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公开(公告)号:CN2817066Y
公开(公告)日:2006-09-13
申请号:CN200420057785.8
申请日:2004-12-15
Applicant: 华中科技大学
IPC: H01L21/306 , H01L21/3063 , H01L31/18 , G01J5/10 , B81C1/00
Abstract: 一种铁电薄膜红外探测器硅微桥腐蚀装置,属于单晶硅基片制备的有关设备,目的在于有效地防止腐蚀液渗漏,使得薄膜沉积工艺先于微桥制备工艺成为可能,提高器件的质量及成品率。本实用新型加热器上安置水浴缸,水浴缸中置有烧杯,冷凝器通过密封盖设置于烧杯上,水浴缸中同时置有温度计,温度计、温控仪和加热器串联构成温度控制回路;其特征在于烧杯中设有不锈钢圆筒,该不锈钢圆筒由不同直径的两个不锈钢圆筒构成一体、直径较大的不锈钢圆筒内壁旋有固紧螺栓;该固紧螺栓为中心透空的螺栓。应用该装置,能有效地保护硅基片正面图形,使薄膜沉积工艺先于微桥制备工艺进行,提高器件的质量及成品率。
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公开(公告)号:CN2747587Y
公开(公告)日:2005-12-21
申请号:CN200420072099.8
申请日:2004-07-26
Applicant: 深圳华中科技大学研究院
IPC: G01R31/00
Abstract: 一种铁电材料参数测试仪,用于铁电材料的电滞回线、I-V特性和开关特性测量,包括机壳,面板和位于机壳内的电路,所述面板上包括用于与示波器相连的X接线柱、Y接线柱以及接地柱,用于与被测铁电材料相连的一对接线柱,该对接线柱分别与所述X接线柱和Y接线柱短接,所述Y接线柱与接地柱之间串有用于电滞回线测量的标准电容/用于I-V特性和开关特性测量的标准电阻;所述机壳内的电路包括电压源、模拟信号产生电路、功率驱动电路、高压驱动电路、高压选择开关、正矩形脉冲产生电路、负矩形脉冲产生电路、双极性双脉冲合成电路和模拟/脉冲信号选择开关。本测试仪,能够满足一般工程技术人员的实际需要,并且构建成本低。
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