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公开(公告)号：CN106062572B
公开(公告)日：2018-10-30
申请号：CN201580011672.5
申请日：2015-02-17
Applicant: 株式会社村田制作所
Abstract: 本发明提供了一种电路网的S参数导出方法，能正确并且迅速地计算包含非对称电路网的电路网整体的S参数。准备具有输入端口和连接端口的第一电路网(60)的第一S参数，测定第二电路网(4)的第二S参数，对在第一电路网(60)的连接端口连接了第二电路网(4)而得到的电路网整体(66)的整体S参数进行计算。在第一电路网(60)的输入端口侧追加虚设端口，将第一电路网(60)转换为对称电路网，得到假想第一电路网(62)，将假想第一电路网(62)的假想T参数中虚设端口所对应的参数用作未知数，作为电路网整体(66)的S参数，对在假想第一电路网(62)的连接端口连接了第二电路网(4)而得到的假想电路网整体(68)的假想S参数中输入端口所对应的整体S参数进行计算。
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公开(公告)号：CN101542299B
公开(公告)日：2011-12-14
申请号：CN200780044053.1
申请日：2007-11-29
Applicant: 株式会社村田制作所
CPC classification number: G01R35/005 , G01R27/28
Abstract: 电子部件的高频特性误差修正方法，能够在成为修正对象的测量系统保持和实测时相同的状态下，对于2端子阻抗部件进行校正作业。用基准测量系统和实测测量系统测量高频特性不同的至少3个修正数据取得用试料，决定使用传输线路的误差修正系数将用实测测量系统测量的测量值和用基准测量系统测量的测量值联系起来的公式。用基准测量系统测量任意的电子部件，使用决定的公式，计算出如果用基准测量系统测量该电子部件将会获得的该电子部件的高频特性的推定值。
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公开(公告)号：CN101258412A
公开(公告)日：2008-09-03
申请号：CN200680031064.1
申请日：2006-08-23
Applicant: 株式会社村田制作所
IPC: G01R27/06
Abstract: 本发明提供一种实质上通过标量测定器实施被检测体的散射系数的矢量测定，能减小测定器的规模，并且能减少成本的测定方法和测定装置。准备测定系统，该测定系统具有对被检测体提供信号的信号源(1)、将被检测体的反射波或者透过波作为标量值测定的标量测定器(5、13)、对于被检测体的反射波或者透过波分别叠加预先付与关系值的3个不同的矢量信号的叠加信号系统。对被检测体的反射波或者透过波叠加3个矢量信号，通过标量测定器(5、13)将各叠加信号分别作为标量值测定。使用3个矢量信号的被赋值的关系值，将所测定的3个标量值变换为一个矢量值，取得被检测体的散射系数。
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公开(公告)号：CN101006350A
公开(公告)日：2007-07-25
申请号：CN200580016960.6
申请日：2005-01-05
Applicant: 株式会社村田制作所
IPC: G01R27/28
CPC classification number: G01R35/005 , G01R27/32 , Y10T29/49764
Abstract: 提供一种能高精度处理具有非信号线端口且电特性因夹具而变化的电子部件的测量误差校正方法和电子部件特性测量装置。该校正方法具有以安装在能测量非信号线端口的测试夹具的状态和安装在不能测量非信号线端口的基准夹具的状态，对校正数据获取用试样测量电特性的第1步骤；以装测试夹具的状态和装基准夹具的状态，对电连接信号线端口和非信号线端口的贯通件进行测量的第2步骤；决定从装测试夹具的状态的测量结果算出以装基准夹具的状态进行测量时的电特性的估计值用的公式的第3步骤；以装测试夹具的状态，测量任意电子部件的第4步骤；以及用决定的公式，算出装基准夹具的状态的电特性的估计值的第5步骤。
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