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公开(公告)号:CN1971731B
公开(公告)日:2010-08-11
申请号:CN200610171919.2
申请日:2006-10-31
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: G11B20/00688 , G11B7/0053 , G11B7/259 , G11B20/00086 , G11B20/00115 , G11B20/00594 , G11B20/10 , G11B2220/218 , G11B2220/2541 , Y10T428/21
Abstract: 一种光记录介质,包括衬底上的至少反射膜和覆盖层;组合凹坑和凸台的主数据被记录在衬底上;在所述反射膜上经过照射激光使一次写入记录成为可能;对于反射膜,通过由照射激光形成的标记记录子数据,用于一次写入记录;对于规定长度的凸台,再现信号电平在形成所述标记的部分上升;为通过物理复制制造的光盘记录介质形成标记,其中利用所述标记,再现电平在形成标记的部分下降;反射膜由Ag-合金膜Ag100-xXx(0<x<100)组成;而且X是从Ti,W,Ta,V,Mo,Nb和Zr中选出来的。
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公开(公告)号:CN101567199A
公开(公告)日:2009-10-28
申请号:CN200910134490.3
申请日:2009-04-21
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: G11B7/26
Abstract: 本发明公开了光盘制造方法、原盘制造方法和光盘,其中,该光盘制造方法包括以下步骤:通过在基板上形成具有记录激光波长的17%以下的厚度的蓄热层并形成无机抗蚀层来制造预曝光原盘;通过执行记录激光照射,对原盘的无机抗蚀层执行具有凹坑和间隙的记录信号图样的曝光;通过在曝光之后执行显影处理来制造具有含凹坑和间隙的凹坑阵列形状的原盘;通过使用具有凹坑阵列形状的原盘来制造被转印凹坑阵列形状的压模;以及制造具有预定层结构的光盘,预定层结构包括被转印压模的凹坑阵列形状并在凹坑阵列形状上形成银或银合金反射膜的记录层。通过本发明,提高了高记录密度光盘的生产率。
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公开(公告)号:CN101371303A
公开(公告)日:2009-02-18
申请号:CN200780002828.9
申请日:2007-11-08
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B7/00451 , G11B7/263 , G11B7/268
Abstract: 在使用压模大量制造光盘基片的阶段,在形成为由凹坑/岸台记录的一系列数据的记录轨道内,没有形成凹坑/岸台的一区域预先形成为附加信息记录区域。金属合金反射膜涂覆在包括这种附加信息记录区域(10)的信息记录表面上。此后,附加信息记录区域(10)中的金属合金反射膜的部分区域被除去或减少,以形成凹坑空位标记(6),由此记录附加信息。该附加信息记录在信息记录区中的记录轨道的部分区域上,在所述信息记录区中,信息被记录为由凹坑/岸台形成的一系列数据并且包括内容区和控制区比如导入区。凹坑空位标记(6)形成为标记,当被再现时可以从该标记获得类似于凹坑的逻辑值。
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公开(公告)号:CN101151664A
公开(公告)日:2008-03-26
申请号:CN200680010741.1
申请日:2006-02-07
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: G11B20/00086 , G11B7/24085 , G11B20/00094 , G11B20/00173 , G11B20/00586 , G11B20/00594 , G11B20/10 , G11B2020/1453
Abstract: 通过凹坑和平台的组合将主数据记录在光盘(100)的衬底(101)的一侧上。对反射薄膜(102)和涂覆层(103)分层以覆盖在衬底上形成凹坑和平台的表面。通过以记录功率将激光束照射到反射膜形成的标记来记录副数据。在根据合法光盘(其中在具有标记的部分处的再现信号电平增加)制造的伪造盘中,执行标记记录,从而在具有标记的部分处的再现信号电平降低,并且在具有标记的部分处的再现信号的极性在合法盘与伪造盘之间是不同的。而且,通过再现装置检测光盘上记录的副数据,并且判断所检测的副数据具有用合法极性再现的值,从而判断该盘是合法盘还是伪造盘。
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公开(公告)号:CN1401118A
公开(公告)日:2003-03-05
申请号:CN01805112.X
申请日:2001-12-10
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: B29C45/263 , B29C45/1759 , B29C45/382 , B29C45/42 , B29C45/4225 , B29D17/005 , B29L2017/005 , G11B5/7315 , G11B7/24 , G11B7/263 , G11B11/10582 , G11B11/10584 , G11B23/0035 , Y10S425/81
Abstract: 有可能获得一种其中心孔的边缘不含溢料的圆盘基片。在圆盘基片(23)中,中心孔(24)设置有直线形部分(24a)和锥形部分(24b),并且在锥形部分(24b)的信号传递表面(22)一侧上的边缘设置有R表面或C表面(24c),一种最佳地应用于模塑圆盘基片(23)的模塑设备,以及一种圆盘取出设备。
