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公开(公告)号：CN119001203A
公开(公告)日：2024-11-22
申请号：CN202410583299.1
申请日：2024-05-11
IPC: G01R19/00
Abstract: 测定装置具有控制部，该控制部针对施加有第1频率的被测定电压的芯线，经由绝缘体而注入第2频率的注入电流，获取所述注入电流和经由所述绝缘体从所述芯线漏出的所述被测定电压的漏电流在电路单元叠加所得的合成电流，对所述合成电流进行解析，计算基于所述被测定电压的贡献所得的有效功率及无效功率即测定有效功率及测定无效功率，基于所述测定有效功率、所述测定无效功率、所述第1频率、所述第2频率、所述注入电流的电压以及所述漏电流的电流实际值而计算所述被测定电压，将计算出的所述被测定电压输出。
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公开(公告)号：CN118999783A
公开(公告)日：2024-11-22
申请号：CN202410505270.1
申请日：2024-04-25
Abstract: 本发明涉及的测定装置(1)具有：控制部(80)；以及分光器(10)，其具有形成有使得被测定光(L1)通过的开口部(132a)的光学元件，控制部(80)执行至少对被测定光(L1)的光束点(P)在开口部(132a)内处于第1位置(x1)时的第1光谱(S1(i))以及处于第2位置(x2)时的第2光谱(S2(i))进行合成，生成缩窄化的被测定光(L1)的合成光谱(Sr(i))的第1处理，第1位置(x1)包含从光束点(P)的开口部(132a)内的基准位置(x0)向规定方向(D)的一侧偏移后的位置，第2位置(x2)包含从基准位置(x0)向另一侧偏移后的位置。
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公开(公告)号：CN118818148A
公开(公告)日：2024-10-22
申请号：CN202410363826.8
申请日：2024-03-28
Abstract: 本发明涉及一种测定方法、测定装置以及测定系统，测定方法包含如下步骤：获取将三相异电容接线的3相(R、S及T)的配线钳住而测定出的三相漏电流的步骤；获取将三相异电容接线的3相(R、S、T)中的、在中点(N)接地的2相(R及S)的配线钳住而测定出的单相漏电流的步骤；基于三相漏电流以及单相漏电流，对三相异电容接线的3相(R、S及T)各自的配线中流过的漏电流的电阻分量进行计算的步骤；以及将三相异电容接线的3相(R、S及T)各自的配线中流过的漏电流的电阻分量的测定结果输出的步骤。
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公开(公告)号：CN117368560A
公开(公告)日：2024-01-09
申请号：CN202310792622.1
申请日：2023-06-30
Abstract: 提供能够以更高精度对导线中流通的被测定电流进行测定的电流传感器。电流传感器(1)具有：磁芯(11)，其能够配置为将被测定电流流通的导线(50)的周围包围；多个磁传感器(12)，它们分别对磁芯的预先规定的部分的磁通进行检测；多个放大器(13)，它们与多个磁传感器对应地设置；多个反馈线圈(14)，它们与多个磁传感器对应地设置；以及电流检测部(16)，其基于在多个反馈线圈中分别流通的电流汇合后的电流而检测被测定电流。多个放大器分别将对应的磁传感器的输出放大而输出与该磁传感器的输出相应的电流。多个反馈线圈分别卷绕配置于磁芯，使得对应的放大器输出的电流在将对应的磁芯的预先规定的部分的磁通抵消的方向上流通。
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公开(公告)号：CN115704837A
公开(公告)日：2023-02-17
申请号：CN202210095324.2
申请日：2022-01-26
Inventor： 中山悦郎
IPC: G01R29/00
Abstract: 本发明提供测定器和测定方法。在包括最高采样率不同的多个模块的结构中，能够实时地比较各模块的输出信号的波形。测定器(10)包括：第一处理部(12a)，根据第一采样定时，对第一输入信号进行第一流水线处理；第二处理部(12b)，根据采样周期比第一采样定时长的第二采样定时，对第二输入信号进行第二流水线处理；调整部，将进行了第一流水线处理的第一输入信号的输出时机配合着进行了第二流水线处理的第二输入信号的输出时机来调整；以及制作部(17)，依次制作进行了第一流水线处理并通过调整部调整了输出时机的第一输入信号的波形、以及进行了第二流水线处理的第二输入信号的波形。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115685575A
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN202210904113.9
申请日：2022-07-29
Abstract: 本发明提供第一光学系统、分光器以及光学装置。本发明的第一光学系统(10)具有第一透镜(111)、第二透镜(112)、一对第一反射镜(12、13)、第三透镜(113)及第四透镜(114)，所述第一透镜(111)将光(L0)向衍射光栅(3)引导，所述第二透镜(112)将通过所述第一透镜(111)聚光在第一焦点(f1)的第一衍射光(L1)平行光化，所述一对第一反射镜(12、13)将第一衍射光(L1)向衍射光栅(3)折回，所述第三透镜(113)将第一衍射光(L1)聚光到第二焦点(f2)，所述第四透镜(114)将由第三透镜(113)聚光的第一衍射光(L1)向衍射光栅(3)引导，第一透镜(111)和第四透镜(114)具有彼此大致相同的第一焦距，第二透镜(112)和第三透镜(113)具有彼此大致相同的第二焦距，沿着从第一焦点(f1)到第二焦点(f2)的光路的第一距离由第一规定条件确定。
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公开(公告)号：CN115241721A
公开(公告)日：2022-10-25
申请号：CN202210390037.4
申请日：2022-04-14
Abstract: 本发明提供一种光脉冲测试仪，基于使光脉冲入射到光纤而得到的返回光来测试光纤的特性，该光脉冲测试仪包括：多个光源元件，射出相互不同波段的光脉冲；多个受光元件，与多个光源元件对应设置；第一空间光学系统，将从多个光源元件射出的光脉冲在空间上进行波长合波并入射到光纤；以及第二空间光学系统，将来自光纤的返回光在空间上进行波长分离并入射到多个受光元件。
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公开(公告)号：CN108318178B
公开(公告)日：2020-11-06
申请号：CN201810015977.9
申请日：2018-01-08
IPC: G01L27/00
Abstract: 压力测量器具备：压力传感器部；显示部，其对所述压力传感器部的测量值进行显示；以及测量控制部，其构成为，将所述压力传感器部的测量范围设定为由所述压力传感器部的固有的下限值，和小于或等于所述压力传感器部的固有的上限值的、彼此不同的上限值规定的多个测量范围中的任意者，在所述测量值超过与所设定的所述测量范围的上限值对应的显示上限值的情况下，避免由所述显示部进行所述测量值的显示。
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公开(公告)号：CN119575236A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202410973458.9
申请日：2024-07-19
Abstract: 容易地分离出漏电起痕电流。本发明涉及的电流测定装置(10)对漏电起痕电流进行测定。电流测定装置(10)具有：磁芯(11)，其能够配置为将测定对象的配线(100)的周围包围；以及第1线圈(L1)及第2线圈(L2)，其卷绕于磁芯(11)。第2线圈(L2)的匝数少于第1线圈(L1)的匝数。第2线圈(L2)能够检测在配线(100)中流通的漏电起痕电流。
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