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公开(公告)号：CN110361100B
公开(公告)日：2020-10-13
申请号：CN201910551877.2
申请日：2019-06-25
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G01J11/00
Abstract: 本发明提供的光子计数成像探测器，包括多个层叠设置的微通道板、位于所述微通道板下方的位置编码阳极，所述位置编码阳极包括位置编码阳极电子团接收层、位置编码阳极电荷感应层及位置编码阳极电容传导层，所述位置编码阳极电子团接收层和所述位置编码阳极电荷感应层之间及所述位置编码阳极电荷感应层和所述位置编码阳极电容传导层之间均设置有绝缘介质，所述微通道板、所述位置编码阳极电子团接收层、所述位置编码阳极电荷感应层及所述位置编码阳极电容传导层均设置于真空室中，本发明提供的光子计数成像探测器能够同时实现高成像分辨率和高光子计数率。
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公开(公告)号：CN111189536A
公开(公告)日：2020-05-22
申请号：CN201911387552.1
申请日：2019-12-30
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明涉及一种空间极紫外光度计，涉及极紫外光学器件技术领域。本发明解决极紫外波段无带高抑制比通滤光片的技术难题。本发明的空间极紫外光度计是由薄膜吸收滤光片、极紫外窄带多层膜反射镜组成的光学系统、反射镜背部重金属遮挡板和光电二极管探测器组成。本发明将极紫外窄带多层膜反射镜组成的光学系统与薄膜吸收滤光片、反射镜背部重金属遮挡板和高灵敏度光电二极管探测器组合成极紫外光度计，通过地面的高精度定标，可实现空间目标极紫外辐射的高精度定量化探测。本发明的空间极紫外光度计具有结构简单、体积小、重量轻、可靠性高的特点，不仅可以探测空间目标在特定极紫外波段的辐射亮度，也可广泛应用于该波段空间载荷的在轨定标。
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公开(公告)号：CN110361100A
公开(公告)日：2019-10-22
申请号：CN201910551877.2
申请日：2019-06-25
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G01J11/00
Abstract: 本发明提供的光子计数成像探测器，包括多个层叠设置的微通道板、位于所述微通道板下方的位置编码阳极，所述位置编码阳极包括位置编码阳极电子团接收层、位置编码阳极电荷感应层及位置编码阳极电容传导层，所述位置编码阳极电子团接收层和所述位置编码阳极电荷感应层之间及所述位置编码阳极电荷感应层和所述位置编码阳极电容传导层之间均设置有绝缘介质，所述微通道板、所述位置编码阳极电子团接收层、所述位置编码阳极电荷感应层及所述位置编码阳极电容传导层均设置于真空室中，本发明提供的光子计数成像探测器能够同时实现高成像分辨率和高光子计数率。
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公开(公告)号：CN110275281A
公开(公告)日：2019-09-24
申请号：CN201910462213.9
申请日：2019-05-30
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明提供的天基全反射式远紫外与可见光双波段日冕成像系统，一种天基全反射式远紫外与可见光双波段日冕成像系统，其特征在于，包括：入瞳、离轴抛物面反射镜、环形凸球面反射镜、离轴椭球面反射镜、里奥光阑、远紫外/可见光波段平面分光镜、可见光平面反射镜、第一探测器和第二探测器及光陷阱，本发明提供的日冕成像系统，以天基观测方式，采用全反射离轴、长焦距光学结构，实现了对太阳内日冕在远紫外和可见光双波段的高分辨率、大动态范围成像，填补国内在天基日冕仪领域以及国外在远紫外波段内日冕成像仪的空白，提升日冕仪分辨率及动态范围，推动日冕仪设备研制相关技术的发展。
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公开(公告)号：CN105424176A
公开(公告)日：2016-03-23
申请号：CN201510736505.9
申请日：2015-11-03
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明提供了一种微光成像探测器包括：壳体（7）、输入窗口（1）、光电阴极层（2）、微通道板像增强器（3）、感应编码阳极（4）、真空电极（6）和电极引线（5），其中，输入窗口（1）和金属制壳体（7）构成密闭的高真空环境，所述光电阴极层（2）、微通道板像增强器（3）、感应编码阳极（4）和阳极引线（5）均置于高真空环境中；该微光成像探测器可以有效降低探测图像的像差，减少使用光学元件数量，提高成像质量，具有结构简单，设计合理，制备过程简单，制备效率高，质量好等优点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119533871A
