-
公开(公告)号：CN115993324A
公开(公告)日：2023-04-21
申请号：CN202111207537.1
申请日：2021-10-18
申请人： 天津津航技术物理研究所
摘要： 本发明提供了一种偏振‑光谱滤波型分光结构及一体式图像传感器，分光结构设置在图像传感器的像素感光单元上；所述像素感光单元包括若干像素感光部位；所述分光结构包括与像素感光部位一一对应的滤波结构；所述分光结构包括若干周期，每个周期包括m*n个滤波结构，m*n＞4，m、n为正整数，每个周期包括随机排列的偏振方向不同的若干偏振滤波结构和至少一个光谱滤波结构。在单层分光结构中分布光谱滤波结构、偏振滤波结构，结构简单，制备工艺成熟，同时采集图像的光谱、偏振信息，结合偏振增强、光谱识别的优势，可以实现复杂背景环境下更加准确的目标识别。
-
公开(公告)号：CN115993186A
公开(公告)日：2023-04-21
申请号：CN202111208227.1
申请日：2021-10-18
申请人： 天津津航技术物理研究所
摘要： 本发明提供了一种手持式多光谱成像仪，该手持式多光谱成像仪包括图像传感器，该图像传感器包括像素感光单元、分光结构、过渡层、第一、第二和第三截止滤波膜，分光结构中的窄带滤光膜一体式沉积生长在像素感光单元上，过渡层一体式沉积生长在窄带滤光膜上，第一截止滤波膜一体式沉积生长在窄带滤光膜上，过渡层用于过渡窄带滤光膜和第一截止滤波膜两个膜系，第二截止滤波膜设置在第一截止滤波膜上，第三截止滤波膜设置在第二截止滤波膜上，第一、第二和第三截止滤波膜分别用于截止第一、第二和第三干扰波段。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中截止滤波膜贴合方式所导致的光谱透过率低和量子效率低的技术问题。
-
公开(公告)号：CN115993180A
公开(公告)日：2023-04-21
申请号：CN202111207524.4
申请日：2021-10-18
申请人： 天津津航技术物理研究所
IPC分类号： G01J3/02 , G01J3/28 , G02B5/20 , H01L27/146
摘要： 本发明提供了一种光谱成像芯片结构，该光谱成像芯片结构包括像素感光单元、匹配层、窄带滤光膜、过渡层、第一和第二截止滤波膜，匹配层一体式沉积生长在像素感光单元上，窄带滤光膜一体式沉积生长在匹配层上，窄带滤光膜用于实现在所需波段中心波长的可调谐，过渡层一体式沉积生长在窄带滤光膜上，第一截止滤波膜一体式沉积生长在过渡层上，过渡层用于过渡窄带滤光膜和第一截止滤波膜两个膜系，第二截止滤波膜粘贴设置在第一截止滤波膜上，匹配层用于过渡感光单元与窄带滤光膜、过渡层、第一以及第二截止滤波膜之间的光学导纳以提高中心波长峰值透过率。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中芯片结构的光谱透过率低、量子效率低的技术问题。
-
公开(公告)号：CN111024229B
公开(公告)日：2022-04-01
申请号：CN201911190015.8
申请日：2019-11-28
申请人： 天津津航技术物理研究所
IPC分类号： G01J3/12
摘要： 本发明属于光谱成像技术领域，具体涉及一种单芯片集成型光谱成像微系统光谱数据校正方法。所述校正方法包括：步骤1：完成底层校正算法的设计；步骤2：根据底层校正算法计算校正矩阵；步骤3：将校正矩阵作用于光谱成像微系统输出光谱数据，得到校正后结果。本发明相对于现有迭代校正的技术方法，从硬件结构特性出发，提高了光谱成像微系统的光谱数据准确度。同时，减小校正矩阵对参考目标光谱数据的依赖性，对于不同的实际场景下应用均适用。底层校正算法的引入，初步解决了光谱成像微系统硬件结构及固有特性带来的影响光谱准确因素对光谱数据的影响问题，提高了光谱成像微系统光谱数据准确度。
-
公开(公告)号：CN112331682A
公开(公告)日：2021-02-05
申请号：CN202011206090.1
申请日：2020-11-02
申请人： 天津津航技术物理研究所
IPC分类号： H01L27/146
摘要： 本发明涉及一体式生长的马赛克式图像传感器结构和制备方法，属于半导体技术领域。本发明设计的2*2的马赛克式像素结构，三个RGB像素结构中具备干涉截止膜结构，另外一个像素结构不具备干涉截止膜，为全透区域。四个像素为一个马赛克结构，该结构周期排列，整体构成具备干涉截止膜的全彩图像传感器；波长范围为380‑900nm之间，其中380～700nm范围内平均透过率>95％，800～900nm范围内平均透过率
-
公开(公告)号：CN118279686A
公开(公告)日：2024-07-02
申请号：CN202211725467.3
申请日：2022-12-30
