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公开(公告)号：CN105049296B
公开(公告)日：2019-03-12
申请号：CN201510531039.0
申请日：2015-08-26
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: H04L12/26
Abstract: 基于异构网多干扰系统包碰撞模型的误包性能检测方法，涉及异构网络中非授权频段下出现的多干扰技术。考虑到干扰数据包长度、相邻干扰数据包之间的间隔以及干扰数据流与期望数据包之间的偏移均为满足某种分布的随机变量，解决了传统包碰撞模型中干扰数据包长度在内的其他参量均为定值的不合理问题。在这一较为符合实际情况的前提条件下，建立异构网多干扰共存的包碰撞分析模型。系统中存在干扰数据包长度、间隔以及偏移这三个随机变量，无法用传统积分的方式求解碰撞概率，因此，本发明用离散化的方式，将期望数据包和干扰数据包分割成等长的小段，求解每小段的碰撞概率，从而将积分过程转化为概率求解过程。本发明适用于误包性能检测。
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公开(公告)号：CN108680619A
公开(公告)日：2018-10-19
申请号：CN201810290821.1
申请日：2018-04-03
Applicant: 哈尔滨工业大学(威海)
Abstract: 本发明涉及一种电化学‑质谱联用装置及其使用方法，解决了现有技术结构复杂、制作难度高、操作难度大、电化学反应的稳定性和连续性差、不适用于对复杂电化学体系的进行实时、原位监测与分析的技术问题。本发明提供一种电化学‑质谱联用装置，包括质谱仪和电化学反应装置，电化学反应装置设有电源工作站、电化学电极组合和电化学反应平台，电化学反应平台为至少带有一个尖角的载体，载体的一个尖角设为样品角；电化学电极组合通过电源工作站控制提供电化学反应的电压和样品溶液的电离喷雾电压，使样品角处的待测样品溶液发生电化学反应并产生电喷雾电离，电喷雾的离子进入质谱进样口；同时提供其使用方法。本发明广泛应用于电化学分析技术领域。
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公开(公告)号：CN105895494B
公开(公告)日：2017-12-12
申请号：CN201610491641.0
申请日：2016-06-29
Applicant: 哈尔滨工业大学(威海)
Abstract: 本发明涉及一种质谱离子源装置，其包括针尖电极、绝缘介质、电源、仪器接口及气体导管；所述绝缘介质位于针尖电极与仪器接口间，所述针尖电极尖端部分与绝缘介质接触，另一端与电源相连，仪器接口接地并与电源另一端连接，针尖电极与仪器接口间形成强电场，放电气体经气体导管充满于绝缘介质与仪器接口间，在强电场作用下形成等离子体束，该等离子体束与绝缘介质表面待测物相互作用，使待测物电离，实现分析检测。本发明除具有结构简单、成本低、无需溶剂、高通量等优点外，针尖电极与仪器接口形成的线性电场，提高了离子的传输效率。此外该质谱离子源装置也可用于质谱成像分析。
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公开(公告)号：CN108680619B
公开(公告)日：2023-12-26
申请号：CN201810290821.1
申请日：2018-04-03
Applicant: 哈尔滨工业大学(威海)
Abstract: 本发明涉及一种电化学‑质谱联用装置及其使用方法，解决了现有技术结构复杂、制作难度高、操作难度大、电化学反应的稳定性和连续性差、不适用于对复杂电化学体系的进行实时、原位监测与分析的技术问题。本发明提供一种电化学‑质谱联用装置，包括质谱仪和电化学反应装置，电化学反应装置设有电源工作站、电化学电极组合和电化学反应平台，电化学反应平台为至少带有一个尖角的载体，载体的一个尖角设为样品角；电化学电极组合通过电源工作站控制提供电化学反应的电压和样品溶液的电离喷雾电压，使样品角处的待测样品溶液发生电化学反应并产生电喷雾电离，电喷雾的离子进入质谱进样口；同时提供其使用方法。本发明广泛应用于电化学分析技术领域。
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公开(公告)号：CN116747845A
公开(公告)日：2023-09-15
申请号：CN202310720294.4
申请日：2023-06-16
Applicant: 哈尔滨工业大学(威海)
IPC: B01J20/26 , B01J20/30 , B01J20/28 , C02F1/28 , C02F101/38
Abstract: 本发明提供了一种磁性衍生钴氮掺杂碳吸附材料及其制备方法与应用，利用原位合成的方法，通过六水合硝酸钴与二甲基咪唑聚合反应得到ZIF‑67(Co)，ZIF‑67(Co)再与三聚氰胺进行作用得到ZIF‑67(Co)/三聚氰胺，干燥的ZIF‑67(Co)/三聚氰胺粉末经研磨后再经高温煅烧碳化得到具有磁性的钴氮掺杂碳吸附材料；本发明制备工艺简单，反应条件温和，原材料廉价易得，制造成本低，制备的磁性衍生钴氮掺杂碳吸附材料具有高比表面积、大孔隙、高耐盐性、高稳定性、高磁性和优异的循环性能，可有效去除污水中的孔雀石绿，为染料废水净化的工业化应用提供了新的可能，属于磁性碳材料制备和环境科学技术领域。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111239230B
