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公开(公告)号：CN115206378A
公开(公告)日：2022-10-18
申请号：CN202210329227.5
申请日：2022-03-30
Applicant: 美光科技公司
Abstract: 本申请案涉及降低相变存储器阵列中的短位的影响的系统及方法。一种存储器装置包含包括多个存储器元件的存储器阵列及耦合到所述存储器阵列的存储器控制器。所述存储器控制器在处于操作中时接收所述存储器阵列中的缺陷的指示，当所述缺陷正影响所述多个存储器元件中的仅一个存储器元件时，确定所述缺陷的第一位置，当所述缺陷正影响所述多个存储器元件中的两个或更多个存储器元件时，确定所述缺陷的第二位置，及当所述缺陷正影响所述多个存储器元件中的两个或更多个存储器元件时，在所述第二位置处对有缺陷存储器元件执行熔断操作。
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