用于高功率CMOS天线开关的系统、方法及设备

    公开(公告)号:CN101192695B

    公开(公告)日:2011-07-20

    申请号:CN200710195477.X

    申请日:2007-11-30

    CPC classification number: H03K17/693 H03K17/102 H03K2217/0018 H04B1/48

    Abstract: 本发明的实施例可以用于提供CMOS天线开关,CMOS天线开关可以指CMOS SPDT开关。根据本发明的实施例,CMOS天线开关可以在大约900MHz、1.9GH、以及2.1GHz的多个频率下工作。CMOS天线开关可以包括接收开关和发射开关。接收开关可以通过体浮动技术利用具有体衬底开关和源极与体连接的多堆叠晶体管,以通过防止设备在OFF状态下的沟道形成来阻断来自发射路径的高功率信号,并且保持接收路径的低插入损耗。CMOS天线开关的示例性的实施例可以在两个频带(例如,900MHz和1.9GHz和2.1GHz)提供35dBm P 1 dB。另外,根据本发明示例性的实施例可得到对开关的-60dBc的二次谐波和高至28dBm的三次谐波的输入功率。

    用于线性包络消除与恢复发射机的系统以及方法

    公开(公告)号:CN101090380B

    公开(公告)日:2011-05-18

    申请号:CN200710110602.2

    申请日:2007-06-04

    Abstract: 本发明提供了用于线性包络消除与恢复发射机的系统、方法及装置,其基于与正交递归预失真技术相结合的极性调制操作。极性调制技术通过动态地调整偏压电平增强了电池寿命。此外,模拟正交递归预失真有效校正了射频(RF)功率放大器(PA)中的振幅和相位误差,并且增强了PA输出能力。另外,偶次失真分量用于以乘法方式对输入信号进行预失真,使得大大提高了有效校正带宽。此外,使用瞬时反馈包络失真信号的预失真方案允许校正可发生在包括包络记忆效应的校正环路带宽内的任何失真。

    用于使用EM仿真来补偿RFIC的性能退化的方法

    公开(公告)号:CN101187954A

    公开(公告)日:2008-05-28

    申请号:CN200710166493.6

    申请日:2007-11-20

    CPC classification number: G06F17/5068 G06F17/5036

    Abstract: 提供了一种用于使用EM仿真来补偿射频集成电路(RFIC)的性能退化的方法。该方法包括以下步骤:(a)提取RFIC的设计规范以设计和仿真电路;(b)设计所设计和仿真的电路的布局,并通过使用所设计的布局来提取布局参数;(c)简化布局并执行EM仿真以提取性能参数;(d)通过使用所提取的布局参数和性能参数来执行电路仿真,并判断电路仿真的结果是否满足RFIC的设计规范;(e)当判断电路仿真的结果满足RFIC的设计规范时,执行电路制造处理;以及(f)当判断电路仿真的结果不满足RFIC的设计规范时,部分地去除布局并执行EM仿真,从而分析并补偿性能退化区域。

    2D图像分割设备和方法及去除图像中红眼的设备和方法

    公开(公告)号:CN101527780B

    公开(公告)日:2012-11-07

    申请号:CN200810181575.2

    申请日:2008-11-27

    Abstract: 一种二维(2D)图像分割设备和方法以及用于去除图像中的红眼的设备和方法,用于分割逐行输入2D图像的像素的2D图像分割设备包括:组信息存储单元,存储包括多个相邻像素的像素组的信息;像素确定单元,确定输入像素的坐标,并确定输入像素是否是用于分割的有效像素;组扫描单元,当输入像素被像素确定单元确定为有效像素时,对组信息存储单元中位于从有效像素中预设的扫描范围的相邻像素组进行扫描;组信息更新单元,根据是否存在扫描到的相邻像素组和包括有效像素之前的输入像素的像素组来更新存储在组信息存储单元中的像素组的信息。此外,提供一种使用由所述分割设备确定的像素组的区域信息去除红眼的方法。

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