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公开(公告)号:CN1114923C
公开(公告)日:2003-07-16
申请号:CN97125806.6
申请日:1997-12-18
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B7/00375 , G11B20/182 , G11B27/34 , G11B27/36 , G11B33/10 , G11B2220/2545 , G11B2220/2562
Abstract: 用于测试一种光盘存储介质的方法和装置首先记录测试数据在光盘的一个外部区域中。当制造一个已被预先记录的磁盘时,光盘的此外部区域没有被使用,而其也没有被一次写入光盘的用户使用。光盘的质量是根据从光盘的外部区域中再现的测试数据中产生的测试信号来判断的。
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公开(公告)号:CN1264486A
公开(公告)日:2000-08-23
申请号:CN98807275.0
申请日:1998-07-14
Applicant: LG电子株式会社
Inventor: 吕运盛
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B7/0037 , G11B20/00086 , G11B20/00123 , G11B20/00586 , G11B20/1426
Abstract: 一种用于对光盘上的包括改动的第一信号的光盘记录测试数据进行复制保护的方法和设备,当再现时,这些改动的第一信号中的任意多个信号被再现为第二信号。第一和第二信号都代表在连续的一之间具有至少两个零的数据。用于光盘鉴别和再现的方法和设备通过重复再现测试数据生成测试数据的统计形式。如果测试数据与有可能也记录在光盘上的参考数据匹配,则该光盘被鉴定。一旦光盘被鉴定,则允许光盘的再现。如果测试数据形成再现数据的一部分,则将统计数据作为再现数据输出。
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公开(公告)号:CN1212423A
公开(公告)日:1999-03-31
申请号:CN98120038.9
申请日:1998-09-24
Applicant: LG电子株式会社
IPC: G11B13/06
CPC classification number: G11B20/10527 , G11B7/00375 , G11B7/26
Abstract: 一种用于检测光盘介质质量的方法和装置,从一个光盘中再生一个辅助信号,其中辅助信号与光盘的一个预格式化结构相对应。然后根据辅助信号确定光盘的质量。
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