公开(公告)号：CN102429677A

公开(公告)日：2012-05-02

申请号：CN201110223189.7

申请日：2011-08-05

Applicant: 株式会社东芝 ,  东芝医疗系统株式会社

Inventor： 松田圭史 ,  中山道人 ,  南部修也 ,  金丸俊 ,  桥本笃 ,  佐乡朋英

IPC: A61B6/03

CPC classification number: A61B6/00 ,  A61B6/4233 ,  A61B6/4488

Abstract: 本发明提供一种能够减轻或消除在使用加热器温控各检测元件时产生的恶劣影响的X射线检测器以及X射线CT装置。根据一个实施方式涉及的X射线检测器包括多个检测包与多个加热器。上述各检测包具备多个检测透过被检体的X射线、输出与该X射线对应的检测信号的检测元件，并沿规定的方向排列。上述各加热器分别对上述各检测包而设置，独立地温控上述各检测包。

公开(公告)号：CN1298286C

公开(公告)日：2007-02-07

申请号：CN02147979.8

申请日：2002-10-31

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： 中西知 ,  松田圭史 ,  信藤康孝 ,  奥村美和

IPC: A61B6/03

CPC classification number: A61B6/587 ,  A61B6/032 ,  A61B6/4085 ,  A61B6/542 ,  A61B6/56

Abstract: 提供对准信息的计算机X射线断层造影设备包括X射线发生器、X射线检测器和控制器。X射线发生器产生X射线。X射线检测器包含沿切片方向的多个检测段，检测由X射线发生器产生的X射线。控制器根据从至少两个检测段获得的检测信息，提供切片方向上X射线发生器和X射线检测器之间的对准信息，其中所述至少两个检测段的每一个都至少被X射线的半影部分覆盖。

公开(公告)号：CN1415274A

公开(公告)日：2003-05-07

申请号：CN02147979.8

申请日：2002-10-31

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： 中西知 ,  松田圭史 ,  信藤康孝 ,  奥村美和

IPC: A61B6/03

CPC classification number: A61B6/587 ,  A61B6/032 ,  A61B6/4085 ,  A61B6/542 ,  A61B6/56

Abstract: 提供对准信息的计算机X射线断层造影设备包括X射线发生器、X射线检测器和控制器。X射线发生器产生X射线。X射线检测器包含沿切片方向的多个检测段，检测由X射线发生器产生的X射线。控制器根据从至少两个检测段获得的检测信息，提供切片方向上X射线发生器和X射线检测器之间的对准信息，其中所述至少两个检测段的每一个都至少被X射线的半影部分覆盖。