芯片引脚注入波形标定方法及装置

    公开(公告)号:CN116973829A

    公开(公告)日:2023-10-31

    申请号:CN202311205203.X

    申请日:2023-09-19

    Abstract: 本申请提供一种芯片引脚注入波形标定方法及装置,属于芯片电磁兼容测试领域。所述方法包括:获取被测芯片引脚的信号衰减曲线;以相同的采样频率测量获取第一波形;根据所述信号衰减曲线和第一波形进行傅里叶变换和反变换计算芯片引脚的注入波形。通过获取的信号衰减曲线和具有相同频率的第一波形计算得到芯片引脚的注入波形,实现芯片引脚注入波形的标定,从而实现对芯片引脚干扰能量的精确注入,从而进一步用于不同特征的干扰波形对芯片引脚的失效研究中,获取芯片敏感的干扰波形。

    瞬态电磁干扰注入装置、瞬态电磁干扰试验系统和方法

    公开(公告)号:CN116298653A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202310586457.4

    申请日:2023-05-24

    Abstract: 本发明提供一种瞬态电磁干扰注入装置、瞬态电磁干扰试验系统和方法,属于电磁干扰技术领域。瞬态电磁干扰注入装置包括:控制设备、有界波模拟器以及干扰信号耦合线;所述控制设备与所述有界波模拟器连接,用于控制所述有界波模拟器产生模拟电磁场;所述干扰信号耦合线设置在所述有界波模拟器的两极板的平行板段之间,且平行于所述有界波模拟器的平行板段产生的电场,用于将感应到的电磁场耦合成电磁干扰信号。该瞬态电磁干扰注入装置采用有界波模拟器作为干扰源,采用干扰信号耦合线将感应到的电磁场耦合成电磁干扰信号,以传导的形式将瞬态电磁干扰注入到待测设备的端口,能更接近设备实际应用过程中面临的严酷电磁环境。

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