公开(公告)号：CN111380886A

公开(公告)日：2020-07-07

申请号：CN201911043416.0

申请日：2019-10-30

Applicant: 株式会社堀场制作所

Inventor： 水野裕介 ,  青山朋树 ,  松本绘里佳

IPC: G01N23/223 ,  G01N21/3518 ,  G01N21/31

Abstract: 本发明提供分析装置、分析方法和存储介质。基于与测量对象中包含的碳化合物的量相关的信息，准确地修正与荧光X射线相关的信息。分析装置(100)包括：X射线测量装置(2)、光学特性测量装置(3)和运算部(4)。X射线测量装置(2)检测从测量对象产生的荧光X射线。光学特性测量装置(3)获取测量对象中包含的碳化合物的荧光X射线以外的光学特性。运算部(4)基于碳化合物的光学特性，计算与测量对象中包含的碳化合物的量相关的信息，并且基于与该碳化合物的量相关的信息，修正与由X射线测量装置(2)测量的荧光X射线相关的信息。

公开(公告)号：CN104749166B

公开(公告)日：2019-08-16

申请号：CN201410831782.3

申请日：2014-12-26

Applicant: 株式会社堀场制作所

Inventor： 水野裕介 ,  生田卓司 ,  荒川实里

IPC: G01N21/76

CPC classification number: G01N21/766 ,  G01N33/0026 ,  G01N2201/129

Abstract: 本发明提供气体分析装置，能通过化学发光法高精度地测量试样气体中规定成分的浓度。气体分析装置(100)具有：气体分析部(1)、发光诱发成分产生部(2)和测量信号计算部(31)。气体分析部(1)能导入包含规定成分的试样气体和/或标准气体、及发光诱发气体。此外，气体分析部(1)输出基于通过规定成分和发光诱发成分的相互作用而产生的反应光强度的检测信号。发光诱发成分产生部(2)通过隔开放电产生间隔的时间反复产生的放电，产生发光诱发气体。测量信号计算部(31)根据基于通过导入试样气体和发光诱发气体而产生的反应光的第一检测信号和基于通过导入标准气体和发光诱发气体而产生的反应光的第二检测信号，计算第一测量信号。

公开(公告)号：CN105092425B

公开(公告)日：2019-07-16

申请号：CN201510257834.5

申请日：2015-05-20

Applicant: 株式会社堀场制作所

Inventor： 水野裕介 ,  青山朋树

IPC: G01N15/00 ,  G01N23/223

CPC classification number: G01T7/005 ,  G01N1/2205 ,  G01N15/0612 ,  G01N23/223

Abstract: 本发明提供分析装置和校正方法，在分析装置中使用反映了实际测量状况的恰当的校正用数据进行校正。所述分析装置(100)包括照射部(51)、捕集过滤器(1)、校正用基体材料(BS，SS)、检测部(53)以及成分分析部(95)。照射部(51)照射通过激发颗粒状物质(P)而产生荧光X射线的激发X射线(X1)。捕集过滤器(1)捕集颗粒状物质(P)。校正用基体材料(BS，SS)在执行校正时与捕集过滤器一起(1)配置在测量区域(A)。检测部(53)能检测来自测量区域(A)的X射线(X2)。此外检测部(53)在执行校正时检测校正X射线。成分分析部(95)在执行校正时使用校正X射线生成校正用数据。此外成分分析部(95)在执行成分分析时，根据校正用数据和检测部(53)检测的X射线(X2)的测量值进行成分分析。

公开(公告)号：CN109253954A

公开(公告)日：2019-01-22

申请号：CN201810769558.4

申请日：2018-07-13

Applicant: 株式会社堀场制作所

Inventor： 水野裕介 ,  青山朋树 ,  葛西响子 ,  长冈英一 ,  村田骏介

IPC: G01N15/06

Abstract: 本发明提供分析装置，取得关于有色颗粒状物质的含有量的数据。所述分析装置(100)包括捕集过滤器(1)、二维传感器(3)和计算部(4)。捕集过滤器(1)捕集大气(A)中所含的微小颗粒状物质(FP)。二维传感器(3)取得捕集图像数据(IM)，该捕集图像数据(IM)包含捕集过滤器(1)捕集到微小颗粒状物质(FP)的捕集区域。计算部(4)根据捕集图像数据(IM)，计算捕集区域所含的有色颗粒状物质的含有量相关的数据。

公开(公告)号：CN105092425A

公开(公告)日：2015-11-25

申请号：CN201510257834.5

申请日：2015-05-20

Applicant: 株式会社堀场制作所

Inventor： 水野裕介 ,  青山朋树

IPC: G01N15/00 ,  G01N23/223

CPC classification number: G01T7/005 ,  G01N1/2205 ,  G01N15/0612 ,  G01N23/223

Abstract: 本发明提供分析装置和校正方法，在分析装置中使用反映了实际测量状况的恰当的校正用数据进行校正。所述分析装置(100)包括照射部(51)、捕集过滤器(1)、校正用基体材料(BS，SS)、检测部(53)以及成分分析部(95)。照射部(51)照射通过激发颗粒状物质(P)而产生荧光X射线的激发X射线(X1)。捕集过滤器(1)捕集颗粒状物质(P)。校正用基体材料(BS，SS)在执行校正时与捕集过滤器一起(1)配置在测量区域(A)。检测部(53)能检测来自测量区域(A)的X射线(X2)。此外检测部(53)在执行校正时检测校正X射线。成分分析部(95)在执行校正时使用校正X射线生成校正用数据。此外成分分析部(95)在执行成分分析时，根据校正用数据和检测部(53)检测的X射线(X2)的测量值进行成分分析。

公开(公告)号：CN208607123U

公开(公告)日：2019-03-15

申请号：CN201821117300.8

申请日：2018-07-13

Applicant: 株式会社堀场制作所

Inventor： 水野裕介 ,  青山朋树 ,  葛西响子 ,  长冈英一 ,  村田骏介

IPC: G01N15/06

Abstract: 本实用新型提供分析装置，取得关于有色颗粒状物质的含有量的数据。所述分析装置(100)包括捕集过滤器(1)、二维传感器(3)和计算部(4)。捕集过滤器(1)捕集大气(A)中所含的微小颗粒状物质(FP)。二维传感器(3)取得捕集图像数据(IM)，该捕集图像数据(IM)包含捕集过滤器(1)捕集到微小颗粒状物质(FP)的捕集区域。计算部(4)根据捕集图像数据(IM)，计算捕集区域所含的有色颗粒状物质的含有量相关的数据。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利