-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116430579A
公开(公告)日：2023-07-14
申请号：CN202211650193.6
申请日：2022-12-21
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明属于光学测量技术领域，公开了一种基于振荡狭缝的光电瞄准方法，其特点是：依照光电瞄准光斑被狭缝两个内边同时斩光时，由于狭缝的斩波频率和参考信号源参考频率不一致，导致的这两路信号在通过锁相的乘法器和积分器后输出信号为零的特性，来进行瞄准。本发明解决了测角领域中精确瞄准的问题，并实现了由紫外‑可见‑红外宽波段的精确瞄准。且装置体积小便于安装和集成化，可用于实现其它测量领域的瞄准功能，具有广阔的应用前景。
-
公开(公告)号：CN116148224A
公开(公告)日：2023-05-23
申请号：CN202211667698.3
申请日：2022-12-23
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明属于光学测量技术领域，公开了一种光学材料光弹系数测量装置及测量方法，装置包括：光源、起偏器、第一调制器、加压装置、第二调制器、检偏器、探测器、信号处理单元和计算机；方法包括：光学材料样块放置在加压装置中，加压装置对样块施加压力，光源出射光通过起偏器，经由第一调制器调制后进入样块，透射光依次通过第二调制器和检偏器后进入探测器，经计算机计算得到样块在该压力下对应的光延迟量，改变加压装置施加的压力并重复上述步骤，根据样块在不同压力下对应的光延迟量，计算得到该光学材料样块的光弹系数。本发明装置测量精度高、应力范围大以及波长覆盖范围广，适于国防军事领域飞行器光学窗口等光学材料的光弹系数测试。
-
公开(公告)号：CN113029198B
公开(公告)日：2023-03-10
申请号：CN202110280082.X
申请日：2021-03-16
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01C25/00
Abstract: 本发明属于光学计量与测量技术领域，具体涉及一种跟踪精度测量仪校准装置，包括：平行光管阵列、跟踪精度探测器组、精密可调轴系和计算机采集处理系统；平行光管阵列用于接收、对准和无畸变聚焦被校准跟踪精度测量仪发出的光信号，将光信号会聚到跟踪精度探测器组的光敏面上；跟踪精度探测器组用于探测来自平行光管阵列的光信号，并转换输出电信号；精密可调轴系用于对平行光管阵列和跟踪精度探测器组进行支撑和高精度调节；计算机采集处理系统用于采集跟踪精度探测器组输出的电信号，进行数据分析处理和存储。其具有工作波长范围宽、动态范围大、跟踪精度特性参数精确测量等主要功能和特点，满足武器型号光电系统跟踪精度测量仪的测量校准需求。
-
公开(公告)号：CN111272284A
公开(公告)日：2020-06-12
申请号：CN202010165924.2
申请日：2020-03-11
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01J4/00
Abstract: 本发明属于光学计量与测量技术领域，具体涉及一种大口径激光偏振特性测量仪；所述大口径激光偏振特性测量仪包括：聚焦光学系统、激光偏振特性测量仪探测器和激光偏振特性测量仪控制器；本发明采用了反射式离轴抛物面反射镜聚焦光学系统对大口径激光光束进行聚焦，避免了透射式光学元件由于材料自身的缺陷对测量光束偏振状态的影响，离轴抛物面反射镜采用小角度入射，聚焦光学系统具有自准直系统确保测量光束入射角小于1.3°，反射对测量光束偏振状态的影响非常小，因此，离轴抛物面式反射光学系统不会对测量光束偏振状态造成影响。本发明解决了目前大口径激光偏振特性测量的难题，具有测量准确度高，应用前景广的特点。
-
公开(公告)号：CN107764520A
公开(公告)日：2018-03-06
申请号：CN201711038614.9
申请日：2017-10-30
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种光学镜头残余偏振测试装置，该装置采用三端开口的积分球和卤钨灯作为光源，并采用聚焦透镜对光束进行聚焦，采用由消色差滤光片、偏振器和1/4波片组成的起偏光学系统提供特定偏振状态特定波长的测量光束；采用大口径离轴抛物面反射镜对测量光束进行准直后再通过被测光学镜头；并利用光电探测器对经过放大器放大的偏振光信号进行测量，从而实现了波长范围0.45μm∽1.1μm、偏振度测量范围0.1∽0.9的光学镜头残余偏振度测量。
-
-
-
-
Search Results
15
records
(took 0.027 seconds)
