基于局域电化学刻蚀的制备X射线纳米CT金属微试样的装置

    公开(公告)号:CN107560909B

    公开(公告)日:2023-10-13

    申请号:CN201710806700.3

    申请日:2017-09-08

    Abstract: 本发明公开了一种基于局域电化学刻蚀的制备纳米CT金属微试样的装置,包括精密位置控制单元、电化学刻蚀单元、实时监控单元,所述精密位置控制单元用于样品的平移;所述的电化学刻蚀单元用于精确刻蚀样品,得到所需结构;所述的实时监控单元用于实时观察样品的刻蚀状态,并将所述的状态进行采集成像。本发明通过电化学局域刻蚀可以方便快捷、低成本制备直径仅为数十或数微米金属微柱试样及复杂形状例如狗骨头形状原位力学测试微试样,适用于多数金属或合金的X射线纳米CT试样的制备,本发明解决了金属材料纳米CT三维微观结构分析的制样难题,对促进X射线显微CT的推广应用具有重要的意义。

    一种测量材料辐照后力学性能的方法

    公开(公告)号:CN116359113A

    公开(公告)日:2023-06-30

    申请号:CN202310241107.4

    申请日:2023-03-14

    Inventor: 赵宁 尤泽升

    Abstract: 本发明公开了一种测量材料辐照后力学性能的方法,应用于辐照金属材料技术领域。其方法为:通过定量辐照处理材料,并利用飞秒激光加工设备制备微尺度力学测试样品,并使用基于数字相关识别应变测量的微尺度力学测试平台获取辐照力学性能。本发明使用飞秒激光微加工系统可以有效解决质子辐照深度限于微米尺度的缺点,并能够高效获得可靠的力学曲线用于研究宏观工程尺度的力学行为。

    一种可定位薄区位置的透射电镜样品制备装置及方法

    公开(公告)号:CN113092506A

    公开(公告)日:2021-07-09

    申请号:CN202110266694.3

    申请日:2021-03-10

    Abstract: 本发明属于材料测试领域,具体为一种可定位薄区位置的透射电镜样品制备装置和方法。包括电化学反应单元,原位观察单元,样品安装单元,抛光定位单元,图像采集单元和控制系统;电化学反应单元采用阴极抛光针对与阳极连接的样品的电解抛光;原位观察单元用于观察样品的侧面和正面,确定并定位阴极抛光针相对样品表面的距离;试样安装单元用于安装样品,并调节样品的位置;抛光定位单元用于调节阴极抛光针相对于样品表面的位置和距离;图像采集单元用于采集样品的实时图像并显示于控制系统。本发明具有在局部电解抛光过程中不会引入离子注入的特点,可以实现对于需要抛光区域进行精准定位等优点,为微尺度样品的结构表征提供新的样品制备方法。

    一种基于飞秒激光加工的多取向介观拉伸样品制备方法

    公开(公告)号:CN109668765A

    公开(公告)日:2019-04-23

    申请号:CN201910048616.9

    申请日:2019-01-18

    Abstract: 本发明为一种基于飞秒激光加工的多取向介观拉伸样品制备方法。该方法利用线切割设备切下所需样品薄片,利用抛光砂纸对薄片进行机械减薄,把减薄后薄片清洗干净,放入飞秒激光加工系统的操作台,按照需求调整加工参数,设定拉伸样品的几何形状,进行激光加工,加工完成后利用除尘器去除样品表面的离子沉淀且使用溶液清洗干净,清洗后对样品进行电解抛光,获得多取向介观拉伸样品。本发明的制备方法对比现有的制样方法不仅速度快,成本低,而且能满足对尺寸较小材料多取向做微观拉伸测试的需求。

