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公开(公告)号:CN105181154B
公开(公告)日:2018-04-10
申请号:CN201510651966.6
申请日:2015-10-10
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01J11/00
Abstract: 本发明提供了一种多光束宽带调频脉冲激光波形集中测量装置。所述装置中的被测多光束调频脉冲光,经光‑电‑光转换模块,每路输出不同波长的且包含被测光信息的窄带连续光;各路连续光通过单模光纤传输至光纤波分复用‑开关模块相对应波段的输入端,输出窄带长脉冲光;各路长脉冲光分别经不同根单模光纤输入至光纤时分复用模块相对应波段的输入端,由单根单模光纤输出具有等时间延迟的系列长脉冲光信号;经光纤放大器,由光纤输入至光电探测器,输出电信号通过电缆进入示波器,输出数据经网线送入计算机进行数据处理。本发明具有高可靠性,信息能够长距离传输,特别适用于大型高功率激光装置多光束宽带调频脉冲时间波形的集中测量。
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公开(公告)号:CN107677379A
公开(公告)日:2018-02-09
申请号:CN201710913257.X
申请日:2017-09-30
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01J11/00
CPC classification number: G01J11/00
Abstract: 本发明公开了一种飞秒激光脉冲波形测量装置。所述的测量装置中,被测的水平偏振的空间均匀的飞秒基频激光脉冲经过分光镜后分成透射光和反射光,透射光再分成两束,以水平对称角度入射到倍频晶体,产生垂直偏振的自相关倍频信号,该倍频信号与分光镜的反射光束沿垂直面入射到和频晶体上,产生双延迟的三阶强度相关三倍频信号,从而获得脉冲波形信息。本发明的测量装置提高了测量技术在飞秒激光脉冲波形测量中的时间分辨力。本发明的测量装置结构紧凑,调节方便、成本低。
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公开(公告)号:CN107228718A
公开(公告)日:2017-10-03
申请号:CN201710301599.6
申请日:2017-05-02
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01K15/00
CPC classification number: G01K15/007
Abstract: 本发明属于半导体传感器领域,具体涉及一种热电堆检测装置。绝热工装为绝热材料材质,绝热工装内侧设置有下凹部和供加热导线引出的引线孔,下凹部内由底往上顺序设置有电加热部件和能够包覆待测电热堆侧面的绝热圈,绝热圈设置有供连接待测电热堆的测试导线穿出的孔,电加热部件通过加热导线连接有直流电源分析仪;导热工装为导热材料材质,盖合在所述绝热工装上,导热工装内侧设置有导热凹部和供测试导线引出的出线孔,所述导热凹部设置在导热工装内侧与下凹部对应的位置,待测电热堆通过测试导线连接A/D转换器的输入端。省去了传统装置中设置的对热电堆两端温度测量的装置,减少了测量数据,提高了电热堆检测的精确度。
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公开(公告)号:CN103712699B
公开(公告)日:2016-05-25
申请号:CN201410007476.8
申请日:2014-01-08
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01J11/00
Abstract: 本发明提供了一种基于光限幅的激光脉冲对比度测量装置。所述的测量装置中,在高功率激光脉冲入射方向上依次放置准直镜、衰减片、分束镜Ⅰ,在分束镜Ⅰ的透射光路上依次设置倍频晶体、滤波片、分束镜Ⅱ,在分束镜Ⅰ的反射光路上依次设置半波片、分束镜Ⅲ;在分束镜Ⅲ的反射光路上依次设置凸透镜Ⅰ、限幅器、凸透镜Ⅱ、延迟调节器,由倍频晶体产生的倍频光经分束镜Ⅱ分成透射和反射两部分,分别与来自分束镜Ⅲ的透射和反射基频光并行进入两个三阶相关仪,两个三阶相关仪产生的相关信号经CCD采集,最后通过计算机进行数据处理。本发明调节灵活方便,测试动态范围宽。
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公开(公告)号:CN101762332B
公开(公告)日:2011-05-11
申请号:CN200910263670.1
申请日:2009-12-17
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01J11/00
Abstract: 本发明提供了一种单发次超短激光脉冲对比度测量装置。所述装置的光路为,被测的平行激光束经过第一半透半反镜后将光变成透射光和反射光,透射光依次经过直角棱镜、第一反射镜、二倍频晶体、滤光片和半波片,反射光经过第二反射镜,两束光以位相匹配角入射到和频晶体上产生三阶自相关信号,三阶自相关信号经第一滤波片和刀口遮挡滤波后用第二半透半反镜将光分成两束,一束光依次经过第一衰减片、第一柱面透镜和第二滤光片后进入第一CCD,另外一束光依次经过遮挡片、第二衰减片、第二柱面透镜和第三滤光片后进入第二CCD,两个CCD对三阶自相关信号分布的主峰和主峰外的区域分别进行测试。本发明可以获得连续的相关信号强度分布信息,可测试单发次超短脉冲对比度达到~106左右。