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公开(公告)号:CN102667933B
公开(公告)日:2015-07-08
申请号:CN201080042946.4
申请日:2010-09-17
Applicant: TDK股份有限公司 , 松下电器产业株式会社 , 索尼株式会社
IPC: G11B7/24038
CPC classification number: G11B7/24038 , Y10T428/21
Abstract: 在具有三层以上的信息记录层的光记录介质中,在相邻的信息记录层之间配置的多个中间层的折射率大于在光入射面和距该光入射面最近的信息记录层之间配置的覆盖层的折射率。由此,在具有三层以上的信息记录层的光记录介质中,降低由多面反射光引起的串扰,提高信号品质。
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公开(公告)号:CN101151664B
公开(公告)日:2012-10-10
申请号:CN200680010741.1
申请日:2006-02-07
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: G11B20/00086 , G11B7/24085 , G11B20/00094 , G11B20/00173 , G11B20/00586 , G11B20/00594 , G11B20/10 , G11B2020/1453
Abstract: 通过凹坑和平台的组合将主数据记录在光盘(100)的衬底(101)的一侧上。对反射薄膜(102)和涂覆层(103)分层以覆盖在衬底上形成凹坑和平台的表面。通过以记录功率将激光束照射到反射膜形成的标记来记录副数据。在根据合法光盘(其中在具有标记的部分处的再现信号电平增加)制造的伪造盘中,执行标记记录,从而在具有标记的部分处的再现信号电平降低,并且在具有标记的部分处的再现信号的极性在合法盘与伪造盘之间是不同的。而且,通过再现装置检测光盘上记录的副数据,并且判断所检测的副数据具有用合法极性再现的值,从而判断该盘是合法盘还是伪造盘。
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公开(公告)号:CN102077283A
公开(公告)日:2011-05-25
申请号:CN200980125376.2
申请日:2009-10-13
Applicant: 松下电器产业株式会社 , TDK股份有限公司 , 索尼株式会社
IPC: G11B7/24
CPC classification number: G11B7/24038 , G11B7/1376 , G11B7/13925 , Y10T428/21
Abstract: 本发明提供一种可提高伺服信号及再生信号的质量的光记录介质及光记录介质的制造方法。对于光记录介质(40),当定义光记录介质(40)的表面(40z)与第一信息记录面(40a)之间的厚度为t1、第一信息记录面(40a)与第二信息记录面(40b)之间的厚度为t2、第二信息记录面(40b)与第三信息记录面(40c)之间的厚度为t3、第三信息记录面(40c)与第四信息记录面(40d)之间的厚度为t4时,满足t3-t4≥1μm、t4-t2≥1μm、t2≥10μm及t1-(t2+t3+t4)≥1μm。
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公开(公告)号:CN101595525A
公开(公告)日:2009-12-02
申请号:CN200880003602.5
申请日:2008-12-08
Applicant: 索尼株式会社
IPC: G11B7/007 , G11B7/0045 , G11B7/24 , G11B7/26
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B7/00451 , G11B7/24085 , G11B7/24094 , G11B7/263 , G11B7/268
Abstract: 在信息信号记录平面上的信息信号区域对应于调制信息数据被形成为在反射镜上的凹坑,并被金属合金反射膜覆盖。信息信号区域具有不包含对应于信息数据的凹坑的部分。在不包含凹坑的相应部分上的金属合金反射膜部分被形成为对应于信息数据的穿孔标记。在这种情况下,通过调整凹坑的深度和宽度和/或调整穿孔标记的宽度和长度,可以获得与穿孔标记信号的再现信号振幅电平基本相同的预制凹坑信号再现信号振幅电平。这样抑制由于波形等化电路引起的波形变形的产生或者由于限制电平移位引起的二进制信号的不规则性,从而通过同一读取设备稳定地、可靠地检测信号。
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公开(公告)号:CN1932997A
公开(公告)日:2007-03-21
申请号:CN200510128771.X
申请日:2002-07-18
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: G11B7/24079 , G11B7/00 , G11B7/007 , G11B7/24082 , G11B7/263 , G11B2005/0005
Abstract: 一种具有沿记录光道形成的凹槽(2)、用于在辐照特定波长λ的光L时进行记录和/或再现的光记录与再现介质,其中凹槽(2)的光道间距p最小为200nm,最大为350nm,而凹槽(2)的宽度Wg与光道间距p的比值Wg/p最小为0.24,最大为0.67。
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