置，方法包括将石英晶体谐振器绝缘电阻测试装置通过接口同绝缘电阻测试仪、直流稳压电源和计算机连接好，将测试适配器安装在石英晶体谐振器绝缘电阻测试装置中的测试适配座上，然后将待测试石英晶体谐振器引线安放在测试适配器的定位孔里；启动绝缘电阻测试软件中的开始测试命令，绝缘电阻测试软件的测试程序控制石英晶体谐振器绝缘电阻测试装置切换选择，将待测试石英晶体谐振器的测试引线分别电性接入绝缘电阻测试仪，然后计算机从绝缘电阻测试仪读取绝缘电阻阻值，直到将产品测试完成。本申请具有测试无损伤、操作快捷方便、测试效率高等特点和优势。
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公开(公告)号：CN107991561B
公开(公告)日：2021-08-17
申请号：CN201711226436.2
申请日：2017-11-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开了一种用于石英晶体谐振器的老化性能测试装置及方法；所述用于石英晶体谐振器的老化性能测试装置包括底端开口的壳体；位于所述壳体底端的输出转接基座；位于所述壳体内且与所述输出转接基座结合固定的信号处理及调试功能通用底板；及位于所述壳体内且位于所述信号处理及调试功能通用底板上方的振荡及加热控温功能适配插板。所述老化性能测试方法包括将石英晶体谐振器插接在振荡及加热控温功能适配插板上；将振荡及加热控温功能适配插板插接在信号处理及调试功能通用底板上；将插装完成的老化性能测试装置装入老化测试系统中并加电调试；进行老化性能测试；卸载石英晶体谐振器。本发明解决了现有方法破坏产品形貌、产品适配性差等问题。
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公开(公告)号：CN112787617A
公开(公告)日：2021-05-11
申请号：CN202011588805.4
申请日：2020-12-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: H03H9/05
Abstract: 本申请实施例提供一种用于超小型表贴晶体振荡器的基座夹持承载夹具。该夹具可以对散料基座实现可靠紧固夹持及承载并形成适配的加工阵列，从而实现对其内部安装的集成电路芯片进行高效、良好的批量自动引线键合加工。键合工程中，基座可良好的固定在该载盘上，无脱位现象，焊盘定位精度高误差小，批量自动加工速度快，键合加工合格率和效率高。解决了原有技术存在的散料基座安装的芯片只能采用手工拾取、单只逐个进行引线键合加工的方式，从而导致的工艺稳定性和重复性较差，芯片键合质量一致性较差，键合强度散差较大，合格率较低等问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112698172A
公开(公告)日：2021-04-23
申请号：CN202011359773.0
申请日：2020-11-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明公开一种电老炼实现装置和方法，解决现有装置和方法对产品进行间歇式电信号激励及电老炼批量不足的问题。一种电老炼实现装置，用于分立式晶体滤波器，包含：晶振加电模块和滤波器测试模块；所述晶振加电模块，用于产生与待测分立式晶体滤波器中心频率相同的正弦波激励信号；所述滤波器测试模块，用于接收所述正弦波激励信号，输出滤波信号，所述滤波信号用于高温电老炼测试。所述方法使用所述装置。本发明可实现分立式晶体滤波器批量化高温电老炼测试。
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公开(公告)号：CN112285455A
公开(公告)日：2021-01-29
申请号：CN202010959590.6
申请日：2020-09-14
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明的一个实施例公开了一种引线元器件通用测试装置，包括：底架，所述底架包括：载板，所述载板包括：用于放置元器件的限位槽；压边板，所述压边板用于对放置于所述底架上的元器件进行固定；所述限位槽底部包括贯穿载板底部的引线过孔，将元器件引线朝下穿过所述引线过孔并放入所述限位槽内，所述引线过孔和限位槽的双重作用，用于限制元器件向四周运动，防止元器件引线承受外力。
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公开(公告)号：CN112110164A
公开(公告)日：2020-12-22
申请号：CN202011022166.5
申请日：2020-09-25
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请的一个实施例公开了一种元器件传送装置及方法，该装置包括滑道板，所述滑道板包括平板和滑道槽，其中，所述滑道槽的下边缘在预定位置处设置有缺口；设置于所述滑道板上的能拆卸的放料盘，所述放料盘包括多个相互独立的放料槽和与所述放料槽相对应的第一出料口，所述放料槽用于存放元器件，所述滑道槽用于将所述放料盘滑动至所述预定位置，以使得所述第一出料口与所述缺口对应；设置于滑道板下方的转运器，其中，所述转运器包括进料口和第二出料口，所述进料口与所述缺口对应，所述第二出料口与所述进料口对应；与转运器连接的压力推杆，所述压力推杆用于带动所述转运器实现所述元器件的接收与传送。
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公开(公告)号：CN108857689B
公开(公告)日：2019-08-30
申请号：CN201810738698.5
申请日：2018-07-06
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: B24B9/06
Abstract: 本发明实施例提供一种精密石英晶体谐振器的倒边倒弧加工的装置，包括：加工平台；设于所述加工平台上的承载晶片的研磨盘；驱动所述研磨盘转动的驱动机构；扣压固定在所述晶片上的晶片扣，所述晶片扣包括沉孔；以及按压在所述晶片扣上的按压机构；其中，所述按压机构包括可插入所述沉孔与所述晶片扣插接固定的顶针以及驱动所述顶针转动的第一转动机构。本发明提供一种精密石英晶体谐振器的倒边倒弧加工的装置，能够保证晶片研磨曲面稳定，保证设计符合性及外形对称性。并且可调节控制支撑杆、顶针以及晶片水平面等三者之间的相互垂直及固定关系，实现了晶片在研磨过程中始终保持研磨重心不变。
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公开(公告)号：CN109647783A
公开(公告)日：2019-04-19
申请号：CN201811589934.8
申请日：2018-12-25
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种石英晶片的清洗方法和自动清洗装置。清洗方法包括：将待清洗的所述晶片置于NPB清洗液、预热后恒温的Micro-90清洗液、去离子水、预热后恒温的双氧水、去离子水、预热后恒温的无水乙醇中分别进行第一次超声清洗、第二次超声清洗、第一次溢流、浸泡腐蚀、第二次溢流、脱水。所述自动清洗装置包括至少6个可隔离清洗槽，夹具，连接部件，夹持部件，控制系统，所述夹持部件通过所述连接部件与所述夹具可拆卸固定连接,所述夹持部件游离在所述清洗槽外部，用于带动所述夹具浸入或移出所述每个清洗槽。本申请可实现对所述晶片进行多水段洗液自动清洗，且对每个清洗步骤的时长和温度参数实现精准控制。
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