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公开(公告)号：CN119292639A
公开(公告)日：2025-01-10
申请号：CN202411673688.X
申请日：2024-11-21
Applicant: 南京国电南自电网自动化有限公司
IPC: G06F8/65
Abstract: 本发明涉及电力系统自动化技术领域，具体为一种FPGA程序多版本管理在线升级系统及方法，所述系统包括：FPGA模块、CPU模块、Flash存储模块和远程CPU模块；所述Flash存储模块中存储有多个不同功能版本的FPGA程序；所述Flash存储模块与所述CPU模块连接；所述CPU模块通过所述FPGA模块从所述远程CPU模块获取控制命令；所述CPU模块根据所述控制命令中的FPGA程序版本信息控制所述FPGA模块烧写对应的FPGA版本程序。本发明提高了FPGA程序管理的灵活性和可靠性，通过在线升级功能，确保了系统的持续更新和维护，无需物理接触或更换硬件，从而降低了维护成本并提高了系统的可用性。
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公开(公告)号：CN113625044B
公开(公告)日：2024-06-21
申请号：CN202110896187.8
申请日：2021-08-05
Applicant: 南京国电南自电网自动化有限公司
Abstract: 本发明公开了一种开关量采样装置，包括控制器件、电阻网络、稳压器件、隔离器件和开关器件；电阻网络的输入端和稳压器件的输入端分别为开入信号的正输入端和负输入端，电阻网络的输出端和稳压器件的输出端分别连接隔离器件的正输入端和负输入端，隔离器件的输出端连接控制器件，开关器件与稳压器件并联，开关器件的控制端连接控制器件。同时公开了相应的方法。本发明通过开关器件控制稳压器件在开入回路中的状态，可在各种状态下测量隔离器件隔离后副边输出电压，经过数学计算，能准确得出开入信号电压值。
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公开(公告)号：CN118050577A
公开(公告)日：2024-05-17
申请号：CN202410094015.2
申请日：2024-01-23
Applicant: 南京国电南自电网自动化有限公司
Abstract: 本发明涉及继电保护装置辅助设备技术领域，提供一种用于继电保护装置的检测装置，包括：干燥机构(1)；继电保护装置定位机构(2)，支撑在干燥机构(1)上，用于定位继电保护装置；干燥机构(1)吸取所述继电保护装置定位机构(2)中的带有水汽的空气，对带有水汽的空气进行干燥，然后将干燥的空气输送给所述继电保护装置定位机构(2)，使继电保护装置处于干燥状态。本发明能够通过干燥机构对继电保护装置定位机构中的带有水汽的潮湿空气进行抽取干燥，然后将干燥的空气输送给继电保护装置定位机构，使得继电保护装置定位机构中的空气始终保持干燥状态，保证继电保护装置在通电运行进行检测的过程中不发生短路现象，保证检测的精准性。
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公开(公告)号：CN114740415A
公开(公告)日：2022-07-12
申请号：CN202210409682.6
申请日：2022-04-19
Applicant: 南京国电南自电网自动化有限公司
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明公开了一种模拟量输入输出校准方法，包括：根据校准配置检测待测模件上模拟量回路是否存在短路或断路状态，若存在短路或断路状态，则结束运行，获得测试数据；若不存在短路或断路状态，则主控模件按照测试配置，逐个通道进行逐点校准，获得校准数据。一种模拟量输入输出校准装置，用于执行模拟量输入输出校准方法，MUX模件通过连接器电连接待测模件；主控模件通过母板模件电连接MUX模件，待测模件通过母板模件电连接主控模件；主控模件通过控制总线电连接人机接口模件。本发明提高了测量准确度，由于程序自动操作，可以校准及测量的点数可以设置更多，校准后的测量输出值准确度也会相应提高。
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公开(公告)号：CN110426627B
公开(公告)日：2021-11-12
申请号：CN201910762886.6
申请日：2019-08-19
Applicant: 南京国电南自电网自动化有限公司
IPC: G01R31/327
Abstract: 本发明公开了一种继电保护装置用功率继电器触点性能测试系统，直流电源、总开关、被测功率继电器触点、直流电压变送器依次串联，直流电源与直流电压变送器之间并联有不少于2支的测试支路，继电保护装置的继电器触点出口与被测功率继电器相连接；控制器根据接收到的测试项目参数，通过IO模块向驱动电路发送指令，驱动电路控制控制测试开关、保护控制开关的断开与闭合；直流电压变送器采集测试回路中的电压值，并通过电压采集电路送到控制器，控制器根据采集电压值与设定电压值相比较，输出被测功率继电器测试结果，并接收反馈控制指令。本发明能够满足电力行业对于继电保护用功率继电器触点性能的测试。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111506000B
