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公开(公告)号：CN111351695A
公开(公告)日：2020-06-30
申请号：CN201910842083.1
申请日：2019-09-06
Applicant: 株式会社堀场制作所
Abstract: 本发明提供试样前处理装置和分析系统。试样前处理装置(2)通过对由分析装置(3)分析的试样(W)进行加热来进行前处理，其包括：加热炉(4)，对试样(W)进行加热；导出口(2P2)，使由加热炉(4)加热的试样(W)落下而导出所述试样(W)；以及姿势限制部(PR)，对从导出口(2P2)落下的试样(W)的姿势进行限制。
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公开(公告)号：CN105683747B
公开(公告)日：2017-12-12
申请号：CN201480058824.2
申请日：2014-10-29
Applicant: 株式会社堀场制作所
CPC classification number: G01N1/34 , F27D2019/0012 , G01N1/44 , G01N31/12 , G01N33/0016 , G01N2001/227
Abstract: 本发明提供分析装置，其用于可靠地排出在试样收容部(10)内产生的粉尘，其具备：粉尘导入部(30)，具有沿铅垂方向贯通形成的贯通孔(3a)，向该贯通孔(3a)导入在所述试样收容部(10)内产生的粉尘；粉尘收容部(43)，收容从所述贯通孔(3a)排出的粉尘；以及粉尘排出通道(41a)，一端与所述粉尘导入部(30)连接并与所述贯通孔(3a)连通，另一端与所述粉尘收容部(43)连接，所述粉尘排出通道(41a)从所述一端到所述另一端，沿铅垂方向形成为直线状。
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公开(公告)号：CN106461552A
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201580024502.0
申请日：2015-09-30
Applicant: 株式会社堀场制作所
IPC: G01N21/61
Abstract: 本发明提供一种气体分析装置，其利用光学测定系统测定配管内流动的气体的浓度，防止安装于配管侧壁的探测器的根部和凸缘发生腐蚀。气体分析装置(1)具备探测管(11)、凸缘(13)、光学系统部件和加热器(31)。探测管(11)包括用于向烟道(50)内流动的试样气体(S)的规定的测定区域投射测定光和/或接收来自测定区域的测定光的光路。凸缘(13)固定于探测管(11)的外周，且装配于配管侧壁(21)。光学系统部件对测定区域内的试样气体(S)投射测定光和/或接收来自测定区域的测定光。加热器(31)设置在凸缘(13)内，对探测管(11)与凸缘(13)的固定部分进行加热。
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公开(公告)号：CN105556303A
公开(公告)日：2016-05-04
申请号：CN201480051838.1
申请日：2014-09-10
Applicant: 株式会社堀场制作所
Inventor： 平田泰士
CPC classification number: G01N31/12 , G01N1/44 , G01N33/004 , G01N33/0042 , H05B6/24
Abstract: 为了不使用助燃剂就能高效地加热试样并使其燃烧，分析装置(100)在试样收容部(2)内加热试样(X)，并分析由此产生的气体，分析装置(100)具备：感应电流生成机构(5)，通过电磁感应使试样(X)产生感应电流；以及激光照射机构(6)，对试样(X)照射激光，感应电流生成机构(5)和激光照射机构(6)同时对试样(X)进行作用。
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公开(公告)号：CN102053032A
公开(公告)日：2011-05-11
申请号：CN201010535470.X
申请日：2010-11-04
Applicant: 株式会社堀场制作所
Inventor： 平田泰士
IPC: G01N1/44
Abstract: 本发明提供一种坩埚空烧装置(100)，即使使用尺寸精度差的便宜的坩埚也可以可靠地进行动作，而且结构简单，可以促进降低成本。所述坩埚空烧装置(100)使支承轨道部(31)与坩埚(U)的水平移动通道(2)串联配置，所述支承轨道部(31)，以使相邻坩埚的底部和开口部相接的方式，把沿水平横卧的多个坩埚(U)并排支承成一列，所述坩埚(U)的水平移动通道(2)设置在加热坩埚(U)的加热炉(10)内，通过把位于支承轨道部(31)上的坩埚(U)沿所述列方向水平推入，顺序把坩埚(U)送入到加热炉(10)内。
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