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公开(公告)号:CN102403338A
公开(公告)日:2012-04-04
申请号:CN201110281178.4
申请日:2011-09-14
IPC: H01L29/36 , H01L29/78 , H01L21/265 , H01L21/336
CPC classification number: H01L29/7813 , H01L29/086 , H01L29/1608 , H01L29/41766 , H01L29/45 , H01L29/66068
Abstract: 一种SiC半导体器件,包括:按下述顺序堆叠的衬底(1)、漂移层(2)和基极区(3);第一和第二源极区(4a,4b)和基极区中的接触层(5);穿透所述源极和基极区的沟槽(6);沟槽中的栅电极(8);覆盖栅电极,具有接触孔的层间绝缘膜(10);经由所述接触孔与所述源极区和所述接触层耦合的源电极(9);衬底上的漏电极(11);以及金属硅化物膜(30)。高浓度的第二源极区比低浓度的第一源极区更浅,且高浓度的第二源极区具有被层间绝缘膜覆盖的部分,该部分包括表面附近的低浓度的第一部以及比第一部深的高浓度的第二部。第二部上的金属硅化物膜的厚度大于第一部上的金属硅化物膜的厚度。