X射线衍射测定装置及方法
    12.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115144422A

    公开(公告)日:2022-10-04

    申请号:CN202210106427.4

    申请日:2022-01-28

    Abstract: 为了解决本发明的问题,提供一种X射线衍射测定装置,包括:直线状的第1狭缝(24a)、第2狭缝(24b)、第3狭缝(24c),在基于由位于入射光轴(30)与出射光轴(32a,32b,32c)的交叉位置(34)的被测定物(M)产生的X射线衍射,来测定被测定物的特性时,使X射线通过,并以相对于出射光轴的轴旋转方向倾斜的方式配置;第1二维检测器(18a)、第2二维检测器(18b),在检测区域内检测狭缝的通过X射线;及,轮廓计算部(44),区分由二维检测器检测出的通过X射线,而分别计算出表示该通过X射线的强度的衍射轮廓;由此对于衍射角不同的多种材料,可以同时获得与它们的特性相关的测定结果。

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