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公开(公告)号：CN118294465B
公开(公告)日：2025-05-02
申请号：CN202410285306.X
申请日：2016-09-29
Applicant: 日东电工株式会社
Abstract: 提供一种检查方法、偏光板的制造方法以及偏振片的非偏振部的检查装置。在偏振片中以高精度来高效地形成非偏振部，以使该非偏振部成为期望的形状和特性。一种检查方法，对具有非偏振部的偏振片进行检查，该方法包括：摄像步骤，从该偏振片的一侧照射光，拍摄来自该偏振片的反射光；以及检查步骤，基于所得到的图像来检查该偏振片的非偏振部。
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公开(公告)号：CN117929404A
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202311787608.9
申请日：2016-09-29
Applicant: 日东电工株式会社
Abstract: 提供一种偏振片的制造方法和偏振片的非偏振部的检查装置。在偏振片中以高精度来高效地形成非偏振部，以使该非偏振部成为期望的形状和特性。一种检查方法，对具有非偏振部的偏振片进行检查，该方法包括：摄像步骤，从该偏振片的一侧照射光，从另一侧拍摄透过了该偏振片的光；以及检查步骤，基于所得到的图像来检查该偏振片的非偏振部。
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公开(公告)号：CN106990470B
公开(公告)日：2021-06-04
申请号：CN201610873657.8
申请日：2016-09-30
Applicant: 日东电工株式会社
IPC: G02B5/30
Abstract: 本发明提供一种偏振片的检查方法和偏振片的制造方法。该偏振片的检查方法在制造能够实现电子器件的多功能化以及高功能化、且品质没有偏差的偏振片之际精度良好地检查该偏振片。本发明的检查方法包括向具有非偏振部(2)的偏振片(1)的包含非偏振部(2)在内的范围照射光、并对偏振片(1)的透射光像进行拍摄的工序。在此，透射光像中的非偏振部(2)与其他部位的对比度比(非偏振部/其他部位)是1.5以上。
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公开(公告)号：CN112782798A
公开(公告)日：2021-05-11
申请号：CN202110202953.6
申请日：2016-09-29
Applicant: 日东电工株式会社
Abstract: 本发明提供一种纵长状的偏振板的检查方法、制造方法以及外观检查装置。在该检查方法中，对具有沿着长度方向以预定的间隔配置的非偏振部的纵长状的偏振板的外观恰当地进行检查。一种纵长状的偏振板的检查方法，其是一边将具有沿着长度方向以预定的间隔配置的非偏振部的纵长状的偏振板沿着该长度方向输送一边对该偏振板的外观进行检查的方法，其包括：对该偏振板进行拍摄而取得图像数据的工序；对该图像数据进行分析而提取缺陷候选部的工序；对缺陷候选部是否具有基准值以下的尺寸进行判断的工序；以及基于缺陷候选部的尺寸对缺陷进行检测的工序。
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公开(公告)号：CN106940320B
公开(公告)日：2021-03-16
申请号：CN201610868195.0
申请日：2016-09-29
Applicant: 日东电工株式会社
Abstract: 本发明提供一种纵长状的偏振板的检查方法、制造方法以及外观检查装置。在该检查方法中，对具有沿着长度方向以预定的间隔配置的非偏振部的纵长状的偏振板的外观恰当地进行检查。一种纵长状的偏振板的检查方法，其是一边将具有沿着长度方向以预定的间隔配置的非偏振部的纵长状的偏振板沿着该长度方向输送一边对该偏振板的外观进行检查的方法，其包括：对该偏振板进行拍摄而取得图像数据的工序；对该图像数据进行分析而提取缺陷候选部的工序；对缺陷候选部是否具有基准值以下的尺寸进行判断的工序；以及基于缺陷候选部的尺寸对缺陷进行检测的工序。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110862776A
公开(公告)日：2020-03-06
申请号：CN201910794460.9
申请日：2019-08-27
Applicant: 日东电工株式会社
