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公开(公告)号：CN109257033A
公开(公告)日：2019-01-22
申请号：CN201810984651.7
申请日：2018-08-27
Applicant: 中国科学院电子学研究所
Abstract: 本发明提出一种高精度步进延迟系统，其包括：配电器，用于提供多种规格的电源输出；恒温晶体振荡器，用于产生高稳时钟信号；FPGA控制模块，用于完成步进延迟系统的逻辑控制和粗延迟量、细延迟量的计算，FPGA控制模块接收高稳时钟信号，并产生发射触发时钟信号和接收触发时钟信号；以及细延迟电路，用于接收所述接收触发时钟信号，并产生步进延迟脉冲信号，其中，发射触发时钟信号用于触发雷达的发射机工作，步进延迟脉冲信号用于触发雷达的接收机工作。本发明获得了高精度、大时窗的步进延迟系统，解决了雷达的等效采样接收机的步进精度和时窗大小之间存在矛盾关系的问题。
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公开(公告)号：CN109239634A
公开(公告)日：2019-01-18
申请号：CN201811054067.8
申请日：2018-09-10
Applicant: 中国科学院电子学研究所
IPC: G01R35/00
CPC classification number: G01R35/005
Abstract: 本发明提供一种基于岭回归的二端口矢量网络分析仪校准的方法，包括如下步骤：S1，建立12项误差模型，得到二端口矢量网络分析仪的散射参数的真实值与12项误差和散射参数的测量值之间的第一解析式；S2，建立单端口误差模型，得到二端口矢量网络分析仪的散射参数的真实值与所述12项误差和散射参数的测量值之间的第二解析式，对两个端口分别采用岭回归算法进行校准，得到全部12项误差的值；S3，将得到的12项误差的值和散射参数的测量值代入所述第一解析式中，得到散射参数的真实值，12项误差是指有效方向性前、后向误差，隔离度前、后向误差，等效源失配前、后向误差，等效匹配负载失配前、后向误差，传输跟踪前、后向误差，反射跟踪前、后向误差。
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公开(公告)号：CN103594784B
公开(公告)日：2014-12-24
申请号：CN201210586011.3
申请日：2012-12-28
Applicant: 中国科学院电子学研究所
Abstract: 本发明公开了一种低背腔超宽带电阻加载偶极子天线，该天线包括：两个辐射臂、介质板、输入端口和金属背腔，其中，所述两个辐射臂均为半椭圆形，每个辐射臂由平行设置的且与所述辐射臂电性连接的多个分段金属条带和金属条带之间的若干相并联的加载电阻构成；所述加载电阻焊接在所述辐射臂相邻两段金属条带之间，用于减小所述辐射臂上的反射电流；所述两个辐射臂对称地粘接于所述介质板的正表面；所述两个辐射臂相对一侧分别引出一输入端口，作为所述天线的馈电端，用于信号的输入；所述金属背腔位于所述辐射臂的上方，其四边与所述介质板的四边固定在一起。本发明具有结构简单、剖面低等特点，适合于安装在车辆底部，不影响车辆行走能力。
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公开(公告)号：CN104201455A
公开(公告)日：2014-12-10
申请号：CN201410423076.5
申请日：2014-08-26
Applicant: 中国科学院电子学研究所 , 北京空间飞行器总体设计部
IPC: H01Q1/08
Abstract: 本发明属于航天星载天线技术领域，具体涉及一种杆状天线的展开装置。杆状天线的展开释放装置，其技术方案是，它包括：杆状天线(3)，压紧释放机构(2)以及展开锁定机构(1)；所述压紧释放机构(2)包括：安装座(201)、压紧座组件(202)、摆动架(203)、安装架(204)、限位托板(205)、锁定簧片(206)、压紧螺杆(207)以及火工切割器(209)；所述展开锁定机构(1)包括：安装架(101)、固定铰支座(102)、蜗卷簧(103)、限位块(104)、锁紧片簧(105)以及转动铰接头(106)；本发明能够使得杆状天线(3)展开至固定角度，并在释放前后有效锁紧杆状天线(3)。
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公开(公告)号：CN103633427A
公开(公告)日：2014-03-12
申请号：CN201210586773.3
申请日：2012-12-28
Applicant: 中国科学院电子学研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于平面电阻技术的宽带天线，该天线包括：第一辐射臂、第二辐射臂、介质板和两个馈电点，其中，所述第一辐射臂和第二辐射臂均为金属辐射臂，粘接在所述介质板的上表面；每个辐射臂均包括粘接于所述介质板上表面的平面电阻层和多个并排放置且分别与所述平面电阻层电性连接的分段金属片，相邻两个金属片之间的平面电阻层形成加载电阻，将两个金属片连接在一起；所述两个馈电点分别位于两个辐射臂相对一侧金属片的中间位置，作为所述天线的输入端口。本发明适用于所有电阻加载天线的应用，具有更高的集成度和可靠性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103594783A
