用于检测细颗粒的设备和方法
    21.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118294327A

    公开(公告)日:2024-07-05

    申请号:CN202310820202.X

    申请日:2023-07-05

    Abstract: 提供了一种被用于检测细颗粒的设备和方法,所述设备包括:细颗粒捕集器,包括被配置为捕获所述细颗粒的多个通孔;测量器,包括光源和检测器,光源被配置为将光发射到所述多个通孔,检测器被配置为检测通过所述多个通孔散射、反射或透射的光并测量光谱;以及处理器,被配置为:基于测量的光谱来估计被捕获到所述多个通孔中的所述细颗粒的数量,其中,所述多个通孔具有等于或小于10μm的直径。

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