一种单轴测量式测头及其测量方法

    公开(公告)号:CN112247670A

    公开(公告)日:2021-01-22

    申请号:CN202011100372.3

    申请日:2020-10-15

    Abstract: 本发明涉及一种单轴测量式测头及其方法,包括壳体、传感器、测杆、偏摆测量机构和激光线指示装置;壳体上端设有安装柄;传感器、偏摆测量机构处于壳体内,测杆的上端处于壳体内,其下端向下伸出到壳体的外部并设有与工件接触的测球,并且测杆的上端通过偏摆测量机构连接传感器的动栅,并带动传感器的动栅相对其静栅同步左右摆动;激光线指示装置固定在壳体上,其朝下射出的激光线所处的方向与测杆的测量偏摆方向一致,并用于壳体安装到机床上时校正测量方向及测量时指示测量方向。本发明将原有测杆在二维,三维方向的偏摆测量限制为相对机床主轴中心位置的单方向偏差量测量,并以激光导向技术来加以保证,使得测量精度得以满足要求。

    一种用于机械角度尺的数显角度测量模块

    公开(公告)号:CN105021121A

    公开(公告)日:2015-11-04

    申请号:CN201410179389.0

    申请日:2014-04-30

    Abstract: 本发明公开了一种用于机械角度尺的数显角度测量模块,包括基座、透射式容栅角度传感器、功能显示组件、转轴、连接座和顶盖;透射式容栅角度传感器、功能显示组件设在连接座中,传感器、连接座和基座设有与转轴匹配配装的通孔;基座还设有与功能显示组件、传感器和连接座对应安装的安装孔;还包括机械角度尺的加工膜贴;数显角度测量模块通过基座上的安装孔固定到机械角度尺的上测量尺上;所述转轴的下端面设有螺纹孔,下测量尺用螺钉穿过螺纹孔与转轴连接。应用本发明数显角度测量模块,可将机械角度尺改造成数显角度尺,其加工简单快捷,无需进行专业的机械结构设计,可大大节省开发成本,提高装配效率。

    用于绝对位置测量的绝对型圆容栅传感器测量装置

    公开(公告)号:CN101206126A

    公开(公告)日:2008-06-25

    申请号:CN200710050658.3

    申请日:2007-11-26

    Inventor: 李广金 石坚

    CPC classification number: G01D5/2415

    Abstract: 本发明的目的是提供一种能够测量大角度范围的绝对位置测量装置,这种测量装置具有高精度高分辨率特性,并且数据处理容易。以传统增量型容栅传感器为基础、采用圆容栅技术加微处理器程序处理进行角度测量,在含有圆容栅传感器、测量信号处理部分、数据处理部分和显示部分的测量装置中,使得圆容栅传感器含一个粗分传感器和一个细分传感器,细分传感器节距分值大于粗分传感器的二个分辨率,粗、细分传感器有共同的起始零点,栅极各自独立,有相对固定的物理位置,无电气相干性;其在单节距测量范围内有唯一的绝对位移量值。

    一种单轴测量式测头及其测量方法

    公开(公告)号:CN112247670B

    公开(公告)日:2024-07-09

    申请号:CN202011100372.3

    申请日:2020-10-15

    Abstract: 本发明涉及一种单轴测量式测头及其方法,包括壳体、传感器、测杆、偏摆测量机构和激光线指示装置;壳体上端设有安装柄;传感器、偏摆测量机构处于壳体内,测杆的上端处于壳体内,其下端向下伸出到壳体的外部并设有与工件接触的测球,并且测杆的上端通过偏摆测量机构连接传感器的动栅,并带动传感器的动栅相对其静栅同步左右摆动;激光线指示装置固定在壳体上,其朝下射出的激光线所处的方向与测杆的测量偏摆方向一致,并用于壳体安装到机床上时校正测量方向及测量时指示测量方向。本发明将原有测杆在二维,三维方向的偏摆测量限制为相对机床主轴中心位置的单方向偏差量测量,并以激光导向技术来加以保证,使得测量精度得以满足要求。

    用于传感器装置的位移测量系统和位移测量方法

    公开(公告)号:CN110388870A

    公开(公告)日:2019-10-29

    申请号:CN201810365459.X

    申请日:2018-04-23

    Abstract: 本发明提供一种用于传感器装置的位移测量系统及位移测量方法,所述传感器装置包括第一位移传感器,所述位移测量系统包括:驱动信号生成电路,用于向所述第一位移传感器输出驱动信号;第一信号处理电路,用于接收来自所述第一位移传感器的信号并且输出第一ADSO信号;以及计算设备,包括第一定时器;其中,所述第一定时器用于接收CLK512信号和所述第一ADSO信号,并且根据所述CLK512信号和所述第一ADSO信号进行计时或计数;其中,所述CLK512信号是与所述驱动信号的周期和相位相关的方波信号。本发明提供的位移测量系统及方法以较低的成本实现了性能的提升,能够获得较高的测量分辨率和测量精度。

