公开(公告)号：CN101915736A

公开(公告)日：2010-12-15

申请号：CN201010261192.3

申请日：2006-10-24

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 福永淳 ,  中南贵裕 ,  龟井明仁

IPC: G01N21/25 ,  G01N21/03 ,  G01N21/59 ,  G01N27/26

CPC classification number: G01N21/255 ,  G01N21/03 ,  G01N21/59 ,  G01N2035/1062

Abstract: 本发明提供测定仪器、测定装置和测定方法。用于分析试样中所含的待测物质的细长形测定仪器具备：第1容器和第2容器、将试样供给至第1容器的第1试样供给口、将试样供给至第2容器的第2试样供给口、板状部件、用于对保持在第2容器内的试样进行光学测定的光学测定部；板状部件相对于细长形测定仪器的长度方向垂直地设置，由此在测定仪器中形成两个空间，其中与第1试样供给口连通的空间作为第1容器发挥功能，另一个空间作为第2容器发挥功能；板状部件具备由开口部构成的第2试样供给口；第1容器具备电极；第2容器具备用来保持用于光学测定的试剂的试剂保持部，不具备电极。

公开(公告)号：CN101839847A

公开(公告)日：2010-09-22

申请号：CN201010198725.8

申请日：2006-11-27

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 福永淳 ,  野口荣治 ,  中南贵裕

IPC: G01N21/15

CPC classification number: G01N21/11 ,  G01N21/03 ,  G01N21/15 ,  G01N2021/0325 ,  G01N2021/036 ,  G01N2021/152

Abstract: 一种测定元件(1)，包括测定元件本体(103)和保护罩(101)，所述测定元件本体具有：试样保持部(105)、开口部(106)、光学窗部(104)以及第一保护罩保持部(102)；所述试样保持部用于保持试样；所述开口部用于向所述试样保持部的内部供给试样；所述光学窗部用于使光入射于所述试样保持部的内部、并使光射出至所述试样保持部的外部；所述第一保护罩保持部，用于将所述保护罩保持在覆盖所述光学窗部并且露出所述开口部的位置上；所述保护罩用于保护所述光学窗部，其被设置成可沿所述试样保持部的外周进行移动。

公开(公告)号：CN101839847B

公开(公告)日：2012-07-18

申请号：CN201010198725.8

申请日：2006-11-27

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 福永淳 ,  野口荣治 ,  中南贵裕

IPC: G01N21/15

CPC classification number: G01N21/11 ,  G01N21/03 ,  G01N21/15 ,  G01N2021/0325 ,  G01N2021/036 ,  G01N2021/152

Abstract: 一种测定元件(1)，包括测定元件本体(103)和保护罩(101)，所述测定元件本体具有：试样保持部(105)、开口部(106)、光学窗部(104)以及第一保护罩保持部(102)；所述试样保持部用于保持试样；所述开口部用于向所述试样保持部的内部供给试样；所述光学窗部用于使光入射于所述试样保持部的内部、并使光射出至所述试样保持部的外部；所述第一保护罩保持部，用于将所述保护罩保持在覆盖所述光学窗部并且露出所述开口部的位置上；所述保护罩用于保护所述光学窗部，其被设置成可沿所述试样保持部的外周进行移动。