公开(公告)号：CN221528419U

公开(公告)日：2024-08-13

申请号：CN202323435796.7

申请日：2023-12-15

Applicant: 华南农业大学

Inventor： 饶华商 ,  张键鑫 ,  张桂芝 ,  钟新华 ,  潘振晓

IPC: G01N21/31 ,  G01N21/64 ,  G01N21/01

Abstract: 本实用新型提供一种运用于薄膜样品的变温光谱测试装置，包括激发光源、薄膜样品测试热平台、控温器、积分球、光谱仪和计算机。该装置将薄膜样品固定于热平台上，根据不同测试的入射光角度要求，通过改变激光器的激发光与薄膜样品的角度来调节入射角度，以提高薄膜样品测试重复性，同时可做温度相关的光谱测试。

公开(公告)号：CN217954306U

公开(公告)日：2022-12-02

申请号：CN202221980464.X

申请日：2022-07-29

Applicant: 华南农业大学

Inventor： 饶华商 ,  张桂芝 ,  钟新华 ,  潘振晓

IPC: G01N23/20025 ,  G01N23/207

Abstract: 本实用新型公开了一种X射线衍射薄膜样品台，包括样品基准支架、样品上支架、样品下支架和固定机构；样品基准支架的上表面与样品上支架的下表面固定连接，下表面与样品下支架固定连接；样品基准支架上设有基准通孔；样品上支架上设有上支架通孔，上支架通孔的尺寸小于基准通孔；样品下支架底部安装有固定机构，固定机构用于将样品压紧在基准通孔内。本实用新型的目的在于克服现有技术的缺陷和不足，提供了一种X射线衍射薄膜样品台，提高薄膜样品的测试精度。