    一种测量范围可调的数显卡规

    公开(公告)号:CN108627063A

    公开(公告)日:2018-10-09

    申请号:CN201810790122.3

    申请日:2018-07-18

    Abstract: 本发明涉及一种测量范围可调的数显卡规,包括卡规本体、传感器和单片机;在测量长度为L1的标准量块时,所述动测量臂相对所述定测量臂形成的夹角为α;所述定测量臂与所述动测量臂的长度均为R;所述单片机还用于对长度R以及夹角α进行标定来调整所述卡规本体的测量范围。本发明的有益效果是:通过调整定测量臂与动测量臂的长度R和/或测量长度为L1时所述动测量臂相对所述定测量臂形成的夹角α,实现卡规测量范围的可调,扩大卡规的适用范围。

    绝对型数显万能角度尺
    17.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104748668A

    公开(公告)日:2015-07-01

    申请号:CN201310742196.7

    申请日:2013-12-30

    Inventor: 李广金

    Abstract: 本发明公开了一种绝对型数显万能角度尺,包括主尺、直尺和测量显示部件;测量显示部件由绝对型圆容栅传感器、显示组件和基座组成,传感器、显示组件设在基座中,传感器的定栅与直尺相连,动栅通过主尺的轴与主尺相连;主尺的轴与基座中的孔匹配配装,可相对孔中心回转,主尺通过主尺锁紧部件与基座固定;直尺通过直尺锁紧部件与基座固定。本发明利用绝对型圆容栅传感器和改进的机械定心结构、径向拉紧锁紧、直尺压块锁紧等结构实现绝对角度数显测量,具有使用方便、读数准确,开机即能获得当前位置值,无需重复零位校准等优点。

    用于绝对位置测量的绝对型圆容栅传感器测量装置

    公开(公告)号:CN100547354C

    公开(公告)日:2009-10-07

    申请号:CN200710050658.3

    申请日:2007-11-26

    Inventor: 李广金 石坚

    CPC classification number: G01D5/2415

    Abstract: 本发明的目的是提供一种能够测量大角度范围的绝对位置测量装置,这种测量装置具有高精度高分辨率特性,并且数据处理容易。以传统增量型容栅传感器为基础、采用圆容栅技术加微处理器程序处理进行角度测量,在含有圆容栅传感器、测量信号处理部分、数据处理部分和显示部分的测量装置中,使得圆容栅传感器含一个粗分传感器和一个细分传感器,细分传感器节距分值大于粗分传感器的二个分辨率,粗、细分传感器有共同的起始零点,栅极各自独立,有相对固定的物理位置,无电气相干性;其在单节距测量范围内有唯一的绝对位移量值。

    方便测量读数划线的简易数显角度尺

    公开(公告)号:CN201016681Y

    公开(公告)日:2008-02-06

    申请号:CN200720079029.9

    申请日:2007-03-31

    Inventor: 李广金

    Abstract: 本实用新型公开了一种方便测量读数划线的简易数显角度尺,它以空腔主尺为基础,配合副尺形成测量夹角达到内外测量的目的,主尺一端安装有角度传感器,中部安装有数显装置,副尺置于设置有角度传感器的主尺一端的侧面上,并与角度传感器可动部分固定连接,与转轴一起转动。另外,数显装置显示屏中设有两个以上扇形状提示符,显示符号设置成可上下倒显阅读的形式。这种数显角度尺结构简单,加工容易,成本低,使用方便,测量准确。

    适宜小外形大量程测量的容栅位移传感器

    公开(公告)号:CN2874422Y

    公开(公告)日:2007-02-28

    申请号:CN200620032999.9

    申请日:2006-01-26

    Inventor: 李广金 李秋国

    Abstract: 本新型公开了一种适宜小外形大量程测量的容栅位移传感器,包括定栅接收极和发射极、动栅反射极,其特征是:动栅反射极节距数小于或等于定栅发射极的节距数,定栅发射极极数按测量范围全程布满,部分同时与动栅反射极偶合,定栅接收极亦全程布满。本新型在不改变现有产品外形尺寸的情况下,可使产品测量范围扩大一倍,特别适宜小外形大量程测量的场合。

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