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公开(公告)号：CN108015414A
公开(公告)日：2018-05-11
申请号：CN201711178768.8
申请日：2017-11-23
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明公开了一种激光三维内雕加工能量动态补偿系统及其操作方法。系统包括中性密度衰减方片、与之匹配的衰减片夹持装具、单轴向步进电机、激光系统、二向色镜、长工作距离聚焦物镜、透明样品、用于放置所述透明样品的透明样品加工模具、用于固定所述透明样品加工模具的三维位移台、计算机和电机控制箱；激光系统发出激光光束，其透射过中性密度衰减方片后，经二向色镜被反射导入长工作距离聚焦物镜之中进行聚焦，对透明样品进行加工。计算机根据三维位移台的运动速度和已位移时间计算出单轴向步进电机的实时位移速度，实时反馈到电机控制箱，实现对单轴向步进电机和三维位移台的速度控制。进而使得激光在表面和内部加工时的刻蚀尺度保持一致。
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公开(公告)号：CN111595444B
公开(公告)日：2023-03-14
申请号：CN202010506375.0
申请日：2020-06-05
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本申请公开了一种运动目标光谱跟踪测量遥感系统及方法。所述运动目标光谱跟踪测量遥感系统包括镜头组件、瞄准成像系统、光谱探测系统以及总控制器；其中，镜头组件用于捕获运动目标的光信号并将所述光信号缩束并分光，从而形成第一光束以及第二光束；瞄准成像系统用于接收第二光束以生成目标视场图像运动信息；总控制器用于获取目标视场图像运动信息，从而根据目标视场图像运动信息控制光谱探测系统工作，以使接受第一光束的光谱探测系统在总控制器的控制下生成目标光谱信息。本发明的运动目标光谱跟踪测量遥感系统根据目标视场图像运动信息获取运动中的目标光谱信息，从而能够对快速运动目标的光谱进行跟踪测量。
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公开(公告)号：CN111595458B
公开(公告)日：2021-04-30
申请号：CN202010507683.5
申请日：2020-06-05
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明涉及一种红外热像仪辐射定标方法、装置、设备、系统和计算机可存储介质，其中方法包括以下步骤：获取同一曝光时间下不同黑体温度对应的红外热像仪响应电荷数，再通过调整曝光时间获取各个曝光时间下不同黑体温度对应的红外热像仪响应电荷数；对各个曝光时间下同一黑体温度对应的红外热像仪响应电荷数进行拟合，得到当前黑体温度对应的电荷通量密度，进而获得不同黑体温度对应的电荷通量密度；对所述不同黑体温度对应的电荷通量密度进行拟合，得到辐射定标系数。本发明获得的辐射定标系数不再依赖于红外热像仪的曝光时间，同时在定标过程中采取全像元定标，消除了测量前的非均匀校正准备工作，大大减小的测量的前期准备时间。
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公开(公告)号：CN109612942B
公开(公告)日：2021-04-16
申请号：CN201910007001.1
申请日：2019-01-04
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N21/21
Abstract: 本发明涉及一种椭偏仪以及基于该椭偏仪的检测方法，所述椭偏仪的一实施方式包括：激光器发出激光，激光由声光调制器进行调制之后进入第一会聚透镜，第一会聚透镜将激光聚焦后，激光由准直透镜准直成平行光进入贝塞尔光束转换器；贝塞尔光束转换器将激光转换为贝塞尔光束之后送入起偏器，起偏器出射的线偏振贝塞尔光束透过第一半透半反镜并经过高数值孔径透镜照射在待检测物品；待检测物品反射的激光经过高数值孔径透镜后由第一半透半反镜反射到第二半透半反镜，激光透过第二半透半反镜之后进入检偏器，检偏器出射的激光照射到第一感光单元；第一感光单元获取激光光强以确定椭偏参数信息。该实施方式能够并行探测不同反射角、方位角的偏振特性。
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公开(公告)号：CN111667519A
公开(公告)日：2020-09-15
申请号：CN202010506431.0
申请日：2020-06-05
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明涉及一种不同视场偏振图像配准方法、装置、设备、系统和计算机可存储介质，其中方法包括以下步骤：对不同视场和不同波段获取的对应旋转偏振方向的红外辐射图像进行配准；基于配准后的红外辐射图像计算不同波段的红外偏振信息图像并进行配准；对配准后的不同波段的红外偏振信息图像进行融合得到融合图像，并基于该融合图像进行目标识别。本发明提供了一种基于辐射图像配准的不同视场偏振图像配准方法，可以克服目标在不同波段范围红外偏振特性的差异性及不同视场探测器偏振信息融合可能引入的偏振信息误差，提高了基于目标边缘轮廓偏振特征的识别准确性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111609937A
