有源矩阵型电光装置和电子仪器

    公开(公告)号:CN1497313A

    公开(公告)日:2004-05-19

    申请号:CN03154491.6

    申请日:2003-09-30

    Inventor: 二村徹 藤田伸

    CPC classification number: G02F1/133553 H01L27/12 H01L27/1214

    Abstract: 提供防止因接触孔引起的光的干涉,进而可以防止来自光反射膜的反射光的干涉的有源矩阵型电光装置及使用该有源矩阵型电光装置的电子仪器。在反射型有源矩阵型电光装置的TFT阵列基板中,在形成为矩阵状的各像素100a的每个中,在接触孔5d内也形成光反射膜8a,通过将像素电极9a与漏极6b电气连接的接触孔5d的位置及下层侧凹凸形成膜13a使在反射膜8a的表面形成的光散射用的凹凸图案8g在各像素中不同。

    输出控制电路、驱动电路、电光装置和电子设备

    公开(公告)号:CN1485811A

    公开(公告)日:2004-03-31

    申请号:CN03153308.6

    申请日:2003-08-08

    Inventor: 藤田伸

    CPC classification number: G09G3/3688

    Abstract: 本发明的目的在于消除采样信号的重复。数据线驱动电路200具有将各移位寄存器单位电路Ua1~Uan+2串联连接的移位寄存器部210和由各运算单位电路Ub1~Ubn+1构成的输出信号控制部220。“与非”电路514根据下一级的运算单位电路的“与非”电路511的输出信号限制负采样信号的有效期间。

    电光装置的检查方法、电光装置的检查用电路、电光装置及电子设备

    公开(公告)号:CN1357871A

    公开(公告)日:2002-07-10

    申请号:CN01142752.3

    申请日:2001-12-06

    Inventor: 藤田伸

    CPC classification number: G09G3/006

    Abstract: 本发明的课题是对配线和电极等有无缺陷进行精确检查。其目的是提供一种对备有与扫描线4-i和数据线5-j的交叉点对应设置的电容的电光装置100进行检查的方法。在将与数据信号对应的电荷存储在电容62内之后,通过使设置在数据线5-j与读出信号线35之间的检查开关元件34-j接通,将与存储在上述电容62内的电荷对应的电压输出到读出信号线35。使检查开关元件34-j接通的时刻,与规定检查用电路3的动作的检查用时钟信号TCK的电平变化时刻不同。

    电光学装置以及电子设备
    16.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107767818B

    公开(公告)日:2020-06-19

    申请号:CN201710880432.X

    申请日:2013-02-20

    Abstract: 本发明涉及电光学装置以及电子设备。其中,电光学装置具备:显示部、数据线驱动电路、保持数据线的电位的第一保持电容、驱动控制电路、以及向驱动控制电路供给明亮度信息并且向数据线驱动电路供给图像信号的显示控制电路。数据线驱动电路具有:被供给电位控制信号的电位控制线、一端与数据线连接并且另一端被供给基于图像信号的电位的第三保持电容、以及在第三保持电容的另一端和电位控制线之间电连接的第一晶体管,驱动控制电路根据明亮度信息控制电位控制信号的电位。

    电光学装置以及电子设备
    17.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106023896B

    公开(公告)日:2019-06-14

    申请号:CN201610471327.6

    申请日:2012-03-08

    Inventor: 藤田伸

    Abstract: 一种电光学装置,使不易受到起因于数据线(114)的电位变动的噪声的影响,而对流过发光元件(150)的电流进行控制。具有相互交叉的扫描线(112)以及数据线(114)、与上述交叉对应地设置的像素电路(110)以及屏蔽配线(81a、81b)。像素电路(110)具备:发光元件(150);对流过发光元件(150)的电流进行控制的晶体管(140);以及在晶体管(140)的栅极结点(g)和数据线(114)之间,根据供给至扫描线(112)的扫描信号被控制导通状态的晶体管(130),屏蔽配线(81a、81b)在俯视时设置于数据线(114)和晶体管(140)之间。

    电光学装置以及电子设备
    18.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105976763B

    公开(公告)日:2019-06-14

    申请号:CN201610471769.0

    申请日:2012-03-08

    Inventor: 藤田伸

    Abstract: 一种电光学装置,使不易受到起因于数据线(114)的电位变动的噪声的影响,而对流过发光元件(150)的电流进行控制。具有相互交叉的扫描线(112)以及数据线(114)、与上述交叉对应地设置的像素电路(110)以及屏蔽配线(81a、81b)。像素电路(110)具备:发光元件(150);对流过发光元件(150)的电流进行控制的晶体管(140);以及在晶体管(140)的栅极结点(g)和数据线(114)之间,根据供给至扫描线(112)的扫描信号被控制导通状态的晶体管(130),屏蔽配线(81a、81b)在俯视时设置于数据线(114)和晶体管(140)之间。

    电光学装置以及电子设备
    20.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105976763A

    公开(公告)日:2016-09-28

    申请号:CN201610471769.0

    申请日:2012-03-08

    Inventor: 藤田伸

    Abstract: 一种电光学装置,使不易受到起因于数据线(114)的电位变动的噪声的影响,而对流过发光元件(150)的电流进行控制。具有相互交叉的扫描线(112)以及数据线(114)、与上述交叉对应地设置的像素电路(110)以及屏蔽配线(81a、81b)。像素电路(110)具备:发光元件(150);对流过发光元件(150)的电流进行控制的晶体管(140);以及在晶体管(140)的栅极结点(g)和数据线(114)之间,根据供给至扫描线(112)的扫描信号被控制导通状态的晶体管(130),屏蔽配线(81a、81b)在俯视时设置于数据线(114)和晶体管(140)之间。

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