一种平面磨修量的测量装置

    公开(公告)号:CN218884926U

    公开(公告)日:2023-04-18

    申请号:CN202222823840.0

    申请日:2022-10-26

    Abstract: 本实用新型提供了一种平面磨修量的测量装置,包括:接触支架、至少两个柱体、安装架和数字测量探针;所述安装架设置于接触支架的一侧,且安装架与接触支架之间通过至少两个对称设置的柱体固定连接;所述数字测量探针包括壳体和探头,其中探头设置在壳体的一端,且探头能在壳体内伸缩移动;所述数字测量探针的壳体设置有探头的一端分别与安装架和接触支架固定连接,且当所述数字测量探针的探头处于自由状态时,所述探头的顶端从接触支架上的接触面伸出。应用本实用新型可以精确高效地测量出工件平面的磨修量。

Patent Agency Ranking