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公开(公告)号：CN101697281A
公开(公告)日：2010-04-21
申请号：CN200910164688.6
申请日：2003-09-30
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B20/10009 , G11B20/22 , G11B2020/1288 , G11B2020/1873 , G11B2220/20 , G11B2220/2541
Abstract: 本发明涉及用于一种管理一次写入型记录介质的设备和方法，提供一种可一次写入的记录介质，以及一种用于管理所述记录介质上缺陷区的方法和设备。所述方法包括：在进行数据写入操作时，数据一经写入数据区，则在该记录介质的数据区内检测存在的缺陷区；如果检测到缺陷区，则将写入缺陷区的数据写入数据区的备用区；将与缺陷区相关的临时管理信息写入该记录介质的临时管理区；以及将用于存取临时管理信息用的存取信息写到该记录介质的保留区。
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公开(公告)号：CN101615416A
公开(公告)日：2009-12-30
申请号：CN200910160474.1
申请日：2003-11-27
Applicant: LG电子株式会社
IPC: G11B20/18 , G11B7/007 , G11B7/0037
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B7/00375 , G11B7/007 , G11B7/00736 , G11B2020/1873 , G11B2220/20
Abstract: 本发明提供了用于管理一次性写入光记录介质的缺陷区域的方法及使用该方法的光记录介质。在用于使用比如BD－WO类型光盘的光盘记录/再现数据的光盘设备中，该方法允许通过用于记录缺陷区域的数据的替换写入操作，来正常读取和再现写在光盘的缺陷区域上的记录数据。当在记录处理期间在光盘的预定记录扇区中检测到缺陷时，将记录数据写在对应于缺陷区域的备用区上，并因此管理写入数据。
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公开(公告)号：CN100559477C
公开(公告)日：2009-11-11
申请号：CN03808126.1
申请日：2003-09-26
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/1893 , G11B2220/20 , G11B2220/218 , G11B2220/2541
Abstract: 本发明公开了一种对诸如BD-WO等一次写入式光记录媒体上的缺陷区进行有效管理的方法，该方法能将已经被记录在光盘的缺陷区中的数据进行有效地置换和/或记录，例如将数据置换和/或记录在BD-WO的数据区的备用区中。在复制数据的过程中，已经被记录和置换的数据能够从备用区以外的区中读出并得以复制。新的TDFL信息可以与以前的TDFL信息一起作为对缺陷区的缺陷管理信息而被累积记录，或被至少两次重复记录在特定的记录区中，例如从导入区、数据区和导出区中所选出的记录区中，从而使得临时缺陷列表信息能够精确地和可靠地得以保证。
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公开(公告)号：CN100538857C
公开(公告)日：2009-09-09
申请号：CN200380108780.1
申请日：2003-11-27
Applicant: LG电子株式会社
IPC: G11B20/18
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B7/00375 , G11B7/007 , G11B7/00736 , G11B2020/1873 , G11B2220/20
Abstract: 本发明提供了用于管理一次性写入光记录介质的缺陷区域的方法及使用该方法的光记录介质。在用于使用比如BD-WO类型光盘的光盘记录/再现数据的光盘设备中，该方法允许通过用于记录缺陷区域的数据的替换写入操作，来正常读取和再现写在光盘的缺陷区域上的记录数据。当在记录处理期间在光盘的预定记录扇区中检测到缺陷时，将记录数据写在对应于缺陷区域的备用区上，并因此管理写入数据。
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公开(公告)号：CN100517491C
公开(公告)日：2009-07-22
申请号：CN200380110102.9
申请日：2003-11-27
Applicant: LG电子株式会社
Abstract: 一种在光学记录介质上记录的方法和装置，其中包括管理信息的记录，它作为一次写入蓝色激光盘的标准被描述。管理信息记录在光盘的管理区，诸如临时缺陷管理区(TDMA)中，同时包括记录状态信息和更新信息。记录状态信息是指示记录操作是否为了光盘的某一预定区域已经被执行的空间位图(SBM)，同时更新信息是指示该记录状态信息是否将被持续管理的SBM更新信息。所述SBM更新信息记录在TDMA内并且存储在光学记录/重写器件的存储器中用于在记录和重写操作中使用。在记录时，SBM-开状态使在需要时可执行逻辑重写操作。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1759438A
公开(公告)日：2006-04-12
申请号：CN200380110147.6
申请日：2003-10-01
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B7/00375 , G11B7/0053 , G11B7/00736 , G11B7/00745 , G11B7/24038 , G11B2020/1873 , G11B2220/20 , G11B2220/218 , G11B2220/2541
Abstract: 揭示了一种管理具有至少一个记录层的只写一次的光学记录介质上的缺陷的方法。管理至少一记录层上缺陷的方法包括以下步骤：将至少一个替换区域和多个临时缺陷管理区域分配到光学记录介质，其中临时缺陷管理区域分开提供，并将缺陷管理信息记录在多个临时缺陷管理区域的至少一个上。
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公开(公告)号：CN1745427A
公开(公告)日：2006-03-08
申请号：CN200380109412.9
申请日：2003-11-27
Applicant: LG电子株式会社
Abstract: 一种管理在单次写入光盘上的重写的方法，使得在可能在单次写入光盘上执行物理重写并在执行该物理重写后维持用户数据区的连续性。该方法包括从光盘的用户数据区的后部起替换记录被请求重写于已完成记录的光盘的特定区域的数据，并在光盘的管理区中记录根据替换记录操作改变的关于用户数据区的最后可记录位置的信息。
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公开(公告)号：CN1703741A
公开(公告)日：2005-11-30
申请号：CN03808126.1
申请日：2003-09-26
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/1893 , G11B2220/20 , G11B2220/218 , G11B2220/2541
Abstract: 本发明公开了一种对诸如BD－WO等一次写入式光记录媒体上的缺陷区进行有效管理的方法，该方法能将已经被记录在光盘的缺陷区中的数据进行有效地置换和/或记录，例如将数据置换和/或记录在BD－WO的数据区的备用区中。在复制数据的过程中，已经被记录和置换的数据能够从备用区以外的区中读出并得以复制。新的TDFL信息可以与以前的TDFL信息一起作为对缺陷区的缺陷管理信息而被累积记录，或被至少两次重复记录在特定的记录区中，例如从导入区、数据区和导出区中所选出的记录区中，从而使得临时缺陷列表信息能够精确地和可靠地得以保证。
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公开(公告)号：CN1682284A
公开(公告)日：2005-10-12
申请号：CN03821405.9
申请日：2003-09-30
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B20/10009 , G11B20/22 , G11B2020/1288 , G11B2020/1873 , G11B2220/20 , G11B2220/2541
Abstract: 本发明公开了一种一次写入型光记录介质，以及用于将管理信息记录到该记录介质上的方法和设备，该方法包括：将该记录介质正在使用时所产生的管理信息记录在临时缺陷管理区(TDMA)中；以及在该记录介质的DMA填充阶段将TDMA的最新管理信息转移并记录入该记录介质的最终缺陷管理区(DMA)中。
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