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公开(公告)号：CN117120852A
公开(公告)日：2023-11-24
申请号：CN202280027041.2
申请日：2022-04-22
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N35/02
Abstract: 自动分析装置(100)的控制计算机(24)如下控制试剂分注机构(11、13)，根据分析项目切换所使用的试剂并进行分析，在分析操作中满足预定条件时，执行使试剂喷嘴(12、14)相对于对象的试剂容器(4)的吸引口下降而通过并上升的调节动作。由此，提供一种自动分析装置，与以往相比，能够降低在试样测定时由固着或浓缩的试剂导致的分注精度不良。
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公开(公告)号：CN109716142B
公开(公告)日：2023-06-27
申请号：CN201780056408.2
申请日：2017-08-04
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N35/10
Abstract: 一种自动分析装置，在有限的喷嘴清洗时间和送液泵压的条件下，不延长清洗时间而得到有效的清洗效果。本发明中，使用压力变化机构、例如注射器使喷嘴清洗中的清洗水流速瞬间变化。即，清洗开始后，打开电磁阀，在喷嘴内清洗水的流动发展稳定的状态下，将注射器的吸引动作瞬间进行恒定量，使喷嘴流速瞬间减速。之后，再次将注射器推回起始位置，使喷嘴内的流速再次加速。通过使速度分布变迁至多种状态，可得到清洗效果的提高。基于压力变化机构进行的流速控制能够不阻碍分注循环地实现，不进行送液泵的压力变更、清洗时间的延长等，便能够提高喷嘴的清洗效果。
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公开(公告)号：CN114207447A
公开(公告)日：2022-03-18
申请号：CN202080051651.7
申请日：2020-03-11
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N35/00 , G01N27/26 , G01N27/416
Abstract: 自动分析装置(100)具备至少在试样的电位测定前实施1次以上的内部标准液的测定的电解质测定部(114)，在连续实施由电解质测定部(114)进行的试样的电位测定的情况下，根据前一次测定的试样是否是高浓度试样来变更电位测定前的内部标准液的测定动作。由此，提供能够在进行电解质测定时减少携带而确保测定精度，并且能够实现装置整体的处理能力的提高的自动分析装置以及试样的自动分析方法。
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公开(公告)号：CN110036297A
公开(公告)日：2019-07-19
申请号：CN201780075103.6
申请日：2017-11-08
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 本发明抑制伴随温度变化的检体或试剂等的分注精度的降低。在自动分析装置(1)中，分注喷嘴(13)从保持试料的样品容器吸引试料以及向反应容器(60)吐出试料。注射泵(16)控制水的体积变化量。第一配管(31)连接分注喷嘴(13)和注射泵(16)。电磁阀(18)使水流动或停止。第二配管(32)连接电磁阀(18)和注射泵(16)。分支管(30)使水分支。第三配管(33)连接电磁阀(18)和分支管(30)。箱体(40)至少收纳注射泵(16)、第一配管(31)、电磁阀(18)、第二配管(32)、分支管(30)、以及第三配管(33)。而且，第三配管(33)具有进行水的热交换的热交换部(41)。
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公开(公告)号：CN109716142A
公开(公告)日：2019-05-03
申请号：CN201780056408.2
申请日：2017-08-04
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N35/10
Abstract: 在有限的喷嘴清洗时间和送液泵压的条件下，不延长清洗时间而得到有效的清洗效果。本发明中，使用压力变化机构、例如注射器使喷嘴清洗中的清洗水流速瞬间变化。即，清洗开始后，打开电磁阀，在喷嘴内清洗水的流动发展稳定的状态下，将注射器的吸引动作瞬间进行恒定量，使喷嘴流速瞬间减速。之后，再次将注射器推回起始位置，使喷嘴内的流速再次加速。通过使速度分布变迁至多种状态，可得到清洗效果的提高。基于压力变化机构进行的流速控制能够不阻碍分注循环地实现，不进行送液泵的压力变更、清洗时间的延长等，便能够提高喷嘴的清洗效果。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119895266A
公开(公告)日：2025-04-25
申请号：CN202380067140.8
申请日：2023-09-19