Abstract: 一种层叠体(101)，其具备：在光学薄膜(11)上固着层叠有粘合剂层(12)的粘合光学薄膜(10)；在粘合剂层(12)的表面临时粘接的脱模薄膜(70)；以及，在光学薄膜(11)上临时粘接的表面保护薄膜(50)。脱模薄膜(70)和表面保护薄膜(50)存在伸出至粘合光学薄膜(10)的外边缘的更外侧的区域，表面保护薄膜(50)的粘合剂层(52)与脱模薄膜(70)接触。粘合光学薄膜(10)和表面保护薄膜(50)相对于亚克力板的粘接力分别为规定范围，脱模薄膜(70)和表面保护薄膜(50)3点弯曲载荷分别为规定范围。
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公开(公告)号：CN113341495B
公开(公告)日：2022-12-06
申请号：CN202110529999.9
申请日：2016-09-30
Applicant: 日东电工株式会社
Abstract: 本发明提供一种偏振片的检查方法和偏振片的制造方法。该偏振片的检查方法在制造能够实现电子器件的多功能化以及高功能化、且品质没有偏差的偏振片之际精度良好地检查该偏振片。本发明的检查方法包括向具有非偏振部(2)的偏振片(1)的包含非偏振部(2)在内的范围照射光、并对偏振片(1)的透射光像进行拍摄的工序。在此，透射光像中的非偏振部(2)与其他部位的对比度比(非偏振部/其他部位)是1.5以上。
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公开(公告)号：CN106199807B
公开(公告)日：2020-07-28
申请号：CN201610356001.9
申请日：2016-05-26
Applicant: 日东电工株式会社
IPC: G02B5/30 , G02B1/14 , G02B1/04 , G02F1/1335
Abstract: 本发明提供在应用于液晶面板中的情况下也可以抑制显示不均及黄变、并且还能够防止制膜时的烧焦的偏振板及液晶显示装置。本发明的偏振板是在聚乙烯醇系偏振片的两面夹隔着胶粘剂层设有透明保护膜的偏振板，一面的第一透明保护膜含有(甲基)丙烯酸系树脂，并且具有紫外线吸收剂，所述(甲基)丙烯酸系树脂是具有不饱和羧酸烷基酯单元及以通式(1)表示的戊二酰亚胺单元的(甲基)丙烯酸系树脂，酰亚胺化率为2.5～5.0％，酸值为0.10～0.50mmol/g的范围，并且丙烯酸酯单元小于1重量％，另一面的第二透明保护膜含有环烯烃系树脂。此处，R1及R2各自独立地表示氢或碳原子数1～8的烷基，R3表示碳原子数1～18的烷基、碳原子数3～12的环烷基、或碳原子数6～10的芳基。
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公开(公告)号：CN105824070B
公开(公告)日：2019-12-13
申请号：CN201610048354.2
申请日：2016-01-25
Applicant: 日东电工株式会社
IPC: G02B5/30 , G02F1/1335
Abstract: 本发明提供即使在应用于液晶面板的情况下也能抑制显示不均及黄变、且还能防止在膜制膜时的焦糊的偏振板及液晶显示装置。本发明的偏振板为在聚乙烯醇系偏振片的两面隔着粘接剂层设有透明保护膜的偏振板，一个面的第1透明保护膜含有(甲基)丙烯酸系树脂、并且具有紫外线吸收剂，所述(甲基)丙烯酸系树脂具有不饱和羧酸烷基酯单元及通式(1)所示的戊二酰亚胺单元，并且酰亚胺化率为2.5～5.0％、酸值为0.10～0.50mmol/g的范围且丙烯酸酯单元不足1重量％，另一个面的第2透明保护膜为含有纤维素酯而成、且满足nx＞ny＞nz的关系的相位差板。
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公开(公告)号：CN106990469A
公开(公告)日：2017-07-28
申请号：CN201610868030.3
申请日：2016-09-29
Applicant: 日东电工株式会社
CPC classification number: G02B5/3033 , G01N21/95
Abstract: 提供一种偏振片的检查方法和偏光板的制造方法。在偏振片中以高精度来高效地形成非偏振部，以使该非偏振部成为期望的形状和特性。一种检查方法，对具有非偏振部的偏振片进行检查，该方法包括：摄像步骤，从该偏振片的一侧照射光，拍摄来自该偏振片的反射光；以及检查步骤，基于所得到的图像来检查该偏振片的非偏振部。
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