一种一键式测试装置及测试方法

    公开(公告)号:CN111123001A

    公开(公告)日:2020-05-08

    申请号:CN201911281200.8

    申请日:2019-12-11

    Abstract: 本发明公开了一种一键式测试装置及测试方法,其中,一键式测试装置包括壳体和安装在所述壳体内的主控板;所述主控板包括以太网口及光口,所述以太网口及所述光口与目标测试设备连接,所述以太网口用于获取目标测试设备的装置定值、压板状态及动作报文中的至少一种,所述光口用于获取所述目标测试设备的开关量和电压电流。本发明能够通过一键式测试装置和变电站模型对多个变电站设备进行一键式测试,进而提高测试效率。进一步地,本发明能够自动生成测试报告,以便于操作人员根据测试报告对变电站设备进行测试。

    一种调控一体化系统中间隔图自动生成免维护的方法

    公开(公告)号:CN107978007B

    公开(公告)日:2021-05-14

    申请号:CN201711353595.9

    申请日:2017-12-15

    Abstract: 本发明公开了一种调控一体化系统中间隔图自动生成免维护的方法,通过本发明的方法使用间隔图免维护功能后,只需要鼠标一点,即刻生成间隔图,并且在设备异动时,只需要将主接线图与数据库中的名称进行修改,便会通过二维表自动同步在间隔图内,节省了大量时间,从而减少了传统系统中重复生成间隔图的繁琐操作,使维护人员得以解放出来。

    一种离线式模拟测试装置
    15.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110740076A

    公开(公告)日:2020-01-31

    申请号:CN201910852821.0

    申请日:2019-09-10

    Abstract: 本发明提供一种离线式模拟测试装置,所述装置包括:RAM板卡和FPGA板卡,所述RAM板卡与所述FPGA板卡电连接;所述RAM板卡设置有处理器,用于承载有关的信息输入、输出、显示功能;所述FPGA板卡用于对采集的数据进行处理,并将处理后的数据传送给所述RAM板卡进行可视化展示;本发明采用FPGA板卡进行数据处理,处理速度较快;并通过在RAM板卡上配置多个接口,且多个接口可以同时输入/输出信息,满足对智能电子装置测试的各种需求,通用性较佳。

    一种用于变电站二次系统的模拟测试设备

    公开(公告)号:CN111141970A

    公开(公告)日:2020-05-12

    申请号:CN201911270297.2

    申请日:2019-12-11

    Abstract: 本发明公开一种用于变电站二次系统的模拟测试设备,该设备包括:主控单元,用于基于时间同步信息执行数据处理操作;时间处理单元,与主控单元电连接,用于生成并输出时间同步信息;光通信单元,与主控单元电连接,用于获取发送自二次设备的光通信信息并对光通信信息进行处理以获得处理后通信信息,将处理后通信信息传输至主控单元;同步单元,与时间处理单元电连接,用于基于时间同步信息生成同步时间;供电单元,与主控单元、时间处理单元、同步单元及光通信单元电连接,用于提供工作电能。通过光通信接口接收二次设备发送的数据,支持对光通信的B码的对时/授时功能,提高数据传输效率,保证数据传输的精确性,提高测试效率及测试精确性。

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