公开(公告)日：2014-02-19
申请号：CN201210585692.1
申请日：2012-12-28
Applicant: 中国科学院电子学研究所
Abstract: 本发明公开了一种超宽带三角形平面电阻膜天线，该天线包括：第一三角形辐射臂、第二三角形辐射臂、两个馈电点以及介质板，其中，所述第一三角形辐射臂和第二三角形辐射臂的形状均为三角形，其以底边相对而设置；所述第一三角形辐射臂和第二三角形辐射臂由平面电阻膜材料制成；所述第一三角形辐射臂和第二三角形辐射臂粘接在所述介质板的上表面；所述两个馈电点分别位于所述第一三角形辐射臂和所述第二三角形辐射臂相对边的中间位置，所述馈电点作为所述天线的输入端口。本发明天线具有宽频带、结构简单等特点，适用于各种无线电系统的应用。
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公开(公告)号：CN109239634B
公开(公告)日：2020-08-28
申请号：CN201811054067.8
申请日：2018-09-10
Applicant: 中国科学院电子学研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明提供一种基于岭回归的二端口矢量网络分析仪校准的方法，包括如下步骤：S1，建立12项误差模型，得到二端口矢量网络分析仪的散射参数的真实值与12项误差和散射参数的测量值之间的第一解析式；S2，建立单端口误差模型，得到二端口矢量网络分析仪的散射参数的真实值与所述12项误差和散射参数的测量值之间的第二解析式，对两个端口分别采用岭回归算法进行校准，得到全部12项误差的值；S3，将得到的12项误差的值和散射参数的测量值代入所述第一解析式中，得到散射参数的真实值，12项误差是指有效方向性前、后向误差，隔离度前、后向误差，等效源失配前、后向误差，等效匹配负载失配前、后向误差，传输跟踪前、后向误差，反射跟踪前、后向误差。
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公开(公告)号：CN106164705B
公开(公告)日：2019-03-08
申请号：CN201480076462.X
申请日：2014-12-19
Applicant: 中国科学院电子学研究所
Abstract: 一种采用一发多收雷达探测地外固态星体地质结构的方法。在该方法中，采用一发多收的工作模式完成地外固态星体各地质分层的厚度分布和结构的探测，并利用电磁波传播理论反演各地质分层的介电常数、深度等信息，具有可靠性高的优点。还公布了一种对地外固态星体进行地质结构探测的超宽带无载波脉冲雷达系统。在该系统中，采用两个探测通道，CH1探测通道工作在HF/VHF波段，用于星体的岩石结构探测，探测深度大于100米，分辨率为米级；CH2探测通道工作在UHF波段，用于星体的浅层土壤结构探测，探测深度大于30米，分辨率小于30厘米，两个探测通道协同工作互为补充，可以保证探测工作的准确性和可靠性。
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公开(公告)号：CN104181423B
公开(公告)日：2017-01-11
申请号：CN201410425877.5
申请日：2014-08-26
Applicant: 中国科学院电子学研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明属于检验检测技术领域，具体涉及一种电子器件检测装置。航天电子器件检测装置，技术方案是，电路板(3)以及导向柱(4)固定安装于固定板(1)，滑动组件(5)安装在套接有弹簧(52)、固定板(1)相抵触；检测时，将待检测的电子器件放置于电路板(3)上，下移滑块(52)，令滑柱组件(51)上的绝缘压件(56)以及中心柱压件(57)在滑柱压簧(53)的作用下将器件弹性压接在电路板(3)上，器件的管脚与测试用触点(31)弹性接触，利用锁定组件将滑动组件(5)的位置固定，通过测试用接头(32)接通电路板(3)即可进行检测；本发明适用于多种相同类型器件性能检测。(6)的导向柱(4)上，弹簧(6)的两端分别与滑块
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公开(公告)号：CN104181423A
公开(公告)日：2014-12-03
申请号：CN201410425877.5
申请日：2014-08-26
Applicant: 中国科学院电子学研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明属于检验检测技术领域，具体涉及一种电子器件检测装置。航天电子器件检测装置，技术方案是，电路板(3)以及导向柱(4)固定安装于固定板(1)，滑动组件(5)安装在套接有弹簧(6)的导向柱(4)上，弹簧(6)的两端分别与滑块(52)、固定板(1)相抵触；检测时，将待检测的电子器件放置于电路板(3)上，下移滑块(52)，令滑柱组件(51)上的绝缘压件(56)以及中心柱压件(57)在滑柱压簧(53)的作用下将器件弹性压接在电路板(3)上，器件的管脚与测试用触点(31)弹性接触，利用锁定组件将滑动组件(5)的位置固定，通过测试用接头(32)接通电路板(3)即可进行检测；本发明适用于多种相同类型器件性能检测。
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