公开(公告)号：CN106370303A

公开(公告)日：2017-02-01

申请号：CN201610577108.6

申请日：2016-07-20

Applicant: 株式会社堀场制作所

Inventor： 安藤嘉健 ,  西村克美 ,  境行男

IPC: G01J3/42 ,  G01J3/45 ,  G01J3/12 ,  G01N21/3504 ,  G01N21/01

Abstract: 本发明提供一种光检测器的输出修正方法和光谱分析装置或分光器，能够用短时间且用简单的结构进行用于光谱分析装置(100)或分光器的光检测器(4)的输出修正(校准曲线的制作)。在不使特性已知的光学元件(6)介于其间和不介于其间的两种情况下，使从光源(1)射出的光入射到所述光检测器(4)，取得作为分别针对入射光所包含的多个规定波数的光的、所述光检测器个所述规定波数的第一输出值和第二输出值的比以及所述光学元件(6)的波数透过特性或反射特性作为参数，求出用于从所述光检测器(4)的输出值计算入射光的强度的计算式。(4)的输出值的第一输出值和第二输出值，把每

公开(公告)号：CN109425583B

公开(公告)日：2023-06-16

申请号：CN201810993895.1

申请日：2018-08-29

Applicant: 株式会社堀场制作所

Inventor： 西村克美 ,  中谷茂 ,  扬·波佩

IPC: G01N21/31

Abstract: 本发明提供光谱分析装置、光谱分析方法和存储介质，无需修正校准曲线就能灵活应对并修正相对于校准曲线制作时的温度与试样测定时的温度的变化的浓度变化。具体地说，所述光谱分析装置(100)根据向试样照射光而得到的分光光谱测定所述试样所含的测定对象成分的浓度，其包括：浓度计算部(11)，使用校准曲线并根据所述分光光谱计算所述测定对象成分的浓度；以及浓度修正部(12)，使用与求所述测定对象成分的浓度的波长区域或波数区域对应的温度修正式，对伴随所述校准曲线制作时的温度与所述浓度测定时的温度的温度差的所述测定对象成分的浓度变化进行修正。

公开(公告)号：CN107367469B

公开(公告)日：2021-04-20

申请号：CN201710239657.7

申请日：2017-04-13

Applicant: 株式会社堀场制作所

Inventor： 西村克美

IPC: G01N21/31

Abstract: 本发明提供光谱分析装置和光谱分析方法，在与大气压相比减压的状态下测量试样气体所含的规定成分的浓度时，能高精度求出规定成分的浓度，在测量试样气体所含的规定成分的浓度的光谱分析装置中，在与大气压相比减压的状态下测量试样气体所含的规定成分的吸光度，并且采用表示规定成分的吸光度和规定成分的浓度的关系的校准曲线、以及测量时的试样气体的压力与规定成分的浓度的关系式，算出规定成分的浓度，在将一方的轴设为压力轴、另一方的轴设为浓度轴的图表中，所述关系式与所述压力轴具有零以外的交点。

公开(公告)号：CN111201684A

公开(公告)日：2020-05-26

申请号：CN201880065242.5

申请日：2018-09-20

Applicant: 株式会社堀场制作所

Inventor： 粟根悠介 ,  西村克美 ,  渋谷享司

IPC: H01S5/0687 ,  G01N21/3504 ,  H01S5/024

Abstract: 本发明提供半导体激光装置、半导体激光装置的驱动方法和驱动程序。本发明能够抑制半导体激光元件的振荡波数受到周围温度影响而变动，该半导体激光装置包括：半导体激光元件(2)；调温部(32)，对半导体激光元件(2)进行温度调节；温度传感器(4)，检测调温部(32)的温度；以及温度控制装置(5)，控制向调温部(32)供给的供给信号，以使温度传感器(4)的检测温度成为规定的目标温度，温度控制装置(5)根据向调温部(32)供给的供给信号来改变调温部(32)的目标温度。

公开(公告)号：CN109425583A

公开(公告)日：2019-03-05

申请号：CN201810993895.1

申请日：2018-08-29

Applicant: 株式会社堀场制作所

Inventor： 西村克美 ,  中谷茂 ,  扬·波佩

IPC: G01N21/31

CPC classification number: G01N21/3504 ,  G01J3/28 ,  G01J3/42 ,  G01N21/25 ,  G01N21/49 ,  G01N27/26 ,  G01N33/00 ,  G01N2021/3595 ,  G01N21/31

Abstract: 本发明提供光谱分析装置、光谱分析方法和存储介质，无需修正校准曲线就能灵活应对并修正相对于校准曲线制作时的温度与试样测定时的温度的变化的浓度变化。具体地说，所述光谱分析装置(100)根据向试样照射光而得到的分光光谱测定所述试样所含的测定对象成分的浓度，其包括：浓度计算部(11)，使用校准曲线并根据所述分光光谱计算所述测定对象成分的浓度；以及浓度修正部(12)，使用与求所述测定对象成分的浓度的波长区域或波数区域对应的温度修正式，对伴随所述校准曲线制作时的温度与所述浓度测定时的温度的温度差的所述测定对象成分的浓度变化进行修正。

公开(公告)号：CN107367469A

公开(公告)日：2017-11-21

申请号：CN201710239657.7

申请日：2017-04-13

Applicant: 株式会社堀场制作所

Inventor： 西村克美

IPC: G01N21/31

CPC classification number: G01N21/3504 ,  G01J3/0297 ,  G01N21/274 ,  G01N33/0037 ,  G01N33/004 ,  G01N2021/3595 ,  G01N2201/127 ,  G06T11/206 ,  Y02A50/245 ,  G01N21/31

Abstract: 本发明提供光谱分析装置和光谱分析方法，在与大气压相比减压的状态下测量试样气体所含的规定成分的浓度时，能高精度求出规定成分的浓度，在测量试样气体所含的规定成分的浓度的光谱分析装置中，在与大气压相比减压的状态下测量试样气体所含的规定成分的吸光度，并且采用表示规定成分的吸光度和规定成分的浓度的关系的校准曲线、以及测量时的试样气体的压力与规定成分的浓度的关系式，算出规定成分的浓度，在将一方的轴设为压力轴、另一方的轴设为浓度轴的图表中，所述关系式与所述压力轴具有零以外的交点。