    一种材料介观尺度单向拉伸测量系统及方法

    公开(公告)号:CN109357938A

    公开(公告)日:2019-02-19

    申请号:CN201811332122.5

    申请日:2018-11-09

    Inventor: 尤泽升 王浩 付浩

    Abstract: 本发明属于材料力学性能测量领域,具体涉及一种材料介观尺度单向拉伸测量系统及方法。所述系统用于数微米至数百微米之间的微试样力学性能的测量,系统包括样品固定单元、样品对中单元、精密加载单元、载荷信号传感单元、数字图像相关应变测量单元以及操作台。所述的数字图像相关应变测量单元设置在操作台的一侧,用于对样品的正面进行图像采集,包括三维平移台、高倍远心测量镜头、CCD工业相机、高速图像采集卡以及实时数字图像相关计算模块。该系统借助精密电动平移台和高分辨率光学显微镜实现样品的准确对中;同时通过数字图像相关技术非接触测量样品标距段的实时应变,绘制应力-应变曲线,具有体积小、结构紧凑、测试精度高等的优点。

    基于局域电化学刻蚀的制备X射线纳米CT金属微试样的装置

    公开(公告)号:CN207528521U

    公开(公告)日:2018-06-22

    申请号:CN201721150007.7

    申请日:2017-09-08

    Abstract: 本实用新型公开了一种基于局域电化学刻蚀的制备纳米CT金属微试样的装置,包括精密位置控制单元、电化学刻蚀单元、实时监控单元,所述精密位置控制单元用于样品的平移;所述的电化学刻蚀单元用于精确刻蚀样品,得到所需结构;所述的实时监控单元用于实时观察样品的刻蚀状态,并将所述的状态进行采集成像。本实用新型通过电化学局域刻蚀可以方便快捷、低成本制备直径仅为数十或数微米金属微柱试样及复杂形状例如狗骨头形状原位力学测试微试样,适用于多数金属或合金的X射线纳米CT试样的制备,解决了金属材料纳米CT三维微观结构分析的制样难题,对促进X射线显微CT的推广应用具有重要的意义。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    弯曲断裂测试的非接触式裂纹张开位移测量装置

    公开(公告)号:CN210665329U

    公开(公告)日:2020-06-02

    申请号:CN201920837549.4

    申请日:2019-06-05

    Inventor: 渠首道 尤泽升

    Abstract: 本实用新型属于材料性能测试领域,特别是一种弯曲断裂测试的非接触式裂纹张开位移测量装置。包括力学实验机;弯曲测试工装:包括一个上压头和两个下压头,试样装夹在上压头和下压头之间;数字图像采集系统:包括工业相机,成像镜头,设置在成像镜头前端的环形LED照明光源,相机支撑系统和反射镜;反射镜呈45°倾斜角设置在试样的下部,反射镜将光源产生的光线反射至试样断裂表面,同时将断裂试样表面图像反射入成像镜头内;控制系统:实时显示工业相机图像,计算实时裂纹张开位移。本实用新型使用光学成像系统采集试样裂纹口周围的图像,利用数字图像相关算法计算实时裂纹张开位移,可以实现非接触式测量,测量装置对样品不产生任何影响。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    一种材料介观尺度单向拉伸测量系统

    公开(公告)号:CN209231099U

    公开(公告)日:2019-08-09

    申请号:CN201821844305.0

    申请日:2018-11-09

    Inventor: 尤泽升 王浩 付浩

    Abstract: 本实用新型属于材料力学性能测量领域,具体涉及一种材料介观尺度单向拉伸测量系统及方法。所述系统用于数微米至数百微米之间的微试样力学性能的测量,系统包括样品固定单元、样品对中单元、精密加载单元、载荷信号传感单元、数字图像相关应变测量单元以及操作台。所述的数字图像相关应变测量单元设置在操作台的一侧,用于对样品的正面进行图像采集,包括三维平移台、高倍远心测量镜头、CCD工业相机、高速图像采集卡以及实时数字图像相关计算模块。该系统借助精密电动平移台和高分辨率光学显微镜实现样品的准确对中;同时通过数字图像相关技术非接触测量样品标距段的实时应变,绘制应力-应变曲线,具有体积小、结构紧凑、测试精度高等的优点。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

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