公开(公告)号：CN114609728A

公开(公告)日：2022-06-10

申请号：CN202210232474.3

申请日：2022-03-08

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 朱爱军 ,  宋磊 ,  胡聪 ,  牛军浩 ,  万春霆 ,  许川佩

IPC: G02B6/293

Abstract: 本发明提供了一种基于微环谐振器的全光二进制比较器，利用微环谐振器对光的波长具有选择性的特点以构成光开关，将3个微环谐振器且与光波导合理组合，以实现由光学原理控制的两个二进制数比较，即实现了传统数字电路中的二进制比较运算。该二进制全光比较器利用微环谐振器代替传统的电学逻辑器件，避免了传统电学器件易受噪声信号的影响，结合光学传播特点实现了高速、低功耗的计算机信息处理功能；工艺方面实现了与CMOS工艺的兼容，使得器件的体积小，速度快，扩展性好以及低插入损耗特性，便于与其他器件的大规模集成。

公开(公告)号：CN114707099A

公开(公告)日：2022-07-05

申请号：CN202210258942.4

申请日：2022-03-08

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 朱爱军 ,  宋磊 ,  胡聪 ,  牛军浩 ,  万春霆 ,  许川佩

IPC: G06F17/10 ,  G02F3/00

Abstract: 本发明提出了一种二进制全光比较器的双故障误差计算方法，该方法主要涉及光片上网络领域，具体在基于微环谐振器(MRR)的逻辑计算电路中，主要用于分析和计算由两个MRR故障而引起的误差。该方法包括，获取无故障模型装置的正确输出结果和双故障模型装置的错误输出结果，比较每一位正确输出结果和每一位错误输出结果之间的关系，计算正确输出结果和错误输出结果之间的位翻转误差、最大位翻转误差以及整个逻辑计算电路的误差概率。本发明实施例用于由n个MRR构成的逻辑计算电路在实际生产和使用过程中因双故障而引发的误差计算，具体以由3个MRR构成的二进制全光比较器的双故障模拟装置为例进行实施。