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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102187207B
公开(公告)日：2014-04-02
申请号：CN200980141289.6
申请日：2009-10-19
Applicant: 佳能株式会社
IPC: G01N23/04
CPC classification number: G01N23/046 , A61B6/032 , A61B6/484 , G01N2223/419 , G01T1/00 , G21K2207/005
Abstract: 用于获得关于由被检体导致的X射线的相位偏移的信息的X射线成像装置包括：分离元件，用于将从X射线产生器单元发射的X射线在空间上分离成X射线束；衰减器单元，具有用于接收被分离元件分离的X射线束的衰减元件的布置；以及强度检测器单元，用于检测被衰减器单元衰减的X射线束的强度；并且衰减元件依赖于该元件上的X射线入射位置连续改变X射线的透射量。
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公开(公告)号：CN101960298B
公开(公告)日：2013-01-16
申请号：CN200980108149.9
申请日：2009-03-11
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: G21K1/10 , A61B6/484 , G01N23/046 , G01N23/06 , G01N23/20 , G01N2223/419 , G21K2207/005
Abstract: 一种简化的X射线成像装置即使对于轻元素也能够以小的误差因数计算确定有效原子序数。X射线成像装置具有用于产生X射线的X射线产生单元101(400)和用于检测透过被检体104(403)的X射线的检测器105(405)。计算单元106(406)从由检测器检测的数据计算确定可归因于被检体的X射线相位的量和被检体的X射线透射率。计算单元还从由X射线相位的量确定的ρet和由X射线透射率确定的μt计算确定被检体的有效原子序数。
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公开(公告)号：CN102472823A
公开(公告)日：2012-05-23
申请号：CN201080032288.0
申请日：2010-07-23
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: G01T1/202 , G01N23/223 , G01N2223/076 , G01T1/1641
Abstract: 提供X射线成像设备和用于X射线成像设备的X射线成像方法。X射线成像设备包括被配置为空间分离由X射线产生器单元产生的X射线的分离元件和包含布置于其中的多个第一闪烁体的闪烁体阵列，这里，使得分离的X射线入射到第一闪烁体上。第一闪烁体中的每一个被配置为根据X射线的入射位置改变由X射线引起的荧光的强度。X射线成像设备还包括被配置为检测从闪烁体阵列发射的荧光的强度的检测器。
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公开(公告)号：CN101663762B
公开(公告)日：2011-09-21
申请号：CN200880012789.5
申请日：2008-04-23
Applicant: 佳能株式会社
IPC: H01L29/786 , H01L29/24
CPC classification number: H01L29/7869 , H01L29/247
Abstract: 本发明提供氧氮化物半导体，其包含金属氧氮化物。该金属氧氮化物含有Zn和选自In、Ga、Sn、Mg、Si、Ge、Y、Ti、Mo、W和Al中的至少一种元素。该金属氧氮化物具有7原子％-80原子％的N的原子组成比N/(N+O)。
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公开(公告)号：CN102187207A
公开(公告)日：2011-09-14
申请号：CN200980141289.6
申请日：2009-10-19
Applicant: 佳能株式会社
IPC: G01N23/04
CPC classification number: G01N23/046 , A61B6/032 , A61B6/484 , G01N2223/419 , G01T1/00 , G21K2207/005
Abstract: 用于获得关于由被检体导致的X射线的相位偏移的信息的X射线成像装置包括：分离元件，用于将从X射线产生器单元发射的X射线在空间上分离成X射线束；衰减器单元，具有用于接收被分离元件分离的X射线束的衰减元件的布置；以及强度检测器单元，用于检测被衰减器单元衰减的X射线束的强度；并且衰减元件依赖于该元件上的X射线入射位置连续改变X射线的透射量。
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