公开(公告)号：CN1751219A

公开(公告)日：2006-03-22

申请号：CN200480004385.3

申请日：2004-02-27

Applicant: OHT株式会社

Inventor： 山冈秀嗣 ,  涂冈明 ,  林美志夫 ,  石冈圣悟

IPC: G01B7/00 ,  G01R31/02

CPC classification number: G01B7/28

Abstract: 本发明的导电体状态检查装置，是在检查对象为导体的情况时，可依非接触且高精度地检测出检查对象的状态。在经从供电部供电着检查信号的检查对象导电体(520)附近，大致平行配设2片感测板(570、580)，利用感测板(570)的测定电平，检查相对向于感测板(570)的导电标志份形状，同时，将感测板(570、580)所产生的检测信号利用减法器(550)进行减法运算，并利用除法器(560)将其中一感测板所产生的检测值除以减法运算结果，而将其中一感测板所产生的检测值予以规格化，并检测出由二感测板所产生的相对检测信号值比率，将感测板与导电体(520)间的距离所对应的检测结果当作X而获得。