一种样品表面微纳米膜层高温相变的原位测量方法

    公开(公告)号:CN110823934B

    公开(公告)日:2022-05-17

    申请号:CN201911142344.5

    申请日:2019-11-20

    Abstract: 本发明提供了一种样品表面微纳米膜层高温相变的原位测量方法,包括步骤一、微纳米膜层样品预处理:将微纳米膜层材料切割成方形样品,保持样品表面清洁无污染;步骤二、微纳米膜层样品安装:将微纳米膜层样品置于自制专用加热样品台上,专用加热样品台由PID加热台加热,PID加热台由蓄电池供电;步骤三、样品表面微纳米膜层的温度校准;步骤四、样品表面微纳米膜层的常温XRD图谱采集;步骤五、样品表面微纳米膜层的高温XRD图谱原位测量。本发明能够实现样品表面微纳米膜层高温相变的原位测试,且能精确获得样品表面微纳米膜层材料的相变规律。

    用于表征材料局域应变分布特性的SEM-DIC散斑制备方法

    公开(公告)号:CN111610210B

    公开(公告)日:2023-04-11

    申请号:CN202010341549.2

    申请日:2020-04-27

    Abstract: 本发明公开了用于表征材料局域应变分布特性的SEM‑DIC散斑制备方法;属于光测力学、变形测量的技术领域。本发明解决现有技术中散斑分辨率低、散斑点分布不均匀性、适用性差,以及难以实现SEM‑DIC应变分析等问题。散斑制备:配制纳米二氧化硅悬浊液;待测样品前处理;待测样品表面散斑制备,散斑图像质量评价。本发明散斑的制备方法简单、快速、适应性强、低成本、实用性强、同时制备的散斑图案分散度好、精度高且不损伤样品表面状态,可以同时准确获得加载过程中样品表面的局部应变分布规律和相对应区域的表面形貌演变规律。

    用于表征材料局域应变分布特性的SEM-DIC散斑制备方法

    公开(公告)号:CN111610210A

    公开(公告)日:2020-09-01

    申请号:CN202010341549.2

    申请日:2020-04-27

    Abstract: 本发明公开了用于表征材料局域应变分布特性的SEM-DIC散斑制备方法;属于光测力学、变形测量的技术领域。本发明解决现有技术中散斑分辨率低、散斑点分布不均匀性、适用性差,以及难以实现SEM-DIC应变分析等问题。散斑制备:配制纳米二氧化硅悬浊液;待测样品前处理;待测样品表面散斑制备,散斑图像质量评价。本发明散斑的制备方法简单、快速、适应性强、低成本、实用性强、同时制备的散斑图案分散度好、精度高且不损伤样品表面状态,可以同时准确获得加载过程中样品表面的局部应变分布规律和相对应区域的表面形貌演变规律。

    一种样品表面微纳米膜层高温相变的原位测量方法

    公开(公告)号:CN110823934A

    公开(公告)日:2020-02-21

    申请号:CN201911142344.5

    申请日:2019-11-20

    Abstract: 本发明提供了一种样品表面微纳米膜层高温相变的原位测量方法,包括步骤一、微纳米膜层样品预处理:将微纳米膜层材料切割成方形样品,保持样品表面清洁无污染;步骤二、微纳米膜层样品安装:将微纳米膜层样品置于自制专用加热样品台上,专用加热样品台由PID加热台加热,PID加热台由蓄电池供电;步骤三、样品表面微纳米膜层的温度校准;步骤四、样品表面微纳米膜层的常温XRD图谱采集;步骤五、样品表面微纳米膜层的高温XRD图谱原位测量。本发明能够实现样品表面微纳米膜层高温相变的原位测试,且能精确获得样品表面微纳米膜层材料的相变规律。

    一种利用格网强化混凝的可调式机械絮凝反应方法

    公开(公告)号:CN102417252A

    公开(公告)日:2012-04-18

    申请号:CN201110316324.2

    申请日:2011-10-18

    Abstract: 一种利用格网强化混凝的可调式机械絮凝反应方法,它涉及一种水处理领域,以解决现有水处理利用搅拌桨进行混凝,且不能将能量均匀分布在水中的问题。方法:一、分别在一级搅拌桨和二级搅拌桨的桨叶上的水平轴与竖直轴之间的每个区域内设置一个格网,一级搅拌桨上的每个格网的网孔内切圆直径为5~50mm,二级搅拌桨上的每个格网的网孔内切圆直径为10~60mm,二级搅拌桨上的每个格网的网孔内切圆直径应大于一级搅拌桨上的每个格网的网孔内切圆直径5~15mm;二、一级搅拌桨的转数为2~5转/分钟,二级搅拌桨的转数为1~3.5转/分钟,三级搅拌桨的转数为0.5~2.5转/分钟。本发明用于水处理及化工等行业。

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