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    使用平行射线照射的小对象的光学层析术和后标本光学放大
    21.
    发明授权
    使用平行射线照射的小对象的光学层析术和后标本光学放大 失效

    公开(公告)号：CN1319011C

    公开(公告)日：2007-05-30

    申请号：CN200380104934.X

    申请日：2003-11-25

    申请人： 维森盖特有限公司

    发明人： R·H·约翰逊 ,  A·C·尼尔森

    IPC分类号： G06K9/00

    摘要： 用于成像感兴趣对象(1)的平行光束光学层析成像系统(4)，包括通过多个平行辐射光束(36)照射感兴趣对象(1)的平行射线束辐射源(35)。在通过感兴趣对象(1)后，由前标本光学元件或元件放大传送或发射辐射强度图形。包含管(2)的对象位于外管(32)内，其中，感兴趣对象(1)保持在包含管(2)的对象内或流过包含管(2)的对象。可以耦合电动机(34)以便旋转和/或平移包含管(2)的对象，以便提供感兴趣对象(1)的不同视图。定位一个或多个检测器阵列以便从后标本放大光学部件接收出射辐射(68)。可以由放大的平行投影数据重构二维或三维图像。

    使用先验知识的小型对象的层析重构
    22.
    发明公开
    使用先验知识的小型对象的层析重构 失效

    公开(公告)号：CN1653478A

    公开(公告)日：2005-08-10

    申请号：CN03810500.4

    申请日：2003-05-02

    申请人： 维森盖特有限公司

    发明人： A·C·尼尔森

    IPC分类号： G06K9/00

    CPC分类号： G06T11/006 ,  G06T2211/424

    摘要： 细胞(1)的三维(3D)重构包括依照先验知识(24)调节投影图像(8，9)的当前集合，以便例如基于对同一样品(30)中多个类似对象的概率掩模和/或贝叶斯分析(16)来产生调节的投影图像(9)。重构算法处理调节的投影图像以便生成3D图像(10)。依照先验知识(24)进一步调节所述3D图像以便生成调节的3D图像(11)。应用过程结束的标准来确定所述调节的3D图像是否是合适的(12)。如果不是，那么按照与投影图像的当前集合(8，13)相同的投影角通过计算产生伪投影集合，然后比较所述投影图像的当前集合(8)与所述伪投影图像以便产生新投影集合(14)，其中将新投影再次输入到重构算法，并且重复所述方法的步骤直到满足足够的标准(15)。

    应用瞬时特征标记的发射计算机辅助断层成像装置和方法
    23.
    发明授权
    应用瞬时特征标记的发射计算机辅助断层成像装置和方法 失效

    公开(公告)号：CN1328694C

    公开(公告)日：2007-07-25

    申请号：CN03810809.7

    申请日：2003-05-02

    申请人： 维森盖特有限公司

    发明人： A·C·尼尔森

    IPC分类号： G06K9/00

    CPC分类号： G21K5/10 ,  G01N21/4795 ,  G01N21/6456 ,  G01N33/48728 ,  G01N2021/6439

    摘要： 一种光学断层成像系统，其中标的物(2)内的次级电子发射体(3，4)的位置是使用次级发射的瞬时特征标记(12A，12B，12C)确定的，该次级发射的瞬时特征标记(12A，12B，12C)是由该目标被外部初级光源光束(1)照射而出现的，该外部初级光源光束(1)是非平行的，例如锥形光束(1)，而该目标以被控制方式相对于所述光束(1)移动。唯一的一组次级电子发射点被定位在该目标内，并且当其和从该目标的初级锥形光束投影的计算机三维重建(35)相结合的时候，生成在该目标中的次级电子发射体(3，4)的图像，以便能够量化例如在生物细胞中荧光标记的分子探针(3，4)的三维图像。

    用于光学层析成像的景深扩展
    28.
    发明授权
    用于光学层析成像的景深扩展 有权

    公开(公告)号：CN101896856B

    公开(公告)日：2013-02-13

    申请号：CN200880120077.5

    申请日：2008-10-22

    申请人： 维森盖特有限公司

    发明人： 理查德·J·拉恩 ,  约·W·哈延加

    IPC分类号： G02F1/01

    CPC分类号： G01N21/4795 ,  A61B5/0073 ,  G01N15/1468

    摘要： 用光源(130)照射光学投影层析成像系统。目标容纳管(107)，其部分位于由光源(130)照射的区域内，目标容纳管(107)容纳具有感兴趣的特征的感兴趣的目标(114)。检测器(112)用来从感兴趣的目标(114)接收出现的辐射。包括光场扩展元件(1)的透镜(103)位于目标区域和检测器(104)之间的光路中，从而来自目标容纳管(107)中的多个物面(Zn)的光线(130)同时聚焦在检测(104)上。目标容纳管(107)相对于检测器(104)移动，并且透镜(103)操作以提供目标区域的多个视野，用于在每一视野产生感兴趣的特征的图像。

    适于伪投影的模式噪声校正
    29.
    发明公开
    适于伪投影的模式噪声校正 失效

    公开(公告)号：CN102438524A

    公开(公告)日：2012-05-02

    申请号：CN201080021137.5

    申请日：2010-03-10

    申请人： 维森盖特有限公司

    发明人： M·梅耶尔 ,  J·哈延加 ,  T·阿博特 ,  D·斯丹华尔

    IPC分类号： A61B5/1455 ,  G06T17/00

    CPC分类号： G01N15/1475 ,  G01N15/147 ,  G06T5/002 ,  G06T7/136 ,  G06T11/005 ,  G06T2207/10072 ,  G06T2207/30024 ,  H04N5/365

    摘要： 校正模式噪声投影图像，包括：用包括处理器的光学层析系统获取一组投影图像(22A)，其中该组投影图像(22A)的每一帧图像是在不同的视角下获取的；对每一帧投影图像应用阈值(104)以产生一组阈值图像；每一帧阈值图像可操作地被放大(106)以产生被加成来形成集成图像(114)的一组放大的图像；处理每一帧放大的图像以便产生一组二元图像(108)；加成该组二元图像(112)以便形成集成掩膜(116)；由集成掩膜(116)将集成图像分离以便产生背景模式噪声图像(118)；将每一帧投影图像乘以缩放因数以及除以背景模式噪声(120)以便产生商图像，滤除该商图像(122)以便产生经过噪声校正的投影图像(124)。