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    光谱成像检测器
    11.
    发明授权
    光谱成像检测器 有权

    公开(公告)号：CN102216806B

    公开(公告)日：2015-08-19

    申请号：CN200980145930.3

    申请日：2009-10-29

    Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

    Inventor： R·A·马特森 ,  R·P·卢赫塔 ,  M·A·查波

    IPC: G01T1/20

    CPC classification number: G01T1/2018 ,  G01T1/00 ,  G01T1/161

    Abstract: 一种包括光电二极管阵列(122)的一维多元件光电检测器(120)，所述光电二极管阵列(122)具有第一上部行光电二极管像素和第二下部行光电二极管像素。光电二极管阵列(122)是所述光电检测器(120)的一部分。闪烁器阵列(126)包括第一上部行闪烁器像素和第二下部行闪烁器像素。第一上部行闪烁器像素和第二下部行闪烁器像素分别与第一上部行光电二极管像素和第二下部行光电二极管像素光耦合。光电检测器(120)也包括读取电子装置(124)，所述读取电子装置也是所述光电检测器(120)的一部分。电迹线(512)将光电二极管像素与读取电子装置(124)互连。

    基于辐射剂量的成像探测器瓦片参数补偿
    13.
    发明公开
    基于辐射剂量的成像探测器瓦片参数补偿 失效

    公开(公告)号：CN102656478A

    公开(公告)日：2012-09-05

    申请号：CN201080057215.7

    申请日：2010-11-18

    Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

    Inventor： M·A·查波 ,  R·P·卢赫塔 ,  R·A·马特森

    IPC: G01T7/00

    CPC classification number: G01T7/005

    Abstract: 一种成像系统（100）的探测器瓦片（116）包括光传感器阵列（204）；以及电耦合至所述光传感器阵列（204）的电子装置（208），其中所述电子装置包括剂量确定器（402），所述剂量确定器确定所述探测器瓦片（116）的沉积剂量以及产生指示所述沉积剂量的信号。在一个非限制性的示例中，该信号用于校正诸如增益和热系数的、可能随着辐射剂量变化的参数。

    具有预聚焦抗散射栅格的检测器阵列
    14.
    发明公开
    具有预聚焦抗散射栅格的检测器阵列 有权

    公开(公告)号：CN102428388A

    公开(公告)日：2012-04-25

    申请号：CN201080021763.4

    申请日：2010-04-14

    Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

    Inventor： R·P·卢赫塔 ,  R·A·马特森 ,  B·E·哈伍德

    IPC: G01T1/29

    CPC classification number: G01T1/2985

    Abstract: 一种辐射敏感检测器阵列，包括相对于所述成像系统(100)沿z轴方向延伸并沿x轴方向排列的多个检测器模块(118)。检测器模块中的至少一个包括模块构架(124)和至少一个检测器组块(122)。所述至少一个检测器组块(122)通过非螺纹紧固件(142)耦合到模块构架(124)。所述至少一个检测器组块(122)包括二维检测器(126)和聚焦在成像系统(100)的焦斑(112)处的二维抗散射栅格(128)。

    一种X射线照相成像设备、方法及X射线断层摄影扫描器
    15.
    发明授权
    一种X射线照相成像设备、方法及X射线断层摄影扫描器 失效

    公开(公告)号：CN101080653B

    公开(公告)日：2012-02-29

    申请号：CN200580043358.1

    申请日：2005-12-05

    Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

    Inventor： R·P·卢塔 ,  M·A·查波 ,  B·E·哈伍德 ,  R·A·马特森 ,  C·J·弗雷托斯

    IPC: G01T1/29

    CPC classification number: A61B6/032 ,  A61B6/585 ,  G01T1/24

    Abstract: X射线照相成像设备(10)，包括发射辐射束到检查区域(16)的第一辐射源(14)。探测器(18)将穿过检查区域(16)的所探测的辐射线转换成表示所探测的辐射的探测器电信号。探测器(18)具有至少一个在时间上变化的特性，如偏移B(t)或增益A(t)。栅极脉冲装置(64)以每秒1000到5000个脉冲的速率将第一辐射源(14)打开和关闭，这样在每秒1000到5000次之间至少重新测量偏移B(t)，并在探测器信号产生过程中多次修正。用第二脉冲装置(88)通过发脉冲给恒定强度(XRef)的第二受脉冲作用的源(86，100，138)来测量增益A(t)。在探测器信号产生过程中对增益A(t)每秒多次重新测量和修正。

    基于辐射剂量的成像探测器瓦片参数补偿
    16.
    发明授权
    基于辐射剂量的成像探测器瓦片参数补偿 失效

    公开(公告)号：CN102656478B

    公开(公告)日：2015-05-27

    申请号：CN201080057215.7

    申请日：2010-11-18

    Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

    Inventor： M·A·查波 ,  R·P·卢赫塔 ,  R·A·马特森

    IPC: G01T7/00

    CPC classification number: G01T7/005

    Abstract: 一种成像系统（100）的探测器瓦片（116）包括光传感器阵列（204）；以及电耦合至所述光传感器阵列（204）的电子装置（208），其中所述电子装置包括剂量确定器（402），所述剂量确定器确定所述探测器瓦片（116）的沉积剂量以及产生指示所述沉积剂量的信号。在一个非限制性的示例中，该信号用于校正诸如增益和热系数的、可能随着辐射剂量变化的参数。

    用于计算机断层摄影的具有被遮挡的电子装置的辐射探测器
    19.
    发明公开
    用于计算机断层摄影的具有被遮挡的电子装置的辐射探测器 失效

    公开(公告)号：CN1735818A

    公开(公告)日：2006-02-15

    申请号：CN200380108336.X

    申请日：2003-12-17

    Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

    Inventor： R·A·马特森 ,  R·P·卢塔 ,  M·A·查波

    IPC: G01T1/20 ,  G01T1/29

    CPC classification number: G01N23/046 ,  G01N2223/419 ,  G01T1/2018 ,  G01T1/2985

    Abstract: 一种辐射探测器模块，包括闪烁体(62、62’、162、262)，其设置成接收计算机断层摄影设备(10)的透过的辐射。该闪烁体产生与透过的辐射相对应的光学辐射。探测器阵列(66、66’、166、266)设置成将所述光学信号转变成电信号。电子装置(72、72’、172、272)设置透射辐射的路径中、与闪烁体相对的探测器一侧上。辐射挡板(86、86’、100、100’、100”、186、210、210’、286、286’)设置在探测器阵列和电子装置之间，以吸收通过闪烁体的透过的辐射。辐射挡板包括连接在探测器阵列和电子装置之间的开口(90、90’)。电连接线(88、88’、102、102’、102”、188、212、212’、288、288’)通过辐射挡板开口并电连接探测器阵列和电子装置。

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