速度测试方法、装置、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN112765033B

    公开(公告)日:2024-08-02

    申请号:CN202110104057.6

    申请日:2021-01-26

    Abstract: 本申请公开了一种速度测试方法、装置、设备及存储介质,涉及软件开发与测试领域。具体实现方案为:获取用户的速度测试配置信息;若根据所述速度测试配置信息确定需要对待启动页面进行速度测试,则收集所述待启动页面的日志信息;根据所收集的日志信息,确定所述待启动页面的启动速度。为高效地确定页面的启动速度提供了一种新思路。

    一种测试资料处理方法、装置、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN113626409B

    公开(公告)日:2023-08-15

    申请号:CN202110901465.4

    申请日:2021-08-06

    Abstract: 本公开提供了一种测试资料处理方法、装置、设备及存储介质,涉及计算机技术领域,尤其涉及软件开发与测试、数据存储、以及智能搜索技术。具体实现方案为:获取测试资料存储请求;在识别到所述测试资料存储请求中包括基本参数的情况下,根据所述基本参数,对目标测试资料进行存储;其中,所述基本参数至少包括版本信息、型号信息和产品信息。根据本公开的技术,实现了对不同类型测试资料的统一管理。

    模板匹配的方法、装置、电子设备和存储介质

    公开(公告)号:CN111797933B

    公开(公告)日:2023-07-28

    申请号:CN202010660581.7

    申请日:2020-07-10

    Abstract: 本申请公开了模板匹配的方法、装置、电子设备和存储介质,涉及图像识别技术领域。具体实现方案为:获取目标图形、原始设备屏幕尺寸、当前设备屏幕尺寸、当前设备屏幕的截图;根据原始设备屏幕尺寸、当前设备屏幕尺寸计算出缩放比例;根据计算出的缩放比例将目标图形缩放;将缩放后的目标图形与截图进行模板匹配;如果根据计算出的缩放比例匹配成功,则输出目标图形的坐标,并记录匹配成功的缩放比例作为预置缩放比例。该实施方式提高了模板匹配的速度和准确率。

    测试数据处理方法、装置、电子设备以及存储介质

    公开(公告)号:CN112835759A

    公开(公告)日:2021-05-25

    申请号:CN202110139435.4

    申请日:2021-02-01

    Abstract: 本公开公开了一种用于控制设备的测试数据处理方法、装置、电子设备、存储介质以及程序产品,涉及计算机技术领域,尤其涉及测试技术领域。具体实现方案为:获得待测试设备的当前可用存储空间量;基于当前可用存储空间量,将多个测试数据划分为n个数据集合,每个数据集合的数据量均小于当前可用存储空间量,n为大于等于2的整数;以及依次将n个数据集合发送至待测试设备,以使待测试设备依次利用n个数据集合对待测试设备中的功能模块进行测试。

    一种视频测试方法、装置、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN112055198A

    公开(公告)日:2020-12-08

    申请号:CN202010947309.7

    申请日:2020-09-10

    Abstract: 本申请公开了一种视频测试方法、装置、电子设备及存储介质,涉及图像处理技术领域,进一步涉及多媒体测试技术领域,包括:对当前播放视频进行屏幕录制,得到录制待测试视频;对所述录制待测试视频进行分帧处理,得到多个待测试图像帧;对所述待测试图像帧的视频播放区域进行裁剪,得到多个待测试播放区域图像帧;对所述待测试播放区域图像帧进行测试,并输出视频测试数据。本申请实施例能够提高视频测试的精度和准确度。

    测试方法和装置
    18.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111984476A

    公开(公告)日:2020-11-24

    申请号:CN202010602034.3

    申请日:2020-06-29

    Abstract: 本申请公开了测试方法和装置,涉及计算机技术领域和计算机前台技术领域,可用于基于人工智能的终端设备的性能测试、应用对象测试等应用中。具体方案为:响应针对目标终端的测试请求,显示包含多个测试动作控件的测试界面,获取用户从多个测试动作控件中选择的目标测试动作控件;将目标终端上各应用对象的操作与目标测试动作控件进行匹配,获取与目标测试动作控件匹配成功的多个候选应用对象,并在测试界面上显示各候选应用对象的标识信息;获取用户从各候选应用对象的标识信息中选择的目标标识,控制与目标标识对应的目标应用对象执行目标测试动作控件进行测试。由此,降低了测试难度和维护成本,提高了测试效率。

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