公开(公告)日：2025-02-28
申请号：CN202411736450.7
申请日：2024-11-29
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及光学检测技术领域，具体提供一种极紫外波段整机传函测试装置及方法，包括光源系统、平行光管、刀口靶标、二维平移台、成像仪以及真空罐，光源系统包括用于产生极紫外波段光束能量来源的激光器和用于产生极紫外波段连续谱线的金属靶，刀口靶标设置在二维平移台上，刀口靶标安装在平行光管的焦面位置，利用激光等离子体光源出射具有连续谱线的极紫外光束，使用具有成像仪同波段的平行光管，出射特定极紫外波段光束，将锐利刀口粘贴在平行光管焦面处，达到真空度后，点亮光源，移动二维平移台寻找光斑最强位置并采集图像并对图像进行计算分析，得到成像仪的MTF曲线，该方法适用于测试所有极紫外波段有响应成像仪的MTF测试，操作简单。
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公开(公告)号：CN119085850A
公开(公告)日：2024-12-06
申请号：CN202411130257.9
申请日：2024-08-16
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明涉及空间光学检测技术领域，具体提供一种面向入射光偏振态的优化定标方法、装置、设备及介质，针对分时偏振成像系统，利用克罗内克积为基础的伪逆分析法，将入射光偏振分量引入起偏器矩阵当中，建立不同入射光偏振态的定标矩阵，得到高斯泊松噪声下定标矩阵精度，利用归一化的估计方差计算公式和高斯泊松噪声下的光强协方差公式和方差公式，得到定标矩阵的估计方差公式，实现不同定标方案在不同入射偏振态下的定标精度分析，大幅降低了平行光管小偏振度入射光对定标精度的影响，提高了不同光管定标时的精度可靠性和后续误差分析的准确性，适用于所有日冕成像仪的偏振定标。
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公开(公告)号：CN118362546A
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202410604666.1
申请日：2024-05-15
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明涉及原子荧光探测技术领域，尤其涉及一种基于单光子的AFS色散检测系统及其检测方法，检测系统包括进样模块、原子化模块、光源激发模块光谱信号收集模块和光谱信号处理模块，进样模块用于将样品送入原子化模块，原子化模块用于对样品进行原子化，光源激发模块用于对样品进行激发，产生目标元素的原子荧光谱线，光谱信号收集模块用于将目标元素的原子荧光谱线在空间中展开并接收进行成像，光谱信号处理模块用于对成像数据进行分析，通过计算获得目标元素的浓度，光谱信号收集模块包括入射狭缝、色散元件和面阵位敏阳极单光子计数成像探测器。本发明能够分辨光谱干扰信号，在检测过程中直接扣除。
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公开(公告)号：CN111157108B
公开(公告)日：2021-07-06
申请号：CN201911363202.1
申请日：2019-12-26
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明涉及一种空间X射线光度计，其中入光口光阑位于锥形X射线掠入射光学系统的入射侧；重金属中心遮挡板位于入光口光阑的中心，且入光口光阑上设有入光口薄膜滤光片；滤光轮位于锥形X射线掠入射光学系统的出射侧，且滤光轮上设有若干个不同工作波段的出射薄膜滤光片；光电二极管探测器接收经过出射薄膜滤光片滤光后的X射线辐射，并对X射线辐射进行光电转化后输出电信号至电信号采集系统。本发明利用锥形X射线掠入射光学系统滤掉高能部分X射线辐射，同时利用薄膜滤光片滤掉低能部分X射线辐射，实现了对X射线波段辐射绝对辐射亮度的高精度测量，并且本发明的空间X射线光度计具有体积小、重量轻、可靠性高的特点。
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公开(公告)号：CN110275281B
公开(公告)日：2020-11-03
申请号：CN201910462213.9
申请日：2019-05-30
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明提供的天基全反射式远紫外与可见光双波段日冕成像系统，一种天基全反射式远紫外与可见光双波段日冕成像系统，其特征在于，包括：入瞳、离轴抛物面反射镜、环形凸球面反射镜、离轴椭球面反射镜、里奥光阑、远紫外/可见光波段平面分光镜、可见光平面反射镜、第一探测器和第二探测器及光陷阱，本发明提供的日冕成像系统，以天基观测方式，采用全反射离轴、长焦距光学结构，实现了对太阳内日冕在远紫外和可见光双波段的高分辨率、大动态范围成像，填补国内在天基日冕仪领域以及国外在远紫外波段内日冕成像仪的空白，提升日冕仪分辨率及动态范围，推动日冕仪设备研制相关技术的发展。
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