公开(公告)日：2020-09-01
申请号：CN202010511198.5
申请日：2020-06-08
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明涉及一种红外热像仪外场标定方法及装置、计算机设备、计算机可读存储介质，该方法包括如下步骤：根据外场的环境温度，确定采集标定数据使用的积分时间下限值和积分时间上限值；确定采集标定数据使用的温度下限点和温度上限点；设置红外热像仪的相机积分时间为积分时间下限值，分别采集并保存温度下限点和温度上限点对应输出图像，以及改变相机积分时间为积分时间上限值，采集并保存环境温度对应输出图像；根据保存的图像的灰度求解红外热像仪的响应率、杂散辐射引起的偏置和红外热像仪暗电流引起的偏置；根据涵盖积分时间变量的标定公式得到标定曲线并输出，完成标定。本发明能够实现外场条件下适用一定范围内任意积分时间的快速标定。
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公开(公告)号：CN109870239B
公开(公告)日：2020-04-07
申请号：CN201910183788.7
申请日：2019-03-12
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明涉及一种非制冷红外焦平面探测器自适应定标方法，包括：基于不同目标温度的标准黑体辐射源，在不同环境温度下通过非制冷红外焦平面探测器采集标准黑体辐射源图像，并根据标准黑体辐射源图像计算获得定标曲线；采集非制冷红外焦平面探测器的当前环境温度，并根据所述定标曲线计算当前视场内最高目标温度；使进入当前视场的金属挡片达到所述最高目标温度，再通过非制冷红外焦平面探测器采集金属挡片图像；根据标准黑体辐射源图像与金属挡片图像计算获得校正参数，再根据校正参数对所述定标曲线进行校正，完成定标。本发明在环境及场景发生较大变化时，仍能保证较高的定标精度，从而可使定标后的非制冷红外焦平面探测器具备定量测温能力。
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公开(公告)号：CN109932341A
公开(公告)日：2019-06-25
申请号：CN201910178761.9
申请日：2019-03-11
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明涉及一种野外环境下典型目标的双向反射分布函数测量方法，包括在野外环境的不同观测几何条件下采用成像探测系统测量待测典型目标和标准板的自然光照射反射辐射强度；同时基于大气辐射传输模型计算野外环境的待测典型目标和标准板的天空漫射光反射辐射强度；再根据自然光照射反射辐射强度和天空漫射光反射辐射强度对应获得待测典型目标和标准板的太阳直射光反射辐射强度；再根据比较测量法计算获得待测典型目标的双向反射比，根据所述双向反射比与双向反射分布函数模型之间的关系，获得待测典型目标的BRDF值。本发明能够有效降低天空漫射光对典型目标BRDF值测量所产生的影响，从而提高不同气候条件下典型目标的BRDF测量精度。
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公开(公告)号：CN109632102A
公开(公告)日：2019-04-16
申请号：CN201910141102.8
申请日：2019-02-26
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01J4/00
CPC classification number: G01J4/00
Abstract: 本发明涉及一种基于旋转偏振片的红外偏振成像测量装置，包括红外光学镜头、多方向起偏单元、红外焦平面探测器和控制单元，所述红外光学镜头对目标场景的偏振光进行调整获得探测光束；多方向起偏单元通过改变对探测光束的起偏方向，获得不同起偏方向偏振光束；红外焦平面探测器对不同起偏方向偏振光束成像，获得不同起偏方向偏振光束的红外强度图像并输出；所述控制单元用于控制多方向起偏单元顺序变换起偏方向，使红外焦平面探测器能够以预定帧速率获得对应于顺序变换起偏方向的不同起偏方向偏振光束的红外强度图像。本发明可用于运动或变化目标场景的测量。
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公开(公告)号：CN109612942A
公开(公告)日：2019-04-12
申请号：CN201910007001.1
申请日：2019-01-04
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N21/21
Abstract: 本发明涉及一种椭偏仪以及基于该椭偏仪的检测方法，所述椭偏仪的一实施方式包括：激光器发出激光，激光由声光调制器进行调制之后进入第一会聚透镜，第一会聚透镜将激光聚焦后，激光由准直透镜准直成平行光进入贝塞尔光束转换器；贝塞尔光束转换器将激光转换为贝塞尔光束之后送入起偏器，起偏器出射的线偏振贝塞尔光束透过第一半透半反镜并经过高数值孔径透镜照射在待检测物品；待检测物品反射的激光经过高数值孔径透镜后由第一半透半反镜反射到第二半透半反镜，激光透过第二半透半反镜之后进入检偏器，检偏器出射的激光照射到第一感光单元；第一感光单元获取激光光强以确定椭偏参数信息。该实施方式能够并行探测不同反射角、方位角的偏振特性。
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