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 本发明的目的在于提供一种用户容易掌握有寿命部件的当前的使用状况、更换时期的自动分析装置。为此，本发明是一种自动分析装置，其对检体中的分析对象进行分析，所述自动分析装置具备：有寿命部件，其用于进行分析；控制部，其预测所述有寿命部件的剩余寿命；以及显示部，其能够以不同的方式显示所述剩余寿命，在所述有寿命部件的所述剩余寿命达到了预先决定的基准值的情况下，所述控制部切换使所述显示部显示的所述剩余寿命的显示方式。
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公开(公告)号：CN119744347A
公开(公告)日：2025-04-01
申请号：CN202380061359.7
申请日：2023-07-18
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 本发明提供一种能够避免因光源通电开始而产生的伴随温度变化的光量漂移，缩短稳定化等待时间的自动分析装置。自动分析装置(50)包括：光源(39)，其对收纳试料和试剂的混合液的反应容器(2)照射用于测定试料的光；调温机构(27)，其利用调温介质对光源(39)进行调温；反应槽(5)，其利用调温介质进行反应容器(2)的调温；循环泵(30、35)，其送出调温介质；分析部(42)，其对试料进行分析；以及动作控制部(43)。在从试料的非测定状态经由测定准备状态转移到可测定状态时，动作控制部(43)在测定准备状态下使施加于光源(39)的电流或电压上升，并且使调温介质的流量增加一定时间，使调温介质的流量返回到增加前，然后转移到可测定状态，进行试料的测定。
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公开(公告)号：CN113287022A
公开(公告)日：2021-08-20
申请号：CN201980074320.2
申请日：2019-10-30
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N35/00 , G01N27/28 , G01N27/416
Abstract: 自动进行样品的分析的分析单元(111)包括分注样品的样品分注喷嘴(2)、以及至少在样品的电位测定前实施一次以上的内部标准液的测定的电解质测定部(114)，在通过电解质测定部(114)连续实施样品的电位测定的情况和不连续实施电位测定而在测定间隔产生空闲的情况下，变更电位测定前的内部标准液的测定动作。由此，提供一种自动分析装置、自动分析系统及样品的自动分析方法，每当进行电解质测定时都能降低环境温度的影响以确保测定精度，并且能力图提高装置整体的处理能力。
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公开(公告)号：CN110062886A
公开(公告)日：2019-07-26
申请号：CN201780075053.1
申请日：2017-11-07
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 一种自动分析装置的清洗机构，能抑制反应容器的清洗范围的偏差等且抑制对空白值测定等的影响的技术。自动分析装置控制包括光学测定和清洗的定序，且具有包括用于向反应容器(2)内喷出液体的喷出管嘴(系统水喷出管嘴(44))的喷出机构、和包括用于抽吸反应容器(2)内的液体的溢出量的溢出抽吸管嘴(54)的溢出抽吸机构。在清洗工序中的比使用了洗涤剂的工序靠后且比空白值测定工序靠前的液体喷出工序(工序(S8))中，自动分析装置控制为，在将喷出管嘴的下端配置于反应容器内的高度方向的下部的第一位置(Z1)而且将溢出抽吸管嘴的下端配置于反应容器内的上部的第二位置(Z2)的第一状态下，从喷出管嘴喷出液体以及从溢出抽吸管嘴抽吸溢出量。
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公开(公告)号：CN109690325A
公开(公告)日：2019-04-26
申请号：CN201780056407.8
申请日：2017-08-04
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N35/10
CPC classification number: G01N35/00584 , G01N35/04 , G01N35/10 , G01N35/1004 , G01N35/1065 , G01N35/109 , G01N2035/00534 , G01N2035/0406 , G01N2035/0443 , G01N2035/0453
Abstract: 本发明实现能够与反应容器、试样喷嘴的个体差异无关地控制试样喷嘴的前端与反应容器的底的间隔且能够抑制试样向试样喷嘴的附着的自动分析装置。使试样喷嘴(13a、14a)向反应容器(2)的底面移动，在停止位置探测器(46)探测到停止位置探测板(45)的时刻使移动停止，从该位置上升至停止位置探测板(45)离开停止位置探测器(46)的探测范围的位置，进一步地使臂(44)向上方移动保存于存储器的移动距离。能够在使试样喷嘴(13a、14a)的前端与反应容器(2)的底面接触的状态且抑制试样喷嘴(13a、14a)的弯曲的状态下，使试样喷嘴(13a、14a)停止而吐出试样。
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