申请人： 天津津航技术物理研究所
IPC分类号： G06V10/774 , G06N3/08 , G06F30/27 , G06F111/08
摘要： 本发明提供了一种支撑深度学习的光谱图像样本数据拓充方法，包括获取初始样本集，初始样本集包括i个光谱特征谱段；根据深度学习模型对训练样本集的数量需求，确定待拓充样本数量j；随机生成包含k个系数的系数组，每组系数之和为1；在初始样本集中随机取k个不同样本，基于每个系数组计算拓充光谱数据样本。本发明通过设计模拟光谱生成方法，在保留目标的光谱特征条件下对目标光谱图像数据进行拓充，可用于支撑深度学习算法模型参数训练，提高模型鲁棒性及泛化能力。
-
公开(公告)号：CN116416187A
公开(公告)日：2023-07-11
申请号：CN202111658489.8
申请日：2021-12-30
申请人： 青岛海尔智能技术研发有限公司 , 天津津航技术物理研究所 , 海尔智家股份有限公司
摘要： 本申请涉及智能家电技术领域，公开一种用于烹饪设备的光谱图像处理方法，该光谱图像处理方法包括：获取高光谱成像系统所采集的待处理的原始光谱图像，并对原始光谱图像进行预处理；对预处理后的原始图像进行二值化处理，并按照预设顺序通过标记算法遍历二值化处理后的图像，获得图像中的目标食材图像的连通集合；对连通集合进行去噪，获得目标食材的坐标信息。如此，在获取原始光谱图像后，通过二值化等处理方式，将目标食材图像与背景图像进行分离，并通过寻找图像中的有效像素位置作为目标食材的坐标信息，从而提高了对光谱图像中目标食材信息的识别效率和准确率。本申请还公开一种用于烹饪设备的光谱图像处理装置及烹饪设备。
-
公开(公告)号：CN116413227A
公开(公告)日：2023-07-11
申请号：CN202111658515.7
申请日：2021-12-30
申请人： 青岛海尔智能技术研发有限公司 , 天津津航技术物理研究所 , 海尔智家股份有限公司
摘要： 本申请涉及智能家电技术领域，公开一种用于食材成熟度的检测方法，该检测方法包括：响应于成熟度检测指令，使用高光谱成像系统采集烹饪设备内食材的光谱数据；获得烹饪设备的定标预处理数据，并根据定标预处理数据对食材的光谱数据进行处理，获得食材的当前目标反射光谱；根据食材的当前目标反射光谱，确定食材的当前成熟度。通过获取烹饪设备的定标预处理数据，对采集到的食材光谱数据进行处理，以降低烹饪设备内环境光源特征对采集到的食材光谱数据的影响，从而提高根据食材光谱数据检测食材成熟度的准确性。本申请还公开一种高光谱成像系统及烹饪设备。
-
公开(公告)号：CN116406960A
公开(公告)日：2023-07-11
申请号：CN202111663550.8
申请日：2021-12-30
申请人： 青岛海尔智能技术研发有限公司 , 天津津航技术物理研究所 , 海尔智家股份有限公司
IPC分类号： A47J36/32
摘要： 本申请涉及智能家电技术领域，公开一种用于烹饪设备的清洁提示方法，该提示方法包括：响应于检测指令，获得高光谱成像系统采集的烹饪设备内的当前周期的当前图像信息；获得所述当前图像信息中的油污特征图像；根据所述油污特征图像的光谱信息，确定对应的用于清洁提示的信息。利用油污特征图像的光谱信息与镜头清洁程度之间的关系，向用户推送清洁提示信息，以提示用户进行烹饪设备内部、高光谱成像系统的镜头等部位的清洁，进而避免镜头等部件清洁程度降低对采集到的食材光谱数据的影响，从而保证根据食材光谱数据检测食材成熟度的准确性。本申请还公开一种用于烹饪设备的清洁提示装置及烹饪设备。
-
公开(公告)号：CN116406959A
公开(公告)日：2023-07-11
申请号：CN202111663479.3
申请日：2021-12-30
申请人： 青岛海尔智能技术研发有限公司 , 天津津航技术物理研究所 , 海尔智家股份有限公司
IPC分类号： A47J36/32
摘要： 本申请涉及智能家电技术领域，公开一种用于烹饪进度提示的方法，该方法包括：确定与烹饪指令相对应的目标烹饪时长和目标成熟度；根据已烹饪时长与目标烹饪时长的第一比值，确定目标食材的第一成熟进度，并根据第一成熟进度确定烹饪进度提示信息；获得高光谱成像系统采集的当前时刻的目标食材的光谱信息，并根据光谱信息，确定目标食材的当前成熟度；根据当前成熟度与目标成熟度的第二比值，确定目标食材的第二成熟进度；在第一成熟进度和第二成熟进度之间的进度差值满足进度修正条件的情况下，根据第二成熟进度修正第一成熟进度。实现了对成熟度连续变化的检测、提示。本申请还公开一种用于烹饪进度提示的装置及烹饪设备。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
搜索结果
50 条记录 (耗时 0.06 秒)