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公开(公告)号:CN114112076A
公开(公告)日:2022-03-01
申请号:CN202111410010.9
申请日:2021-11-25
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01J11/00
Abstract: 本发明公开了一种高对比度纳秒级脉冲激光波形测量装置,所述装置包括:光纤耦合器、光纤分束器I、可调光纤衰减器、光纤脉冲复制器、光纤分束器II、光纤准直器、能量计、半导体光电探测器、示波器和计算机;所述光纤分束器I连接光纤耦合器,光纤分束器I将待测激光分为能量相等的四束。通过本发明公开的装置可以获取激光波形的不同截断部分的波形数据,最后将数据进行平均和拼接即可获得高对比度纳秒级脉冲激光波形。本发明公开的激光波形测量装置能够实现实现高功率、高对比度纳秒级脉冲激光波形的测量,尤其适用于大型高功率激光装置复杂纳秒脉冲时间波形的精密测量。
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公开(公告)号:CN109682483A
公开(公告)日:2019-04-26
申请号:CN201910101971.8
申请日:2019-02-01
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01J11/00
CPC classification number: G01J11/00
Abstract: 本发明公开了一种单发次皮秒激光脉冲波形测量装置。被测的皮秒激光脉冲方形光束经衍射光栅衍射扩束并产生脉冲前沿倾斜,再经柱状透镜组成的共焦系统扩束成方形光束,该方形光束被分光镜分成三路,其中两路从水平方向同时对称入射到非线性晶体Ⅰ进行倍频转换,产生的倍频光束与正交旋转后的第三路基频光束在竖直面上沿固定角度同时入射到非线性晶体Ⅱ进行和频转换,产生的三倍频光束经成像透镜后被CCD接收,CCD输出的双延迟三阶相关信号经过数据处理后即可获得脉冲波形信息。该装置采用衍射光栅进行扩束和脉冲前沿倾斜,加大了非线性晶体内进行频率转换的光束间的夹角,将测量范围从传统的几个皮秒扩大至百皮秒。该装置结构简单,调节方便。
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公开(公告)号:CN109506793A
公开(公告)日:2019-03-22
申请号:CN201910038320.9
申请日:2019-01-16
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01J11/00
Abstract: 本发明公开了一种单发次飞秒激光脉冲波形测量装置。被测的超快激光脉冲平行光束经衍射光栅衍射扩束并产生脉冲前沿倾斜,该前沿倾斜的基频脉冲光束被分光镜分成三路,一路与经倒像后的另一路基频光束同时沿水平方向对称入射到非线性晶体Ⅰ进行倍频转换,产生的单次自相关倍频光束与第三路基频光束在竖直面沿固定角度同时入射到非线性晶体Ⅱ进行和频转换,产生的三倍频光束经成像透镜后被CCD接收,CCD接收的即为双延迟的三阶相关信号,从而获得脉冲波形信息。该测量装置采用衍射光栅扩束并使脉冲前沿倾斜,减少了晶体内进行频率转换的光束间的夹角,提高了时间分辨力;该测量装置结构简单,调节方便。
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公开(公告)号:CN109506792A
公开(公告)日:2019-03-22
申请号:CN201910038318.1
申请日:2019-01-16
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01J11/00
Abstract: 本发明公开了一种单发次自相关仪。被测的超快激光脉冲平行光束经过两个分光镜后分成三路,分别从水平、垂直方向以相同角度入射到非线性晶体上实现倍频转换,产生三束单发次自相关信号,利用两个延迟调节器调节其中两路基频光束的光程,获得三个不同时间延迟的自相关信号,扩宽了时间测量范围。本发明的自相关仪成本低、结构简单,调节方便,只需旋转非线性晶体,就可实现对任意偏振态的入射超快脉冲的自相关信号测量。
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公开(公告)号:CN109596228A
公开(公告)日:2019-04-09
申请号:CN201811532255.7
申请日:2018-12-14
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01J11/00
Abstract: 本发明公开了一种纳秒级脉冲激光波形测量装置。该测量装置中,被测平行光束通过会聚透镜后,进入分光镜组,分成多束光,每路光束依次通过衰减器、取样镜、能量计和半导体光电探测器,半导体光电探测器输出电信号通过电缆进入示波器;各路光按顺序与示波器通道一一对应,示波器测试数据通过网线送入计算机。示波器的最后一个通道波形为完整脉冲波形,对应光路的半导体光电探测器工作于线性动态区间内,其余通道对应光路半导体光电探测器工作于饱和区内;示波器各通道脉冲波形依次拼接获得具有高对比度的脉冲波形。该测量装置在确保测量设备处于安全运行状态下可以获得大的线性测量范围,特别适用于高功率激光装置纳秒级脉冲激光波形的测量。
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