一种基于光学芯片基底的显微光谱测量装置及方法

    公开(公告)号:CN110398479A

    公开(公告)日:2019-11-01

    申请号:CN201910647452.1

    申请日:2019-07-17

    Abstract: 本发明公开了一种基于光学芯片基底的显微光谱测量装置及方法,装置包括:照明激光光源、扩束镜头、近端激光反射镜、聚焦显微物镜、宽光谱耦合载物光学芯片、收集显微镜、二向色镜、成像镜头和CCD图像传感器。方法如下:制备具有色散功能的宽光谱耦合载物光学芯片;照明激光光源发出的激光被扩束后经近端反射镜和聚焦显微物镜反射聚焦到芯片上的待测物体;待测分子所发出的信号将被束缚于宽光谱耦合载物光学芯片的表面并以多个角度向下出射,被收集显微物镜接收、二向色镜反射后,再被成像镜头成像于图像传感器,计算得出待测物体的光谱信号。本发明解决了传统光谱测量中收集速度慢,分析效率低的技术问题。

    基于清晰度的图像分块方法

    公开(公告)号:CN109300086A

    公开(公告)日:2019-02-01

    申请号:CN201810935422.6

    申请日:2018-08-16

    Abstract: 本发明提出了一种基于清晰度的图像分块方法,具体步骤为:步骤1、对两幅灰度图像分别进行去噪、增强预处理;步骤2、将预处理后的两幅图像分别分解成n个大小为M×N的图像块;步骤3、对两幅图相同位置图像块分别计算清晰度值,Fia表示图像A的第i个图像块的清晰度结果,Fib表示图像B的第i块的清晰度结果;步骤4、比较两幅图像相同位置清晰度的大小,得到二者的差值绝对值FiΔ,若差值绝对值FiΔ小于自定义阈值,则对图像块再次进行划分后回到步骤3,若FiΔ大于等于自定义阈值,则分块结束,完成图像的分块。本发明直接对图像子块进行清晰度数值比较判断子块划分情况,算法简单,耗时时间短,效率高。

    一种基于荧光耦合出射的光镊纵向定位反馈装置

    公开(公告)号:CN210953775U

    公开(公告)日:2020-07-07

    申请号:CN201921676927.1

    申请日:2019-10-09

    Abstract: 本实用新型公开了一种基于荧光耦合出射的光镊纵向定位反馈装置,包括:分光镜、物镜、成像透镜、成像传感器、浸没溶液、荧光样品、多层载物玻片、收集透镜、信号采集传感器、前置透镜和位移控制装置。方法如下:制备具有模式耦合出射功能的多层载物玻片;用于捕获样品的激光被扩束后经分光镜和物镜反射聚焦到浸没溶液中的荧光样品;荧光样品所发出的光经过多层载物玻片以不同角度向下出射;被收集透镜聚焦于信号采集传感器后计算其不同角度区域之间的出射光强比;根据其比值计算出荧光样品的纵向位置并为装置提供位置判据,进而通过位移控制装置控制前置透镜的位置。本实用新型解决了传统光镊系统中荧光样品纵向定位准确率低的技术问题。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

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