公开(公告)日：2022-07-12
申请号：CN202010135522.8
申请日：2020-03-02
Applicant: 哈尔滨工业大学(威海)
IPC: G01N27/416 , G01N27/62
Abstract: 本发明涉及用于电化学正负极反应产物实时同步监测装置及方法，解决了现有电化学‑质谱技术中，无法对正、负两极各自的电化学反应产物进行实时和同步监测的问题。本发明的装置，包括电化学反应池和电极组合，电极通过卡套式端直通管接头与电化学反应池上的安装口密封连接，从气体加压口处向电化学反应池内通入高压气体，确保工作电极金属管和辅助电极金属管充满反应液，当发生电化学反应时，工作电极和辅助电极表面生成的产物分别从工作电极金属管外端口和辅助电极金属管外端口喷出，分别进入质谱仪中进行检测，实现对正、负极电化学氧化还原反应产物的实时同步监测；同时提供其使用方法。本发明广泛应用于电化学‑质谱技术领域。
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公开(公告)号：CN111664940A
公开(公告)日：2020-09-15
申请号：CN202010553918.4
申请日：2020-06-17
Applicant: 哈尔滨工业大学(威海)
Abstract: 本发明公开了一种等离子体原子发射光谱仪的光谱采集系统，解决了现有技术光谱采集模块易污染，操作极为不便，重复性差，增加成本，降低效率的技术问题。本发明的等离子体原子发射光谱仪的光谱采集系统，其光谱采集系统由透镜组合构成，其依次包括平凹柱面反射镜、第一平凸柱面透镜、第二平凸柱面透镜、准直凸透镜和分光检测系统；等离子体原子发射光谱仪的等离子体原子发射区装置设于所述平凹柱面反射镜和第一平凸柱面透镜之间，使所述等离子体原子发射区装置产生的光谱光线经透镜组合收集进入到分光检测系统中；可广泛应用于光分析检测技术领域。
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公开(公告)号：CN111239230A
公开(公告)日：2020-06-05
申请号：CN202010135522.8
申请日：2020-03-02
Applicant: 哈尔滨工业大学(威海)
IPC: G01N27/416 , G01N27/62
Abstract: 本发明涉及用于电化学正负极反应产物实时同步监测装置及方法，解决了现有电化学-质谱技术中，无法对正、负两极各自的电化学反应产物进行实时和同步监测的问题。本发明的装置，包括电化学反应池和电极组合，电极通过卡套式端直通管接头与电化学反应池上的安装口密封连接，从气体加压口处向电化学反应池内通入高压气体，确保工作电极金属管和辅助电极金属管充满反应液，当发生电化学反应时，工作电极和辅助电极表面生成的产物分别从工作电极金属管外端口和辅助电极金属管外端口喷出，分别进入质谱仪中进行检测，实现对正、负极电化学氧化还原反应产物的实时同步监测；同时提供其使用方法。本发明广泛应用于电化学-质谱技术领域。
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公开(公告)号：CN111007057A
公开(公告)日：2020-04-14
申请号：CN201911334967.2
申请日：2019-12-23
Applicant: 哈尔滨工业大学(威海)
IPC: G01N21/69
Abstract: 本发明涉及通用型重金属单元素检测仪及其应用方法，解决了现有技术重金属检测方法中的光源和前处理过程复杂，成本高，结构复杂庞大，检测结果误差大，不能满足快速检测的技术问题。本发明提供通用型重金属单元素检测仪，包括电源、激发源、光路分离传输系统、光电检测系统；激发源采用介质阻挡放电方式产生微等离子体，实现对样品中的待测重金属原子的激发，并使其产生包含待测重金属元素的特征光在内的初始光束；光路分离传输系统用于将待测重金属元素的特征光从初始光束中分离后、传输到光电检测系统中进行检测分析，实现了对重金属单元素的检测；同时提供其应用方法。本发明广泛应用于重金属测定领域。
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公开(公告)号：CN105895494A
公开(公告)日：2016-08-24
申请号：CN201610491641.0
申请日：2016-06-29
Applicant: 哈尔滨工业大学(威海)
Abstract: 本发明涉及一种质谱离子源装置，其包括针尖电极、绝缘介质、电源、仪器接口及气体导管；所述绝缘介质位于针尖电极与仪器接口间，所述针尖电极尖端部分与绝缘介质接触，另一端与电源相连，仪器接口接地并与电源另一端连接，针尖电极与仪器接口间形成强电场，放电气体经气体导管充满于绝缘介质与仪器接口间，在强电场作用下形成等离子体束，该等离子体束与绝缘介质表面待测物相互作用，使待测物电离，实现分析检测。本发明除具有结构简单、成本低、无需溶剂、高通量等优点外，针尖电极与仪器接口形成的线性电场，提高了离子的传输效率。此外该质谱离子源装置也可用于质谱成像分析。
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