公开(公告)日：2021-07-30
申请号：CN202010446211.3
申请日：2020-05-25
Applicant: 南京国电南自电网自动化有限公司
IPC: G05B19/042
Abstract: 本发明公开了一种基于非实时总线的同步采样装置，包括与CAN总线相连的主机箱和扩展机箱，主机箱包括第一FPGA；扩展机箱包括第二FPGA和第二采样模件；第一FPGA产生第一内部时间基准，并传输至第二FPGA；第二FPGA收到第一内部时间基准后，生成与第一内部时间基准同步的第二内部时间基准；第二采样模件对获得的第二内部时间基准进行处理，获得含有秒和纳秒的时间信息；第二采样模件产生采样脉冲，并对每次的采样值添加含有秒和纳秒的时间信息，将采样值发送至第二FPGA，第二FPGA产生交流模拟量的采样脉冲，对每次的采样值添加含有秒和纳秒的时间信息；第二FPGA将所有的采样值发送至第一FPGA。本发明不依赖实时操作系统和实时采样机制，能够保证交流采样与开关量及DC直流量的同步。
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公开(公告)号：CN109031104B
公开(公告)日：2021-04-16
申请号：CN201810598959.8
申请日：2018-06-12
Applicant: 南京国电南自电网自动化有限公司
IPC: G01R31/327
Abstract: 本发明公开了一种用于继电保护装置继电器触点性能检测装置，直流220V电压通过第一控制开关接到继电器触点一端，继电器触点另一端接到30W回路和1000W回路上，1000W回路通过第二控制开关接到继电器触点上，继电器触点的动作与关断通过继电保护装置控制；直流电压变送器用于采集继电器触点的电压；所述EV事件管理器通过PWM波调理电路输出驱动控制开关；电压采集电路输出给ADC模块；控制开关开关状态通过数字电路反馈给DSP控制器的IO口；DSP控制器的通信模块通过以太网电路与上位机进行通信。本发明用于判断继电器是否已经损坏，以及统计继电器的动作次数，方便对继电保护用继电器触点的检测。
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公开(公告)号：CN112180146A
公开(公告)日：2021-01-05
申请号：CN202010945787.4
申请日：2020-09-10
Applicant: 南京国电南自电网自动化有限公司
IPC: G01R19/165 , H02H1/00
Abstract: 本发明公开了一种电压等级自动识别的开关量采样方法，包括采集系统的输入电压，判断输入电压等级；根据电压等级，计算ADC采样电压；根据ADC采样电压和采集的开入模件温度，计算实际采样电压；根据实际采样电压、开入模件当前开入状态和预设规则，判断最终的开入状态。同时公开了相应的系统。本发明根据系统输入电压，判别输入电压等级，根据输入电压等级计算实际采样电压，获得最终的开入状态，实现对继电保护装置开入模件采样自适应。
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公开(公告)号：CN106093621B
公开(公告)日：2019-03-19
申请号：CN201610370566.2
申请日：2016-05-30
Applicant: 南京国电南自电网自动化有限公司
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开了一种电力自动化装置智能插件自动测试平台的测试方法，包括以下步骤：(1)运行程序下载、配置载入；(2)仪器驱动：对平台中的测试仪器进行驱动程序开发；(3)逻辑判断夹具位置；(4)测试信息录入：通过条形码扫描对测试信息进行录入，并对条码扫描结果进行信息比对；(5)判断板件电压：读取板件工作电压，判断智能插件是否已正常配置到测试平台；(6)判断测试逻辑：针对不同的智能插件，控制仪器配置不同的测试项目，拾取智能插件的响应，判断形成当前测试项目的结论；(7)设计运行界面。本发明通过测试程序下载、仪器驱动、测试信息录入、测试逻辑判断、测试数据记录实现了对电力自动化装置智能插件的自动测试。
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公开(公告)号：CN109142933A
公开(公告)日：2019-01-04
申请号：CN201811063228.X
申请日：2018-09-12
Applicant: 南京国电南自电网自动化有限公司
CPC classification number: G01R31/003 , G01M7/00
Abstract: 本发明公开一种基于HALT及LabVIEW测试电力自动化装置可靠性的方法，属于电力系统二次设备可靠性测试领域。利用高加速寿命试验设备，配合基于LabVIEW开发的专用测试程序来验证电力自动化装置的可靠性。本发明目的是寻找电力自动化装置硬件设计中潜在的薄弱环节，确认产品的温度、振动、电源电压的工作条件极限和破坏极限，将设计问题和元器件问题在样机阶段充分暴露并得以纠正，改善产品的操作极限、破坏极限和出厂后的产品的可靠性；本发明操作简单，具有良好的易用性，能够在产品设计阶段及早发现设计缺陷，节约了测试时间及成本，缩短了产品研发周期。
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