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公开(公告)号：CN104678339B
公开(公告)日：2017-05-17
申请号：CN201510072783.9
申请日：2015-02-11
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明公开一种用于探针式微波电压测量系统的校准装置，该装置包括微波信号输入端、微波信号输出端，所述该装置还包括标准微带线、探针负极触盘、探针负极触点、探针正极触点、探针定位支架；所述标准微带线，用于传输由微波信号输入端输入的微波信号；所述微波信号输出端，用于输出来自标准微带线的微波信号；所述探针负极触盘采用切角设计；所述探针负极触点、探针正极触点和所述探针定位支架点，用于对探针进行定位。本发明所述技术方案，基于电路并联等压原理，可以将微波电压校准结果溯源到50Ω系统的功率参数，适用于任意非零阻抗探针式微波电压测量系统的校准，能够提高非50Ω微波电压测量系统的准确性。
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公开(公告)号：CN105486952A
公开(公告)日：2016-04-13
申请号：CN201510956174.X
申请日：2015-12-17
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/00
CPC classification number: G01R31/00
Abstract: 本申请公开了一种暗室反射特性的测量方法和设备，包括：控制发射天线向暗室铺设吸波材料的墙面发射第一电磁波信号，并控制接收天线接收所述墙面反射的第一反射信号；调整所述发射天线与所述接收天线的位置，使得所述发射天线与所述接收天线位置相对，且所述发射天线与所述接收天线之间的距离满足设定第二数值；控制所述发射天线向所述接收天线发射第二电磁波信号，并控制所述接收天线接收所述第二电磁波信号；根据所述第一反射信号和所述第二电磁波信号，测量得到所述暗室的反射特性，所述反射特性表征所述吸波材料对电磁波信号的反射损耗，能够有效避免由于金属板在反射电磁波信号时出现的散射，提高了测量暗室反射特性的准确性。
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公开(公告)号：CN103116081B
公开(公告)日：2015-05-13
申请号：CN201210593067.1
申请日：2012-12-31
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/02
Abstract: 本发明公开了一种脉冲电流的校准方法，该校准方法包括如下步骤：脉冲电流源(1)输出的脉冲电流经衰减器(2)、示波器(3)、地和匹配电阻(4)形成闭合的电流回路；通过衰减器(2)使示波器(3)的输入电压衰减；通过示波器(3)显示的波形与所述脉冲电流的对应关系获得所述脉冲电流的特征参数。通过调节衰减器(2)的衰减比能够调节示波器(3)显示的波形与所述脉冲电流的对应关系。所述校准方法能够校准脉冲电流源产生的脉冲电流，获得脉冲电流的脉冲幅度、脉冲上升时间、脉冲下降时间和脉冲宽度等特征参数。
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公开(公告)号：CN108020802B
公开(公告)日：2021-03-19
申请号：CN201711148056.1
申请日：2017-11-17
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明公开了一种电场探头校准方法和装置，解决现有方法和装置校准频率范围小、校准稳定性差、时间长、无法大批量校准的问题。所述方法，包括：在同心锥TEM室馈电处注入输入信号，产生校准电场；根据被校准场探头频率范围确定校准点；根据校准点频率，在校准电场的场均匀区域内放入标准场探头，得到标准场强；在相同位置放入被校准场探头，记录场强指示值；计算所述校准点的频率响应偏差和频率响应修正因子。所述装置包含：同心锥TEM室、信号源、功率计、定向耦合器、被校场探头，信号源产生校准点频率值的输入信号；定向耦合器接收输入信号并传给同心锥TEM室；同心锥TEM室产生校准电场。本发明实现了电场探头的大频率范围、快速校准问题。
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公开(公告)号：CN110967562A
公开(公告)日：2020-04-07
申请号：CN201911182877.6
申请日：2019-11-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种辐射敏感度试验场均匀域测量方法及装置。所述方法包括以下步骤：将电场传感器布置在第1个测试点；向所述电场传感器输入测试信号，直到所述电场传感器显示场强等于指定场强；保持所述信号频率不变，依次将所述电场传感器布置在第1个测试点四周的第2至N个测试点；计算所述电场传感器在所述第2至N个测试点显示的场强与所述指定场强的差值；调整所述第2至N个测试点与所述第1个测试点的间距，重复前述步骤，直到所述差值小于或等于指定差值。所述装置包括信号源、功率放大器、天线、电场感应单元、金属接地平板。本申请实现准确测量和确定符合均匀域要求的辐射敏感度试验场。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107765204B
公开(公告)日：2019-12-27
