一种IGBT芯片及其制作方法

    公开(公告)号:CN105226089A

    公开(公告)日:2016-01-06

    申请号:CN201510727727.4

    申请日:2015-10-29

    Abstract: 本发明公开了一种IGBT芯片的制作方法,包括:通过离子注入的方式,将硼注入到IGBT器件中;对所述IGBT器件进行高温退火,激活注入到所述IGBT器件的硼,并使硼达到所述IGBT器件的预设深度,形成P阱;将磷通过高能离子注入的方式注入到所述P阱下的预定位置,并进行高温退火激活所述高能磷,形成所述IGBT器件的N阱。除此之外,本发明还公开了一种IGBT芯片,应用如上述的IGBT芯片的制作方法,包括P阱、N阱和基区,所述N阱设置于所述P阱和所述基区之间。所述IGBT芯片通过在P阱和基区之间制作杂质浓度较高的N阱,提高了沟道中载流子的移动能力,减少了阈值电压,减少长工艺偏差和时间成本,提高了工艺效率,降低了工艺成本。

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