测试方法、通信元件及测试系统

    公开(公告)号:CN1830187A

    公开(公告)日:2006-09-06

    申请号:CN200480021884.3

    申请日:2004-07-30

    Inventor: 渡边大辅

    CPC classification number: G01R31/31937 G01R31/3016 H04L1/24

    Abstract: 本发明提供一种通信元件的测试方法。该测试方法包括:接收根据基准时钟所生成的测试信号并发送的阶段;将测试信号的期待值根据基准时钟生成的阶段;使测试信号延迟的阶段;将延迟的测试信号与期待值进行比较并输出比较结果的阶段;使延迟时间进行变化,并反复进行上述阶段,且在每延迟时间存储比较结果的阶段;根据每延迟时间的比较结果,对测试信号的孔径进行检测的阶段;根据所检测的孔径进行通信元件的好坏判定的阶段。

    传送系统、接收装置、测试装置及测试头

    公开(公告)号:CN1802811A

    公开(公告)日:2006-07-12

    申请号:CN200480015931.3

    申请日:2004-06-08

    Abstract: 一种传送系统,包括输出预定周期的周期时脉的周期时脉输出部、将传送信号与周期时脉同步传送的传送部、及接收传送信号的接收部。此接收部具有数据同步时脉产生部,根据来自传送信号的取样数据,以产生与取样数据值的变化同步的数据同步时脉;周期相位差检测部,对周期时脉和数据同步时脉的周期相位差进行检测;相位变化时脉产生部,根据周期相位差产生使周期时脉的周期改变的相位变化时脉,使相位变化时脉和数据同步时脉的相位差,即相位变化差,变成预定大小;以及藉由与相位变化时脉同步接收传送信号,从而从传送信号中取出取样数据,并供给到数据同步时脉产生部的数据取出部。

    测试方法、通信元件及测试系统

    公开(公告)号:CN100514946C

    公开(公告)日:2009-07-15

    申请号:CN200480021884.3

    申请日:2004-07-30

    Inventor: 渡边大辅

    CPC classification number: G01R31/31937 G01R31/3016 H04L1/24

    Abstract: 本发明提供一种通信元件的测试方法。该测试方法包括:接收根据基准时钟所生成的测试信号并发送的阶段;将测试信号的期待值根据基准时钟生成的阶段;使测试信号延迟的阶段;将延迟的测试信号与期待值进行比较并输出比较结果的阶段;使延迟时间进行变化,并反复进行上述阶段,且在每延迟时间存储比较结果的阶段;根据每延迟时间的比较结果,对测试信号的孔径进行检测的阶段;根据所检测的孔径进行通信元件的好坏判定的阶段。

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