申请号：CN201710840973.X
申请日：2017-09-18
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种电流探头校准夹具，包括N型接头、侧面板、顶面板、中心导体和匹配段导体；所述匹配段导体包括匹配段外导体和匹配段内导体，所述匹配段外导体固定在所述侧面板外侧中央，所述匹配段内导体位于所述匹配段外导体内部中心；所述中心导体位于夹具中心，与所述匹配段内导体可拆卸同轴连接；所述顶面板垂直可拆卸连接在侧面板内侧边缘，与侧面板共同构成夹具框架；N型接头固定连接在所述匹配段外导体上，用于接收标准电流信号；所述校准夹具为对称结构，两侧采用相同结构。本发明解决了传统夹具结构无法满足环形闭合电流探头校准需求，适用于不同尺寸的探头，具有良好的通用性，提高电流探头校准工作的效率。
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公开(公告)号：CN105486952B
公开(公告)日：2018-07-17
申请号：CN201510956174.X
申请日：2015-12-17
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本申请公开了一种暗室反射特性的测量方法和设备，包括：控制发射天线向暗室铺设吸波材料的墙面发射第一电磁波信号，并控制接收天线接收所述墙面反射的第一反射信号；调整所述发射天线与所述接收天线的位置，使得所述发射天线与所述接收天线位置相对，且所述发射天线与所述接收天线之间的距离满足设定第二数值；控制所述发射天线向所述接收天线发射第二电磁波信号，并控制所述接收天线接收所述第二电磁波信号；根据所述第一反射信号和所述第二电磁波信号，测量得到所述暗室的反射特性，所述反射特性表征所述吸波材料对电磁波信号的反射损耗，能够有效避免由于金属板在反射电磁波信号时出现的散射，提高了测量暗室反射特性的准确性。
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公开(公告)号：CN106443207A
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201610964124.0
申请日：2016-10-28
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/08
CPC classification number: G01R29/0821
Abstract: 本申请公开了一种同心锥形横电磁波室的终端负载，解决测试区电磁场不均匀的问题。本申请实施例提供一种终端负载，用于同心锥形横电磁波室，所述同心锥形横电磁波室的传输段包含内导体和外导体，所述终端负载的形状为锥台，所述锥台的上底半径与所述传输段的内导体末端半径相同，下底半径与所述传输段的外导体末端半径相同，锥台角度为布儒斯特角；所述终端负载包含基底和涂层；所述基底为泡沫材料，所述涂层为吸波材料。本发明实施例还提供一种同心锥形横电磁波室，包含本发明任意一项实施例所述终端负载，所述涂层和所述内导体、外导体紧密接触。本发明在宽频范围内有效地减少场辐射反射，从而确保腔体的场均匀性。
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公开(公告)号：CN105572484A
公开(公告)日：2016-05-11
申请号：CN201510955490.5
申请日：2015-12-17
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/08
CPC classification number: G01R29/08
Abstract: 本发明公开了一种TEM室阻抗匹配方法和装置，能够实现在TEM室工作频段范围内，全频段内驻波小的要求。本发明所述装置包含内导体和外导体，其中，所述内导体的母线形状和/或所述外导体的母线形状为带斜率的指数渐变线。本发明所述方法包含以下步骤：建立阻抗匹配装置结构参数化模型；设置阻抗匹配装置的边界条件和材料参数，调整内、外导体斜率和指数项系数，内、外导体不连续面之间的距离，对电磁场进行仿真计算，以S参数为优化目标，直至得出最佳系数和最佳距离。本发明使得电磁波在TEM室里传输过程中回波少，能量损失少，驻波在工作频段内小于1.2。
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公开(公告)号：CN104569888A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201410816020.6
申请日：2014-12-24
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明公开一种利用微带线法校准近场探头修正因子的系统及方法，该系统包括：置于微带线基板的微带线、可调信号源、频谱分析仪、近场探头和负载终端以及与频谱分析仪连接的数据处理单元；近场探头置于微带线上方，用于探测可调信号源经微带线向负载终端发送的信号；频谱分析仪用于连接微带线并测量可调信号源经微带线发送至频谱分析仪的信号的电压值；频谱分析仪还用于连接近场探头并测量近场探头探测得到的信号的电压值。本发明所述技术方案，采用与实际测试相近微带线产生的近场，校准出各校准频率点下近场探头的修正因子，为利用校准的修正因子去修正测试中的微带线辐射场做好准备，提高测量数据的准确性。
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